雷达罩测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种雷达罩测试系统，包括设置于水平工作面的扫描方位转台，所述的扫描方位转台上通过支撑臂连接有雷达扫描机构；所述的支撑臂包括转台支撑臂和雷达支撑臂；所述的转台支撑臂设置于扫描方位转台上部，所述的转台支撑臂上表面具有俯仰圆弧轨道，所述的俯仰圆弧轨道同雷达支撑臂底部的俯仰滑动台滑动配合，使雷达支撑臂能够相对转台支撑臂圆弧曲面移动。本发明专利技术所述的雷达罩测试系统，避免了传统雷达罩支撑臂以及俯仰轴对雷达罩测试效果的干扰影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种雷达罩测试转台装置。
技术介绍
在雷达周边设备中，雷达罩是电磁波的窗口，是对雷达性能影响最为直接的，雷达罩电磁性能的好坏直接关系到雷达系统实际性能的发挥，雷达罩与天线同等重要。要求雷达罩对天线的电磁辐射特性的影响最小，并且满足战术技术指标的要求。雷达罩技术综合了材料、工艺、机械、电磁、空气动力学和结构力学等学科的知识，设计和制造难度较大，尤其电磁性能测试过程最为复杂，一般采用多自由度测试系统在远场或者紧缩场环境下进行测试，具体电磁性能指标包括透波率、方向图、瞄准误差等。由于雷达罩工作在一种复杂的特殊环境中，雷达罩电性能测试是一个复杂的过程，包括方向图、透波率、瞄准误差等技术指标，涉及到空间多轴、多自由度的运动，一般使用专用的转台进行测试，其转台应满足雷达罩测试的运动要求。雷达罩测试转台通常会设置有一个竖立的雷达罩支撑臂结构，用以支撑雷达罩的俯仰运动轴，同时还设置有独立的雷达天线支撑臂，用以安装雷达天线系统，两部分配合运动以满足雷达罩测试运动要求。一般来说，在天线测试中天线的左右两侧是干扰敏感区域，如图6所示，图中传统雷达罩安装框F两侧的圆虚线区域即为干扰敏感区域。如图7和图8所示，图中传统雷达罩安装框F两侧的圆虚线区域即为干扰敏感区域，现有的雷达罩测试系统中，在扫描水平面上，其竖立的传统雷达罩支撑臂及其俯仰轴结构C，正好处于这个敏感区域内，甚至在一定角度范围内从电磁波来波方向来看，传统雷达罩支撑臂或者俯仰轴结构超前于天线罩，并且结构尺寸可观、过于靠近天线罩，不论是在室外远场，或者是经过屏蔽处理后在室内暗室测试，其测试得到的方向图会因为雷达罩支撑臂对电磁波反射以及散射的干扰，导致方向图对应在雷达罩支撑臂所在区域范围内出现副瓣抬高的现象。在带有雷达罩支撑臂结构的雷达罩测试系统中，雷达罩支撑臂在雷达罩体的右侧，右边副瓣会有明显抬升，左右副瓣不对称，测试结果失真，如图9所示。同时，由于缺乏雷达罩独立的方位调节运动，当雷达指向雷达罩的斜角区域时，现有测试系统的测试扫描平面A和雷达H面B并不重合，如图10到图12所示。
技术实现思路
