一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法技术

本发明专利技术公开了一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法。通过测量功率计某一波长下的修正系数，并结合测量功率计探测器光谱相应曲线，来获得不同波长下功率计的修正系数，使其能用于其相应范围内各种波长激光的功率准确测量。本发明专利技术的有益效果是：该项目研究成果为激光功率计使用单位提供一种获得不同光源下修正系数的方法，减少其在不同波长下的校准工作量，降低校准成本；避免了只能用于被校准波长的局限性，扩大激光功率计精准测量的工作范围；弥补了校准用激光源个数有限的不足，为新型波长激光源的准确测量提供了可能性，在激光功率精准测量领域具有重要意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利是一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法，主要用于计量检测领域和严格的精密测量领域。尤其是在激光功率准确度要求非常高的眼科激光、美容激光、军事激光和激光精密加工领域中，在对激光功率的测量过程中，激光功率计的校准测量非常重要。
技术介绍
激光功率计是用来测量激光源功率的仪器。在作精准测量之前，一般要到计量检测部门对功率计进行校准，以确保检测结果的准确性。通常是对某一波长的稳定激光源，用标准功率计测量值和被校准功率计测量值之比，作为被校准功率计的修正系数。用此被校功率计测量该波长的其他激光源功率时，测量结果应乘以修正系数，才可得到此激光源的标准功率值。激光功率计的探测器对不同波长激光的响应是不一样的，因此，在某一波长下校准所得到的修正系数，只能用于测量该波长激光源的功率测量。而用于多种波长激光测量的功率计，应该对多个波长进行校准，得出不同波长下的修正系数。而这很难做到，一方面是由于实验条件限制，一个激光源通常输出一到两种波长的激光，一般校准激光功率计的标准装置不可能配备很多个激光源。另一方面，也会对被校准仪器的委托方造成很大的经济负担。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术提供了一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法。通过测量功率计某一波长下的修正系数Kλm，并结合测量功率计探测器光谱相应曲线S(λ)，来获得不同波长下功率计的修正系数Kλn＝Kλm×S(λm)/S(λm)，使其能用于其相应范围内各种波长激光的功率准确测量。本专利技术的有益效果是：该项目研究成果为激光功率计使用单位提供一种获得不同光源下修正系数的方法，减少其在不同波长下的校准工作量，降低校准成本；避免了只能用于被校准波长的局限性，扩大激光功率计精准测量的工作范围；弥补了校准用激光源个数有限的不足，为新型波长激光源的准确测量提供了可能性，在激光功率精准测量领域具有重要意义。附图说明图1为激光功率计在特定波长下修正系数检测方法示意框图。(101.稳定激光源102.标准激光功率计103.被校准激光功率计)图2为激光功率计探测器光谱响应曲线的测量方法示意框图。(201.宽光谱稳定光源202.单色仪203.标准探测器204.被校准激光功率计探测器)图3为一种被校准激光功率计的探测器光谱响应曲线。具体实施方式1、如图1所示，测量同一稳定激光源，标准功率计示值与被校准的功率计示值相比，获得被校准功率计在该波长光源下的修正系数Kλm＝Pλm标准功率值/Pλm被校准功率计示值；2、如图2所示，宽光谱稳定光源经过单色仪输出不同波长单色光，分别测量标准探测器与被校准功率计的探测器在不同波长下的输出电流值，获得被校准功率计探测器在不同波长下的光谱响应曲线S(λ)＝I(λ)被校输出电流/I(λ)标准输出电流；3、在如图3所示的光谱响应曲线上找到第1步中已测波长点λm，则该激光功率计在其他波长下的修正系数Kλn＝Kλm×S(λm)/S(λn)。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法，包括：(1)测量同一稳定激光源，标准功率计示值与被校准的功率计示值相比，获得被校准功率计在该波长光源下的修正系数Kλm＝Pλm 标准功率值/Pλm 被校准功率计示值；(2)宽光谱稳定光源经过单色仪输出不同波长单色光，测量标准探测器与被校准功率计的探测器不同波长下的输出电流值，获得被校准功率计探测器在不同波长下的相对光谱响应曲线S(λ)＝I(λ)被校输出电流/I(λ)标准输出电流；(3)该激光功率计在其他波长下的修正系数Kλn＝Kλm×S(λm)/S(λn)。

【技术特征摘要】
1.一种获得激光功率计不同波长修正系数的方法，包括：(1)测量同一稳定激光源，标准功率计示值与被校准的功率计示值相比，获得被校准功率计在该波长光源下的修正系数Kλm＝Pλm标准功率值/Pλm被校准功率计示值；(2)宽光谱稳定光源经过单色仪输出不同波长单...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾亚青，孙向林，张建亮，崔磊，
申请(专利权)人：北京市计量检测科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11