【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】交叉引用本申请要求2013年6月25日提交的申请号为61/858,445的美国临时专利申请的优先权,其与下述专利申请有关:于2008年3月3日提交的序号为12/048,182的题目为“METHODANDAPPARATUSFORCREATINGINCISIONSTOIMPROVEINTRAOCULARLENSPLACEMENT”的美国专利申请,200年3月13日提交的序号为12/048,186的题目为“METHODANDAPPARATUSFORCREATINGOCULARSURGICALANDRELAXINGINCISIONS”的美国专利申请以及2012年11月2日提交的序号为61/722,064的题目为“LASEREYESURGERYSYSTEMCALIBRATION”的美国专利申请,这些专利申请的整体通过引用被结合于本文。据此明确地保留完整的巴黎公约优先权。
技术介绍
本公开一般地涉及通过脉冲激光束诱发的光致破裂和对光致破裂的定位以便处置物质(诸如眼睛的组织)。尽管是对定位用于光致破裂的(多个)目标部位以及切削组织以用于外科手术(诸如眼外科手术)做出具体参考,但如本文中描述的实施例可以与许多物质一起按照许多方式被使用,以处置许多物质中的一种或多种,诸如切削光学透明物质。可以利用凿子、小刀、手术刀和其他工具(诸如外科手术工具)机械地完成物质的切削。然而,现有的切削方法和装置至少在一些情形中可能是不太合意的以及提供不太理想的结果。例如,至少一些现有的用于切削物质(诸如组织)的方法和装置可以提供比将是理想的表面稍微更粗糙的表面。脉冲激 ...
【技术保护点】
一种确定物质的折射率的方法,所述方法包括:沿着射束路径将光聚焦到焦点,所述焦点在所述物质内具有位置;响应于所述焦点在所述物质内的位置来确定所述物质的折射率。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.07.25 US 61/8584451.一种确定物质的折射率的方法,所述方法包括:
沿着射束路径将光聚焦到焦点,所述焦点在所述物质内具有位置;
响应于所述焦点在所述物质内的位置来确定所述物质的折射率。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述物质包括邻近于具有第二折射率的第二物质的表面,所述第一折射率不同于所述第二折射率,以及其中所述射束路径延伸从所述表面到所述焦点的距离,以及其中响应于从所述表面到所述焦点的所述距离来确定所述折射率。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述物质包括目标物质,所述方法进一步包括:
用聚焦光的光学干涉信号来确定所述射束路径的位置以及其中响应于所述光学干涉信号的峰值强度的位置来确定所述位置。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述目标物质包括患者眼睛的光学透射性组织结构。
5.根据权利要求4所述的方法,其中所述眼睛的光学透射性组织结构包括如下中的一个或多个:泪膜、角膜、房水、晶状体、前部晶状体囊、晶状体皮质、晶状体皮质的前部分、晶状体皮质的后部分、晶状体核、后部晶状体囊或玻璃体,以及其中第二组织结构包括第二物质,所述第二组织结构在所述光学透射性组织结构之前,在所述第二组织结构和所述光学透射性组织结构之间布置有表面。
6.根据权利要求4所述的方法,进一步包括确定多个焦点沿着所述射束路径的多个位置以便确定所述光学透射性组织结构的折射率。
7.根据权利要求6所述的方法,其中所述多个位置包括第一焦点的第一位置和第二焦点的第二位置,以及其中所述折射率与第一点和第二点之间的物质的平均折射率相对应。
8.根据权利要求7所述的方法,其中所述第一位置包括眼睛的晶状体的前部分的前部位置以及所述第二位置包括眼睛的后部分的后部位置,以及其中所述折射率与晶状体的前部分和晶状体的后部分之间的平均折射率相对应。
9.根据权利要求8所述的方法,其中所述平均折射率与折射率沿着前部位置和后部位置之间的光学路径长度的积分相对应,以便确定处置射束靠近晶状体后囊的定位。
10.根据权利要求8所述的方法,进一步包括将多个聚焦激光束脉冲引导到晶状体的后部分以切割晶状体的后部分。
11.根据权利要求8所述的方法,进一步包括响应于平均折射率来将多个聚焦激光束脉冲引导到晶状体的后囊以切割晶状体的后囊,以及其中聚焦射束包括不同于聚焦激光束的光的一个或多个波长。
12.根据权利要求6所述的方法,进一步包括响应于多个焦点沿着所述射束路径的多个位置来映射组织结构的折射率,所述方法进一步包括针对多个焦点中的每个位置来重复聚焦和确定步骤以便针对所述多个位置中的所述每个位置来确定目标物质的折射率。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述多个位置包括眼睛的晶状体的位置,以及其中响应于眼睛的晶状体内的多个焦点的多个位置来确定眼睛的晶状体的梯度折射率分布。
14.根据权利要求3所述的方法,其中所述光源包括层析照相系统的光源,所述层析照相系统包括如下中的一个或多个:光学相干层析照相系统、光谱光学相干层析照相系统、时域光学相干层析照相系统、Scheimpflug成像层析照相系统、共焦层析照相系统或低相干反射测量系统,以及其中用层析照相系统来确定焦点的位置。
15.根据权利要求3所述的方法,其中响应于预定的折射率来确定所述目标物质的折射率。
16.根据权利要求15所述的方法,其中所述预定的折射率包括如下中的一个或多个的...
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