用于偏差校准及自适应通道数据采样定位的方法技术

一种采样偏差调整方法，该方法包括提供与输至接收器(201)的异步输入相关的边沿。波形边沿在调整范围上密集分布。扫描调整范围的至少一部分得到采样，以获得误差计数(202)。固定第一采样位置，在调整范围的至少一部分上移动第二采样位置。由扫描(203)确定阈值误比特率(“BER”)。基于参考位置确定(204)阈值BER的采样偏差的数量和方向。响应于采样偏差(205)的数量和方向，调整第一采样位置或第二采样位置，以至少减小采样偏差(205)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
下面的描述涉及集成电路装置(“IC”)。更具体地，下面的描述涉及用于耦接到通信信道的IC的偏差校准及自适应信道数据采样定位。■
技术介绍
传统的数千兆比特串行数据收发器的时钟数据恢复(“CDR”)模块可在均衡后使时钟与波形边沿的中间位置对齐。在这个中间位置与时钟对齐之后的一个固定时间，例如在半个比特周期时，可对数据进行采样。然而，因为下述一个或多个原因，这个采样点可能不是最优：(a)在边沿采样器和数据采样器之间的时钟分布变化可能不可预测地相对于均衡波形移动数据采样点；(b)通信信道的特性或边沿分布的均衡偏斜可能不可预测地变化，导致在这种偏斜分布的长尾发生低概率的比特误差。因此，提供能增加数据恢复裕量的采样是所期望的也是有用的。■
技术实现思路
一种方法主要涉及采样偏差调整。在该方法中，与异步输入相关联的波形边沿被提供给接收器。波形边沿在一调整范围上密集地分布。扫描调整范围的至少一部分，对于多个不同于第一类型的第二类型的采样位置中的每个采样位置，从第一类型的第一采样位置处的波形边沿的密集分布得到采样，从而获得在该调整范围的至少一部分上的多个采样位置中的每个采样位置处的采样计数的误差计数。固定第一采样位置，多个采样位置中的第二采样位置在调整范围的至少一部分上移动。扫描包括针对在多个采样位置中的每个采样位置处的采样计数执行多个采样周期。由扫描过程确定阈值误比特率(“BER”)。基于参考位置而确定在阈值BER处的采样偏差的偏差的数量和方向。响应于采样偏差的数量和方向，调整第一采样位置或第二采样位置，以至少减小采样偏差。另一种方法主要涉及数据采样位置调整。在该方法中，针对被提供给接收器的同步输入，从接收器获得被恢复的数据。跟踪被恢复的数据对应的选定BER的眼图边沿，以确定与通信通道相关联的右边沿位置值和左边沿位置值。确定在右边沿位置值和左边沿位置值之间的平均值。响应于该平均值，移动数据采样位置。装置主要涉及采样偏差调整。接收器包括时钟数据恢复模块，用以为输至接收器的异步输入提供波形边沿的密集分布。波形边沿在一调整范围上密集地分布。接收器包括眼图扫描电路，以在第一采样位置和第二采样位置从波形边沿的密集分布得到采样，并且提供所述采样的采样计数的误差计数。眼图扫描模块耦接到接收器，并且被配置用于对于多个与第一类型不同的第二类型的采样位置中的每个采样位置，扫描调整范围的至少一部分，已得到第一类型的第一采样位置处的采样，从而获得多个采样位置中的每个采样位置的采样计数的误差计数。固定第一采样位置。眼图扫描电路被耦接到眼图扫描模块，以从多个采样位置增加第二采样位置，用于在该调整范围的至少一部分上移动。眼图扫描电路耦接到眼图扫描模块，以在多个采样位置中的每个采样位置为采样取得多个采样。眼图扫描模块进一步被配置用于：由扫描定位阈值误比特率(BER)；基于参考位置而确定在阈值BER处的采样偏差的数量和方向；响应于采样偏差的数量和方向，调整第一采样位置或第二采样位置，以至少减小采样偏差。■附图说明附图示出了示例性的装置和/或方法。然而，这些附图不应被看作是对权利要求范围的限定，而仅仅是用于解释和理解本公开。图1为示出了示例性的列状现场可编程门阵列(“FPGA”)架构的简化框图。图2为示出了示例性的偏差校准流程的流程图。图3为示出了示例性的收发器的框图。图4为示出了多个示例性的波形信号对的信号示意图，波形信号对用于提供给图3所示接收器的同步数据输入。图5为示出了多个示例性的波形信号对的信号示意图，波形信号对用于提供给图3所示接收器的异步数据输入。图6为示出了示例性的眼图扫描到数据采样的水平偏差图的图形化示意图。图7为示出了图6的例子在偏差调整前后的示例性“浴缸”图的图形化示意图。图8为示出了示例性信道自适应数据采样定位流程的流程图。图9为示出了示例性的接收器侧通信系统的框图。图10为示出了另一个示例性的接收器侧通信系统的框图。图11为示出了示例性的计算机系统的框图。■具体实施方式在下面的描述中阐述了许多具体的细节，以对本文所述的具体例子进行更彻底的描述。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，无需下文给出的所有具体细节，也可以实施这些例子的一个或多个其他例子和/或变化。在其他实例中，没有详细描述公知的特征，从而避免妨碍对本文中例子的描述。为阐述方便，在不同的示意图中，相同的数字标号表示相同的元素；但是，在不同的例子中，这些元素可能不同。