根据上述提出的技术问题，而提供一种雷达罩测试系统，用于解决现有的雷达罩测试系统，具有的雷达罩支撑臂会干扰到雷达罩的测试效果，并且达不到测试扫描平面和雷达H面重合的缺点。本专利技术采用的技术手段如下：一种雷达罩测试系统，包括设置于水平工作面的扫描方位转台，所述的扫描方位转台上通过支撑臂连接有雷达扫描机构；所述的支撑臂包括转台支撑臂和雷达支撑臂；所述的转台支撑臂设置于扫描方位转台上部，所述的转台支撑臂上表面具有俯仰圆弧轨道，所述的俯仰圆弧轨道同雷达支撑臂底部的俯仰滑动台滑动配合，使雷达支撑臂能够相对转台支撑臂圆弧曲面移动；在雷达测试过程中，雷达支撑臂位于雷达罩安装框和机扫雷达天线的后部，雷达天线的左右两侧的干扰敏感区域都是净空，无遮挡物。作为优选所述的雷达扫描机构设置于雷达支撑臂顶部的雷达支撑架上；所述的雷达扫描机构包括：通过雷达罩方位轴同雷达支撑架的上下两端转动连接的雷达罩安装框、雷达罩、机扫雷达天线、雷达罩极化轴、雷达罩横滚转动环和雷达天线安装台；所述的雷达罩安装框中心设置有雷达天线安装台，所述的机扫雷达天线安装于雷达天线安装台上；所述的雷达罩安装框的圆周框体上安装有雷达罩横滚转动环，所述的雷达罩安装于雷达罩横滚转动环。作为优选所述的雷达罩方位轴同雷达罩安装框之间设置有直线导轨，使雷达罩安装框能够在直线导轨上前后伸缩平移运动。作为优选所述的雷达天线安装台同雷达罩安装框之间设置有直线导轨，使雷达天线安装台能够在直线导轨上前后伸缩平移运动。作为优选所述的俯仰圆弧轨道以及同其配合滑动的俯仰滑动台设有一组以上。与现有技术相比较，本专利技术所述的雷达罩测试系统，支撑臂包括转台支撑臂和雷达支撑臂；转台支撑臂上表面具有俯仰圆弧轨道，俯仰圆弧轨道同雷达支撑臂底部的俯仰滑动台滑动配合，使雷达支撑臂能够相对转台支撑臂圆弧曲面移动；当雷达扫描机构扫描工作时，扫描平面高于转台支撑臂的顶部，且雷达支撑臂始终位于雷达罩安装框和机扫雷达天线的后部，雷达天线的左右两侧都是净空，干扰敏感区域无遮挡物，避免了传统雷达罩支撑臂以及俯仰轴对雷达罩测试效果的干扰影响，并且通过雷达罩方位轴同雷达支撑架的上下两端转动连接的雷达罩安装框，实现了雷达罩的方位调节，实现了扫描平面和雷达天线H平面的重合。本专利技术所述的雷达罩测试系统，采用俯仰圆弧轨道以及俯仰滑动台组合替代了现有技术方案中的俯仰轴以及天线罩支撑结构；俯仰圆弧轨道以及俯仰滑动台组合设置在扫描方位转台上，俯仰圆弧轨道的等效俯仰轴(虚轴)平行于地面。如此设置的技术优势在于避免了雷达罩支撑臂以及俯仰轴结构对测试产生干扰，并且在测试系统的前上方空间实现了净空环境，避免了结构遮挡以及结构散射电磁波的干扰，确保了测试结果的真实性。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。图1是本专利技术雷达罩测试系统具有雷达罩的结构示意图。图2是本专利技术雷达罩测试系统扫描示意图。图3是本专利技术雷达罩测试系统摘除雷达罩的示意图。图4是本专利技术雷达罩测试系统摘除雷达罩的侧视图。图5是本专利技术雷达罩测试系统摘除雷达罩的主视图(图中圆弧虚线区域为干扰敏感区域)。图6是现有技术中雷达罩测试系统的俯视图。图7是现有技术中雷达罩测试系统的结构示意图(图中箭头所示方向，即为电磁波来波方向)。图8是现有技术中雷达罩测试系统的侧视图(图中箭头所示方向，即为电磁波来波方向)。图9是现有技术天线方向图(图中横坐标单位是角度，纵坐标是dB)。图10是现有技术测试扫描平面和雷达H面第一效果图。图11是现有技术测试扫描平面和雷达H面第二效果图。图12是现有技术测试扫描平面和雷达H面第三效果图。