测试治具制造技术

一种测试治具，用于承载第一适配卡或第二适配卡，包含壳体、第一转接板、第二转接板、第一立板、第二立板和调整板。壳体具有置放空间。第一转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第一转接板具有第一插槽。第二转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第二转接板具有第二插槽。第一立板和第二立板皆设置于壳体。第二立板面向第一立板。第一转接板和第二转接板皆介于第一立板和第二立板之间。调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有固定第一适配卡的第一装设位置及固定第二适配卡的第二装设位置。

Test fixture

The utility model relates to a test fixture, which is used for carrying a first adapter card or a second adapter card, which comprises a shell, a first switching board, a second switching board, a first vertical plate, a second vertical plate and an adjusting plate. The housing has a placement space. The first connecting plate is fixed on the shell body. The first adapter plate has a first slot. The second adapter plate is fixed on the shell body. Second adapter plate has second slots. The first vertical plate and the second vertical plate are arranged in the shell body. Second vertical plate facing the first vertical plate. The first transition plate and the second transfer plate are between the first vertical plate and the second vertical plate. The adjusting plate is detachably arranged between the first vertical plate and the second vertical plate, and is provided with a first installation position for fixing the first adapter card and a second mounting position for fixing the second adapter card.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术揭露一种测试治具，特别是一种用于承载适配卡的测试治具。
技术介绍
一般而言，业者在生产计算机和服务器时，会测试内部的适配卡(PCICard)在计算机和服务器晃动过程中的稳定度，以确认产品的质量是否合格。然而，目前业界用于适配卡晃动测试所使用的治具仅能同时承载单一尺寸规格的适配卡。因此，当要测试不同尺寸规格的适配卡时，必须使用不同治具，而不利于节省测试成本以及提高测试效率。
技术实现思路
鉴于以上的问题，本专利技术揭露一种测试治具，有助于对不同尺寸规格的适配卡进行晃动测试，进而节省测试成本以及提高测试效率。本专利技术所揭露的测试治具用于承载一第一适配卡或一第二适配卡，且第二适配卡的长度大于第一适配卡的长度。测试治具包含一壳体、一第一转接板、一第二转接板、第一立板、一第二立板和一调整板。壳体包含一底座和一侧墙，且侧墙围绕底座而形成一置放空间。第一转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第一转接板具有一第一插槽。第二转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第二转接板具有一第二插槽。第一立板设置于壳体。第二立板设置于壳体，并且面向第一立板。第一转接板和第二转接板皆介于第一立板和第二立板之间。调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。当调整板位于第一装设位置时，测试治具供第一适配卡插设于第一插槽，且第一适配卡的相对二侧分别固定于第一立板与调整板。当调整板位于第二装设位置时，测试治具供第二适配卡插设于第二插槽，且第二适配卡的相对二侧分别固定于第二立板与调整板。根据本专利技术所揭露的测试治具，调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。当调整板位于第一装设位置时，测试治具供第一适配卡进行晃动测试。当调整板位于第二装设位置时，测试治具供第二适配卡进行晃动测试。因此，测试治具可支持承载不同尺寸规格的适配卡进行晃动测试，有助于节省测试成本以及提升测试效率。以上关于本揭露内容的说明及以下具体实施方式的说明用以示范与解释本专利技术的精神与原理，并且提供本专利技术的权利要求书更进一步的解释。附图说明图1为根据本专利技术第一实施例的测试治具的立体示意图。图2为根据本专利技术第一实施例的测试治具的分解示意图。图3为根据本专利技术第一实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。图4为图3的上视图。图5为根据本专利技术第一实施例的测试治具承载第二适配卡的立体示意图。图6为图5的上视图。图7为根据本专利技术第二实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。符号说明1测试治具2第一适配卡3第二适配卡10壳体100底座101凸包110侧墙120置放空间20第一转接板200第一插槽30第二转接板300第二插槽40第一立板400第一开口50第二立板500第二开口60调整板70滑轨件80限位件800缓冲部90结构补强肋具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。请参照图1和图2。图1为根据本专利技术第一实施例的测试治具的立体示意图。图2为根据本专利技术第一实施例的测试治具的分解示意图。在本实施例中，一测试治具1包含一壳体10、复数个第一转接板20、复数个第二转接板30、一第一立板40、一第二立板50、一调整板60、复数个滑轨件70和一限位件80。第一转接板20、第二转接板30和滑轨件70的数量并非用以限制本专利技术。在其它实施例中，第一转接板20、第二转接板30和滑轨件70的数量皆可为一。壳体10包含一底座100和竖立于底座100的一侧墙110。侧墙110围绕底座100而形成一置放空间120。第一转接板20固定于壳体10的底座100，并且位于置放空间120。第一转接板20具有复数个第一插槽200，但第一插槽200的数量并非用以限制本发明。第二转接板30固定于壳体10的底座100，并且位于置放空间120。第二转接板30具有复数个第二插槽300，但第二插槽300的数量并非用以限制本发明。第一立板40的相对二侧设置于壳体10的侧墙110，且第一立板40具有复数个第一开口400。第二立板50的相对二侧设置于壳体10的侧墙110，并且面对第一立板40。第一转接板20和第二转接板30皆介于第一立板40和第二立板50之间。第二立板50具有复数个第二开口500。调整板60可拆卸地设置于壳体10的侧墙110而介于第一立板40和第二立板50之间。调整板60的功能将于后续说明。滑轨件70设置于调整板60。调整板60可拆卸地设置于壳体10的侧墙110，而令滑轨件70可选择地面向第一立板40和第二立板50。滑轨件70的功能将于后续说明。限位件80可拆卸地设置于壳体10的侧墙110而可选择地介于第一立板40和调整板60之间，或是介于第二立板50和调整板60之间。限位件80具有一缓冲部800，且缓冲部800的材质例如为泡绵或是橡胶等具有缓冲震动功能的材质。限位件80的功能将于后续说明。此外，测试治具1还包含复数个结构补强肋90，分别设置于壳体10的底座100和侧墙110的外表面。因此，测试治具1更适合应用于承载电子组件以进行晃动测试。另外，机壳10的底座100可具有复数个凸包101。凸包101的形成方法为例如对底座100进行冲压加工制程。第一转接板20和第二转接板30固定于底座100而抵靠凸包101。因此，凸包101有助于加强测试治具1整体的结构强度。以下叙述测试治具的使用方式。请同时参照图3、图4、图5和图6。图3为根据本专利技术第一实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。图4为图3的上视图。图5为根据本专利技术第一实施例的测试治具承载第二适配卡的立体示意图。图6为图5的上视图。在本实施例中，调整板60可拆卸地设置于壳体10的侧墙110，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。当调整板60位于第一装设位置时，测试治具1用以承载至少一第一适配卡2以进行晃动测试。详细来说，当调整板60位于第一装设位置时，第一立板40和调整板60之间的距离L1匹配第一适配卡2的长度尺寸(如图3和图4所示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试治具，用于承载一第一适配卡或一第二适配卡，所述第二适配卡的长度大于所述第一适配卡的长度，其特征在于，所述测试治具包含：一壳体，包含一底座和一侧墙，所述侧墙围绕所述底座而形成一置放空间；一第一转接板，固定于所述壳体，并且位于所述置放空间内，所述第一转接板具有一第一插槽；一第二转接板，固定于所述壳体，并且位于所述置放空间内，所述第二转接板具有一第二插槽；一第一立板，设置于所述壳体；一第二立板，设置于所述壳体，并且面向所述第一立板，所述第一转接板和所述第二转接板皆介于所述第一立板和所述第二立板之间；以及一调整板，可拆卸地设置於所述壳体而介於所述第一立板和所述第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置，当所述调整板位於所述第一装设位置时，所述测试治具供所述第一介面卡插设於所述第一插槽，且所述第一介面卡的相对二侧分别固定於所述第一立板与所述调整板，当所述调整板位於所述第二装设位置时，所述测试治具供所述第二介面卡插设于所述第二插槽，且所述第二介面卡的相对二侧分別固定於所述第二立板于所述调整板。

