显示屏均匀性测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种显示屏均匀性测试方法，包括：获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。本发明专利技术还公开了一种显示屏均匀性测试系统。本发明专利技术的技术方案旨在通过测试结果反映反映显示屏的均匀性分布情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示屏测试
，尤其涉及一种显示屏均匀性测试方法及显示屏均匀性测试系统。
技术介绍
显示屏常用作电视机或电脑等显示装置的显示部件，显示屏的亮度均匀性反应了显示屏均匀性的好坏。若显示屏均匀，则图像显示效果较好，反之，则显示效果较差。现有技术中，通常采用九点测试法检测显示屏的均匀性，即在显示屏上随机选取九个样点或模块进行亮度测试，由于样点或模块的选择具有随机性，并且样点选取数量有限，因此测试结果只能反映显示屏上的样点或者模块的像素值，或者全部样点或模块的像素值均值。上述技术方案的弊端是，测试结果不能反映显示屏的均匀性分布情况。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种显示屏均匀性测试方法，旨在通过测试结果反映显示屏的均匀性分布情况。为实现上述目的，本专利技术提供的显示屏均匀性测试方法，包括如下步骤：获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。优选地，所述获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：获取待测试显示屏的显示状态图像；对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；将所述降采样图像确定为所述初始图像；对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。优选地，所述对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；根据所述图像滤波模板，对所述初始图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。优选地，所述根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像，包括：获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。优选地，所述根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像之后，还包括：获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种显示屏均匀性测试系统，包括：处理模块，用于获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；对比图像生成模块，用于根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；均匀性图像生成模块，用于根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。优选地，所述处理模块包括：第一获取单元，用于获取待测试显示屏的显示状态图像；降采样单元，用于对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；确定单元，用于将所述降采样图像确定为所述初始图像；滤波单元，用于对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。优选地，所述滤波单元包括：获取子单元，用于获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；滤波子单元，用于根据所述图像滤波模板，对所述显示状态图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。优选地，所述对比图像生成模块包括：第二获取单元，用于获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；差异值计算单元，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；均值计算单元，用于根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；对比图像生成单元，用于根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。优选地，所述显示屏均匀性测试系统还包括：仿真模块，用于获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述初始图像的均匀性分布仿真图像。在本专利技术的技术方案中，所述对比图像是根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异生成的，所述对比图像上的每个像素点的像素值用于表征所述初始图像上对应像素点的像素值干扰值，因此，根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异生成的所述均匀性分布图像，是排除所有像素点的像素值干扰后的像素值分布图像，根据所述均匀性分布图像，能够了解所述待测试显示屏上的与所述初始图像对应的显示区域的均匀性分布情况。附图说明图1为本专利技术显示屏均匀性测试方法第一实施例的流程示意图；图2为本专利技术显示屏均匀性测试方法的显示状态图像；图3为本专利技术显示屏均匀性测试方法的对比图像；图4为本专利技术显示屏均匀性测试方法第二实施例的流程示意图；图5为图3所示的显示状态图像经降采样处理后的降采样图像；图6为本专利技术显示屏均匀性测试方法第三实施例的流程示意图；图7为本专利技术显示屏均匀性测试方法的图像滤波模板；图8为本专利技术显示屏均匀性测试方法第四实施例的流程示意图；图9为本专利技术显示屏均匀性测试方法第五实施例的流程示意图；图10为本专利技术显示屏均匀性测试方法中的均匀性良好的显示屏；图11为图10所示的均匀性好的显示屏对应的均匀性分布图像；图12为图11所示的均匀性分布图像对应的均匀性分布仿真图像；图13为本专利技术显示屏均匀性测试方法中的均匀性不良的显示屏；图14为图13所示的均匀性不良的显示屏对应的均匀性分布仿真图像；图15为图14所示的均匀性分布仿真图像翻转图；图16为本专利技术显示屏均匀性测试系统第一实施例的功能模块示意图；图17为本专利技术显示屏均匀性测试系统第二实施例的功能模块示意图；图18为本专利技术显示屏均匀性测试系统第三实施例的功能模块示意图；图19为本专利技术显示屏均匀性测试系统第四实施例的功能模块示意图；图20为本专利技术显示屏均匀性测试系统第五实施例的功能模块示意图。本专利技术目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应在理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术提供一种显示屏均匀性测试方法。请参阅图1至图3，为实现上述目的，本专利技术的第一实施例提供一种显示屏均匀性测试方法，包括如下步骤：步骤S10，获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；步骤S20，根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示屏均匀性测试方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。

【技术特征摘要】
1.一种显示屏均匀性测试方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像；根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像；根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像。2.根据权利要求1所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述获取待测试显示屏的显示状态图像，将所述显示状态图像确定为初始图像，并对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：获取待测试显示屏的显示状态图像；对所述显示状态图像进行降采样处理，以生成降采样图像；将所述降采样图像确定为所述初始图像；对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像。3.根据权利要求2所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述对所述初始图像进行滤波处理以生成滤波图像，包括：获取预设的图像滤波模板，所述图像滤波模板的尺寸大于预设值；根据所述图像滤波模板，对所述初始图像进行滤波卷积处理以生成所述滤波图像。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述初始图像与所述滤波图像上的各个像素点的像素值差异，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的对比图像，包括：获取所述初始图像上的每个像素点的像素值，并获取所述滤波图像上的每个像素点的像素值；根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像上的每个像素点与所述滤波图像上的对应像素点的像素值差异；根据所述初始图像上的每个像素点的像素值和所述滤波图像上的每个像素点的像素值，计算所述初始图像与所述滤波图像的像素值均值；根据所述像素值差异与所述像素值均值的比值，生成用于表征所述初始图像的干扰像素值的所述对比图像。5.根据权利要求1所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述根据所述初始图像与所述对比图像上的各个像素点的像素值差异，生成所述初始图像的均匀性分布图像之后，还包括：获取所述均匀性分布图像上每个像素点的位置和像素值，根据所述均匀性分布图像的尺寸和所述均匀性分布图像上每个像素点的像素值，生成所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王甜甜，
申请(专利权)人：深圳TCL新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44