The invention discloses an infrared night vision instrument based on a GeSn infrared detector, which mainly solves the problem of low efficiency of the existing infrared night vision instrument. It consists of optical system, detector, signal processor and a display, wherein the detector using GeSn infrared detector, which comprises a substrate (1), a lower electrode (2), (3) absorption region and the upper electrode (4), the absorption region (3) using the formula Ge1-xSnx GeSn, where x is the Sn group points, and 0 = x = 0.25. The invention uses in the Ge element into Sn elements to form the relaxation of the intrinsic GeSn single crystal, in reducing the width of the gap decreases at the same time, can make GeSn by indirect bandgap to direct band gap changes with the structure, so as to realize the sensitive frequency increased, the red shift of absorption edge can be adjusted, improved infrared night vision photosensitive efficiency and absorption wavelength range.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微电子
,特别涉及红外夜视仪,可用于气象,医疗,国防以及报警系统等。
技术介绍
红外热成像夜视仪又称为被动红外夜视仪,主要包括:光学系统、探测器、信号处理器和显示器,如图1所示。光学系统,采用常规的光聚集装置,主要用于处理物体所发出的红外线,以提高红外线强度;探测器,将由光学系统聚集的红外线光信号转化为电信号,实现红外图像的拍摄;信号处理器,包含DSP处理器和ARM处理器等,用于修复和识别红外图像,将数字信号转变为模拟信号,传送至输出端;显示器,优选彩屏高分辨率显示器,接收输出端的模拟信号,并呈现为图像信号。探测器,是红外夜视仪的核心部件,主要是通过半导体技术实现,其由上、下金属电极以及吸收区组成。目前,用于该谱段红外夜视仪的吸收区的半导体材料主要为III-V族材料InGaAs、GaInAsSb、InGaSb和II-VI材料HgCdTe。InGaAs材料在近红外波段性能优异,而HgCdTe材料的相关红外器件是目前性能最好的中红外器件,且可以通过调节材料中Hg的组分可以实现带隙0-0.8eV的连续可调。然而无论使用III-V族或者II-VI族材料,本身都会引起环境问题而且成本非常高。Ⅳ族元素无毒、环保且储量丰富,可用于改善上述Ⅲ-Ⅴ族和Ⅱ-Ⅵ族材料所面临的问题,且Ge元素在1.3-1.55μm波段范围内有较高的感光效率。但是由于Ge材料为间接带隙半导体材料,则制约了其感光效率的提升,从而限制了红 ...
【技术保护点】
一种基于GeSn红外探测器的红外夜视仪,包括:光学系统,用于接收并聚集物体所发出的红外线,照射在探测器上;探测器,用于将聚集的红外线由光信号转化为数字电信号,传输给信号处理器;信号处理器,用于将数字电信号转变为模拟电信号,传输给显示器;显示器,接收模拟电信号,并以图像形式呈现;其特征在于:所述探测器采用GeSn红外探测器,它包括衬底(1)、下电极(2)、吸收区(3)和上电极(4),该吸收区(3)采用通式为Ge1‑xSnx的GeSn材料,其中x为Sn的组分,且0≤x≤0.25。
【技术特征摘要】
1.一种基于GeSn红外探测器的红外夜视仪,包括:
光学系统,用于接收并聚集物体所发出的红外线,照射在探测器上;
探测器,用于将聚集的红外线由光信号转化为数字电信号,传输给信号处理器;
信号处理器,用于将数字电信号转变为模拟电信号,传输给显示器;
显示器,接收模拟电信号,并以图像形式呈现;
其特征在于:所述探测器采用GeSn红外探测器,它包括衬底(1)、下电极(2)、
吸收区(3)和上电极(4),该吸收区(3)采用通式为Ge1-xSnx的GeSn材料,其中
x为Sn的组分,且0≤x≤0.25。
2.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:韩根全,张春福,周久人,张进城,郝跃,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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