一种基于最小距离空间的彩色图像分形维数测量方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及遥感影像的纹理特征值测量方法
，尤其涉及多波段彩色影像分形维数的测量方法。
技术介绍
分形维数可以对基于简单规则迭代而成的复杂对象进行定量描述，盒子维是最常用的分形维数的测量方法，该算法的基本原理是利用一系列不同大小的测量单元对研究对象进行覆盖，再通过测量单元的大小与相应的覆盖数量之间的统计关系获取分形维数。利用传统差分盒子算法计算影像的分形维数时，首先在影像上建立纵向的盒维空间，再根据灰度值范围，计算灰度表面覆盖的盒子数，该方法仅限于对灰度影像的处理，不适用于多维空间的扩展。彩色影像的每个像元对应的不再是单个灰度值，而是三个色彩通道，按照传统灰度影像的处理方法，可以在三维空间分别根据三个色彩通道绘制出三层灰度表面，显然该种方法无法对三个通道的表面加以区分，无法准确描述影像特征。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决彩色影像分形维数的计算问题，提供一种基于最小距离空间的彩色图像分形维数测量方法。基于最小距离空间的彩色影像分形维数测量方法，包括如下步骤：1)根据彩色影像的像元值建立彩色表面S；2)根据设定的扩展半径R确定彩色表面对应的最小距离空间V，计算空间V中各个子单元的取值d；3)统计最小距离空间中不同尺度ri包含的子单元数量N(ri)；4)绘制logN(ri)-log(ri)散点图，利用最小二乘法求取线性回归方程，斜率即为分形维数D。上述方案中,各步骤可采用如下具体方法:所述的步骤1)具体包括：1.1)用I(x,y)表示二维空间里M×N大小的待测彩色影像中坐标为(x,y)的像素点，其中I(x,y)＝(r,g,b)，x＝1,2…M，y＝...
【技术保护点】
一种基于最小距离空间的彩色影像分形维数测量方法，其特征在于包括如下步骤：1)根据彩色影像的像元值建立彩色表面S；2)根据设定的扩展半径R确定彩色表面对应的最小距离空间V，计算空间V中各个子单元的取值d；3)统计最小距离空间中不同尺度ri包含的子单元数量N(ri)；4)绘制logN(ri)‑log(ri)散点图，利用最小二乘法求取线性回归方程，斜率即为分形维数D。
【技术特征摘要】
1.一种基于最小距离空间的彩色影像分形维数测量方法，其特征在于包括如下步骤：1)根据彩色影像的像元值建立彩色表面S；2)根据设定的扩展半径R确定彩色表面对应的最小距离空间V，计算空间V中各个子单元的取值d；3)统计最小距离空间中不同尺度ri包含的子单元数量N(ri)；4)绘制logN(ri)-log(ri)散点图，利用最小二乘法求取线性回归方程，斜率即为分形维数D。2.根据权利要求1所述的一种基于最小距离空间的彩色影像分形维数测量方法，其特征在于所述的步骤1)具体包括：1.1)用I(x,y)表示二维空间里M×N大小的待测彩色影像中坐标为(x,y)的像素点，其中I(x,y)＝(r,g,b)，x＝1,2…M，y＝1,2…N，r＝0,1…Lr，g＝0,1…Lg，b＝0,1…Lb，x,y为像素点在影像中的坐标，r,g,b分别为像素点在R、G、B波段上的像元值，Lr、Lg、Lb分别为像元值的最大值；1.2)以(x,y,r,g,b)为五个维度的数据值，获得影像的彩色表面...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘仁义，杜震洪，张丰，陈可欣，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33
- 暂无相关专利
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