在对多个附图中示例性地示出的例子进行描述之前，提供概括介绍以便进一步理解。通常，与经由通信信道或通道提供的与数据相关的抖动或噪声会影响在数据眼图内对这些数据进行恢复的裕量。可以采用眼图扫描来确定数据与这类数据眼图的相对位置。然而，为了解决(accountfor)眼图扫描采样位置和数据采样位置之间的水平或垂直偏差，可进行偏差调整。正如下文将更详细描述的，可采用偏差校准流程来至少减少这种偏差以减少误码率。此外，即使在偏差校准后，数据漂移仍可导致数据眼图不能被定位来增加数据恢复的裕量。正如下文将更详细描述的，可采用信道自适应数据采样定位流程来增加裕量。可通过可自适应地确定数据眼图边沿的低概率的长尾分布来提供使数据眼图的中值边沿位置和其中的数据采样之间具有良好控制的间隔，从而优化调整数据采样位置或至少在该类数据眼图中增加裕量。牢记上述一般的理解，下面将概括介绍偏差校准流程和信道自适应数据采样定位流程的各种配置。由于上述例子中的一个或多个通过特定类型的IC进行描述，因此，下面将对这种IC进行详细的描述。但是，应当理解，其他类型的IC也可从本文所述的一种或多种技术中受益。可编程逻辑器件(“PLD”)为集成电路的一种众所周知的类型，其可以用于执行特定的逻辑功能。现场可编程门阵列(“FPGA”)为一种类型的PLD，其通常包括可编程单元(programmabletile)阵列。这些可编程单元包括例如输入/输出模块(“IOB”)、可配置逻辑模块(“CLB”)、专用随机存取存储模块(“BRAM”)、乘法器、数字信号处理模块(“DSP”)、处理器、时钟管理器、延时锁定环(“DLL”)，等等。本文使用的“包括”和“包含”指包括但不限于。每个可编程单元通常包括可编程互连和可编程逻辑这两者。可编程互连通常包括大量的由可编程互连点(“PIP”)互连的具有不同长度的互连线。可编程逻辑使用可编程元件实现用户设计的逻辑，这些可编程元件例如包括函数生成器、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：提供与输至接收器的异步输入相关联的波形边沿，其中所述波形边沿在一调整范围上密集地分布；扫描所述调整范围的至少一部分，对于多个不同于第一类型的第二类型的采样位置中的每个采样位置，从第一类型的第一采样位置处的波形边沿的密集分布得到采样，从而获得所述调整范围的至少一部分上的多个采样位置中的每个采样位置处的采样计数的误差计数；其中，所述第一采样位置是固定的；所述多个采样位置中的第二采样位置在所述调整范围的至少一部分上移动；所述扫描包括对在所述多个采样位置中的每个采样位置处的采样计数执行多个采样周期；由所述扫描定位阈值误比特率(“BER”)；基于参考位置而确定在阈值误比特率的采样偏差的数量和方向；以及响应于所述采样偏差的数量和方向，调整所述第一采样位置或所述第二采样位置，以至少减小所述采样偏差。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.08.29 US 14/013,2831.一种方法，包括：
提供与输至接收器的异步输入相关联的波形边沿，
其中所述波形边沿在一调整范围上密集地分布；
扫描所述调整范围的至少一部分，对于多个不同于第一类型的第二类型的采样位
置中的每个采样位置，从第一类型的第一采样位置处的波形边沿的密集分布得到采
样，从而获得所述调整范围的至少一部分上的多个采样位置中的每个采样位置处的采
样计数的误差计数；
其中，所述第一采样位置是固定的；
所述多个采样位置中的第二采样位置在所述调整范围的至少一部分上移动；
所述扫描包括对在所述多个采样位置中的每个采样位置处的采样计数执行多个
采样周期；
由所述扫描定位阈值误比特率(“BER”)；
基于参考位置而确定在阈值误比特率的采样偏差的数量和方向；以及
响应于所述采样偏差的数量和方向，调整所述第一采样位置或所述第二采样位
置，以至少减小所述采样偏差。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整范围为单位间隔。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整范围呈时间或相位的形式。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述波形边沿以所述单位间隔的1/16或
更小的分数被分隔开。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述分数与接收器的相位插值
器的分辨率相关联。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于：
所述第一类型的第一采样位置为数据采样位置；
所述第二类型的第二采样位置为眼图扫描采样位置；
所述多个采样位置为眼图扫描采样位置；以及
所述采样偏差为眼图扫描采样位置到数据采样位置的偏差。
7.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·O·詹宁斯，C·H·谢，
申请(专利权)人：赛灵思公司，
类型：发明
国别省市：美国;US