【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及塑料颗粒生产
，尤其涉及一种适用于塑料颗粒的分析天平。
技术介绍
分析天平一般是指能精确称量到0.0001克的天平，它是定量分析工作中不可缺少的重要仪器，在塑料颗粒的生产中，通常需要使用分析天平对生产出来的塑料颗粒进行定量分析，但是现有分析天平在使用时都是通过人工将塑料颗粒、砝码放置在托盘上，在对塑料颗粒和砝码取出的过程中，极易使外界的杂质落在托盘上，严重影响测量分析的结果；而且如果由于人为原因使得塑料颗粒掉落在分析天平内部，给分析天平的清扫工作带来很大的困难。
技术实现思路
根据以上技术问题，本专利技术提供一种测量精度高的适用于塑料颗粒的分析天平，包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘，其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱，所述挡风壳体的上端开设有进气口，所述挡风壳体的内部设有支架，所述支架的内部开设有气路通道，所述气路通道与进气口连通，所述喷气头、显示装置安装在支架上，所述横梁安装在支架上，所述横梁的下端设有左称体、右称体，所述压感元件安装在左称体的上端，所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端，所述右称重盘的下端设有接料箱。所述左称体、右称体对称设置在横梁的两侧。所述左称体、右称体的体积、质量相同。所述喷气头与气路管道连通。本专利技术的有益效果为：本专利技术在原有的分析天平上进行了改进，即将称重盘通过连接转轴安装在右称体的下端，还在称重盘的下端增加了接料箱，测量完毕后连接转轴带动称重盘旋转，使得塑料颗粒依靠...
【技术保护点】
一种适用于塑料颗粒的分析天平，包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘，其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱，所述挡风壳体的上端开设有进气口，所述挡风壳体的内部设有支架，所述支架的内部开设有气路通道，所述气路通道与进气口连通，所述喷气头、显示装置安装在支架上，所述横梁安装在支架上，所述横梁的下端设有左称体、右称体，所述压感元件安装在左称体的上端，所述称重盘通过了连接转轴安装在右称体的下端，所述右称重盘的下端设有接料箱。
【技术特征摘要】
1.一种适用于塑料颗粒的分析天平，包括挡风壳体、显示装置、支架、横梁、左称体、压感元件、右称体、称重盘，其特征在于:还包括进气口、气路通道、喷气头、连接转轴、接料箱，所述挡风壳体的上端开设有进气口，所述挡风壳体的内部设有支架，所述支架的内部开设有气路通道，所述气路通道与进气口连通，所述喷气头、显示装置安装在支架上，所述横梁安装在支架上，所述横梁的下端设有左称体、右称体，所述压感元件安装在左称体的上端，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：纪洪绪，
申请(专利权)人：天津思迈德高分子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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