其中：1、扫描方位转台，2、转台支撑臂、3、俯仰圆弧轨道，4、雷达支撑臂，5、俯仰滑动台，6、雷达支撑架，7、雷达罩安装框，8、雷达罩，9、机扫雷达天线，10、雷达罩极化轴，11、雷达罩横滚转动环，12、雷达天线安装台，13、扫描平面，14、雷达天线H平面；A为测试扫描平面、B为雷达H面、C为传统雷达罩支撑臂及其俯仰轴结构、D为传统扫描方位转台、E为传统接受天线、F为传统雷达罩安装框。具体实施方式如图1到图5所示，一种雷达罩测试系统，包括设置于水平工作面的扫描方位转台1，所述的扫描方位转台1上通过支撑臂连接有雷达扫描机构。所述的支撑臂包括转台支撑臂2和雷达支撑臂4；所述的雷达扫描机构设置于雷达支撑臂4顶部的雷达支撑架6上；所述的雷达扫描机构包括：通过雷达罩方位轴同雷达支撑架6的上下两端转动连接的雷达罩安装框7、雷达罩8、机扫雷达天线9、雷达罩极化轴10、雷达罩横滚转动环11和雷达天线安装台12；所述的雷达罩安装框7中心设置有雷达天线安装台12，所述的机扫雷达天线9安装于雷达天线安装台12上。雷达天线安装台12通过机械结构设置在雷达罩安装框7后方，是机扫雷达天线9的主要承力构件；雷达罩安装框7带动雷达天线安装台12一同进行俯仰、方位运动。所述的雷达罩安装框7的圆周框体上安装有雷达罩横滚转动环11，所述的雷达罩8安装于雷达罩横滚转动环11，所述的雷达罩横滚转动环11通过雷达罩横滚电机驱动转动调节。所述的雷达罩8及其工装能够本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种雷达罩测试系统，包括设置于水平工作面的扫描方位转台(1)，所述的扫描方位转台(1)上通过支撑臂连接有雷达扫描机构；其特征在于：所述的支撑臂包括转台支撑臂(2)和雷达支撑臂(4)；所述的转台支撑臂(2)设置于扫描方位转台(1)上部，所述的转台支撑臂(2)上表面具有俯仰圆弧轨道(3)，所述的俯仰圆弧轨道(3)同雷达支撑臂(4)底部的俯仰滑动台(5)滑动配合，使雷达支撑臂(4)能够相对转台支撑臂(2)圆弧曲面移动；在雷达测试过程中，雷达支撑臂(4)位于雷达罩安装框(7)和机扫雷达天线(9)的后部。

【技术特征摘要】
1.一种雷达罩测试系统，包括设置于水平工作面的扫描方位转台(1)，所述的扫描方位转台(1)上通过支撑臂连接有雷达扫描机构；其特征在于：所述的支撑臂包括转台支撑臂(2)和雷达支撑臂(4)；所述的转台支撑臂(2)设置于扫描方位转台(1)上部，所述的转台支撑臂(2)上表面具有俯仰圆弧轨道(3)，所述的俯仰圆弧轨道(3)同雷达支撑臂(4)底部的俯仰滑动台(5)滑动配合，使雷达支撑臂(4)能够相对转台支撑臂(2)圆弧曲面移动；在雷达测试过程中，雷达支撑臂(4)位于雷达罩安装框(7)和机扫雷达天线(9)的后部。2.根据权利要求1所述的雷达罩测试系统，其特征在于：所述的雷达扫描机构设置于雷达支撑臂(4)顶部的雷达支撑架(6)上；所述的雷达扫描机构包括：通过雷达罩方位轴同雷达支撑架(6)的上下两端转动连接的雷达罩安装框(7)、雷达罩(8)、机扫雷达天线(9)、雷达罩极化...

【专利技术属性】
技术研发人员：周冬柏，董艳春，
申请(专利权)人：大连东信微波技术有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21