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，用于承载一第一适配卡或一第二适配卡，所述第二适配
卡的长度大于所述第一适配卡的长度，其特征在于，所述测试治具包含：
一壳体，包含一底座和一侧墙，所述侧墙围绕所述底座而形成一置放空
间；
一第一转接板，固定于所述壳体，并且位于所述置放空间内，所述第一转
接板具有一第一插槽；
一第二转接板，固定于所述壳体，并且位于所述置放空间内，所述第二转
接板具有一第二插槽；
一第一立板，设置于所述壳体；
一第二立板，设置于所述壳体，并且面向所述第一立板，所述第一转接板
和所述第二转接板皆介于所述第一立板和所述第二立板之间；以及
一调整板，可拆卸地设置於所述壳体而介於所述第一立板和所述第二立板
之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置，当所述调整板位於所述第
一装设位置时，所述测试治具供所述第一介面卡插设於所述第一插槽，且所述
第一介面卡的相对二侧分别固定於所述第一立板与所述调整板，当所述调整板
位於所述第二装设位置时，所述测试治具供所述第二介面卡插设于所述第二插
槽，且所述第二介面卡的相对二侧分別固定於所述第二立板于所述调整板。
2.如权利要求第1项所述的测试治具，其特征在于，其中所述第一转接板
和所述第二转接板皆固定于所述底座，所述第一立板于所述第二立板的相对二
侧分别设置于所述侧墙。
3.如权利要求第2项所述的测试治具，其特征在于，其中所述底座具有复
数个凸包，所述第一转接板和所述第二转接板固定于所述底座而抵靠所述复数
个凸包。
4.如权利要求第1项所述的测试治具，其特征在于，还包含设置于所述调
整板的一滑轨件，其中当所述调整板位于所述第一装设位置时，所述滑轨件面
向所述第一立板，且所述第一介面...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜宏文，蔡协良，吴俊贤，陈建国，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31