检测LED的污染制造技术

本发明专利技术涉及一种用于对具有LED辐射器的电路板的透明盖件的污染进行检测的设备。LED辐射器被单个地或成组地冷却。该设备的特征在于：检测到单个的或成组的冷却装置的温度，并且，从多个温度的相互比较中推断出污染。

【技术实现步骤摘要】

技术介绍
LED紫外线干燥器用于硬化UV油墨(UV-Farbe)或者UV亮油(UV-Lack)。尤其在借助喷墨印刷机或胶版印刷机来印刷由任意材料构成的三维构件和页张的情况下。DE102009007873A1描述了一种用于印刷机的LED干燥器，其用于硬化通过UV光线进行干燥的油墨。在此，多个LED成排地横向于承印材料输送方向布置在承载件上。由WO2011/031529A2给出一种用于防止LED污染的设备。在此，多个LED安置在壳体内，该壳体在UV辐射的出口区域中设有透明盖件。通过DE102013019814A1已知一设备，该设备可以求取到LED模块的透明盖件的污染程度(Verschmutzungsgrad)。在此，在该盖件的一个或多个位置上借助附加的传感器来执行温度测量。然后，由求取到的值能够推导出该盖件的污染程度。如果污染过高，则关断LED紫外线干燥器。在实践中在这种辐射器的情况下会出现的问题是：透明盖件的污物使得UV光线发生反射。这导致了盘片(透明盖件)内的温差进而导致了应力。如果温差过高，则盖件会发生断裂。盘片被污染得越强，就有越多的辐射被反射回来。
技术实现思路
本专利技术的任务是提供一种设备，该设备求取到透明盖件的污染程度，而无需使用附加的传感器来测量该盖件自身温度。该任务通过具有权利要求1特征的设备来解决。有利的设计方案由从属权利要求中获悉。根据本专利技术的设备用于检测具有LED辐射器的电路板的透明盖件的污染程度，其设置成：这些辐射器被单个地或成组地冷却。在此，直接或间接地检测到单个地或成组地布置的冷却装置的温度或者检测到LED辐射器的温度，并且，由多个温度相互比较来推断出污染(程度)。间接地检测例如通过冷却装置上的温度传感器来实现。直接地检测例如通过LED辐射器上的温度传感器来实现。本专利技术的有利的第一改进方案设置成：LED辐射器能够相互独立地接通或关断。本专利技术的设备的另一实施方案设置成：由全部冷却装置或LED辐射器的温度来计算出平均值。然后，依据该平均值求取到界限温度值，冷却装置或LED辐射器都不允许超过该界限温度值。在此，如此选定该界限值，使得该界限值小于多个LED辐射器的平均温度与单个LED辐射器的平均温度之间的临界温差，该临界温差可能会使透明盖件断裂。此外，本专利技术的意义在于，当配属于LED辐射器的冷却装置达到了界限温度，则这些LED辐射器被自动关断，用以确保不超过界限温度。本专利技术的有利的另一改进方案设置成：具有LED辐射器的电路板配属有光学式输出器件。附加地限定了对于LED辐射器平均温度的界限温度值。该界限温度值相应于整个透明盖件的临界污染程度。如果达到该界限值，则在光学式输出器件上显示出：该透明盖件必须被清洁或更换。附图说明已描述的设备和根据本专利技术的其它改进方案能够从随后的实施例以及附图中获悉。该附图示出了印刷机的局部。能够看到具有LED辐射器和透明盖件的电路板的底面，该透明盖件被污染。具体实施方式印刷机1中的电路板2具有多个LED辐射器3，这些LED辐射器3分别配属有冷却装置5。在UV辐射的出口区域中设有透明盖件4。冷却装置5的温度被长期检测，这通过电子装置8发生，该电子装置8与印刷机1的控制器以及与光学式输出器件6连接。从测量结果中求取到平均值。依据该平均值长期地求取到阈值，该阈值小于平均温度与如下温度之间的温差值：如果单个冷却单元达到该温度则可能会使透明盖件4断裂。此外限定了对于平均温度的界限值。如果达到该界限值，这就意味着：透明盖件4被污染得很厉害且必须被清洁或更换。首先，透明盖件4是干净的。全部冷却装置5的温度是一样高的。在印刷过程进行时，污物7沉积在透明盖件4上。这些污物使得从LED辐射器3所发出的UV辐射发生反射。由此使得单个辐射器3变热。这同样导致了配属给辐射器3的冷却装置5的温度升高。冷却装置5的平均温度提高。在辐射器3下方已经聚集有特别多的污物7。特别多地使辐射反射到该辐射器3上。在此，该辐射器3的冷却装置5的温度达到所述阈值，该阈值表示与平均温度间的最大许可差值。辐射器3于是被自动关断。当超过温度的许可阈值时，光学式输出器件6就给操作者显示a。附图标记列表1印刷机2电路板3LED辐射器4透明盖件5冷却装置6光学式输出器件7污物本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对具有LED辐射器(3)的电路板(2)的透明盖件(4)的污染程度进行检测的设备，其中，LED辐射器(3)单个地或成组地被冷却装置(5)冷却，并且，所述设备具有用于检测温度的电子装置，其特征在于，LED辐射器的温度直接地或间接地被所述电子装置检测，并且，所述电子装置从多个温度的相互比较中推断出透明盖件(4)的污染。

【技术特征摘要】
2015.07.22 DE 102015213785.61.一种用于对具有LED辐射器(3)的电路板(2)的透明盖件(4)的污染程度进行检测的设备，其中，LED辐射器(3)单个地或成组地被冷却装置(5)冷却，并且，所述设备具有用于检测温度的电子装置，其特征在于，LED辐射器的温度直接地或间接地被所述电子装置检测，并且，所述电子装置从多个温度的相互比较中推断出透明盖件(4)的污染。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述电子装置检测到配属于LED辐射器(3)的冷却装置(5)的温度。3.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，LED辐射器(3)能够相互独立地接通和关断。4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，其特征在于，从全部冷却装置(5)的温度中计算出平均值，其中，依据该平均值求取到界限温度值，任何冷却装置(5)都不允许超过该界限温度值。5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其特征在于，一旦所配属的冷却装置(5)的温度达到确定的界限温度值，则LED辐射器...

【专利技术属性】
技术研发人员：O·戈特沙尔特，M·科尔曼，
申请(专利权)人：海德堡印刷机械股份公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE