本发明专利技术提供一种检查装置，提高元件的电特性的测定精度。检查装置包括保持台(32)、把持保持于该保持台(32)的元件(s)而能够测定电特性的一对测定件(37)及与主体(29)的表面(29f)连接的接地线(132)。保持台(32)在初始位置处于与主体(29)导通的状态，因此处于经由接地线(132)而接地的状态。因此，在初始位置，能够快速且可靠地进行载置于保持台(32)的元件(s)的除电，能够提高元件(s)的电特性的测定精度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及对装配于电路基板的元件进行检查的检查装置。
技术介绍
在专利文献2、3中记载有具备探头并通过该探头的接触来测定元件的电特性的检查装置。在专利文献1中记载有从两端夹持载置于保持台的元件来测定电特性的检查装置。在该检查装置中，从送风口部28沿着保持台的V槽供给空气，将处于该V槽上的测定后的元件向导入口部7′传送。并且，将不合格品废弃，合格品使用于向电路基板的装配。而且，在专利文献4记载的检查装置中，连接有接地线的接地用探针122经由插口123、换言之被绝缘而设于壳体120。当电路基板与接地用探针122的前端接触时，电路基板被接地。专利文献1：日本特公昭52-30703号公报专利文献2：日本实开平1-76100号公报专利文献3：国际公开第2014/155657小册子专利文献4：日本特开平11-242064号公报
技术实现思路
本专利技术的课题是在能够自动地测定元件的电特性的检查装置中实现电特性的测定精度的提高。本专利技术的检查装置包括：壳体；保持台，能够相对于壳体移动；一对测定件，把持被保持于该保持台的元件，并能够测定电特性；及接地线，与壳体的表面连接。由于在壳体上连接接地线，因此能良好地进行检测装置的接地，能良好地进行元件s的除电。其结果是，能够实现元件的电特性的测定精度的提高。附图说明图1是包含本专利技术的一实施方式的检查装置的装配机的立体图。图2是上述检查装置的主要部分的立体图。图3是上述检查装置的主要部分的剖视图。图4(a)是上述检查装置的局部俯视图。图4(b)是概念性地表示接地线的连接状态的图。图5是上述检查装置包含的空气回路图。图6是概念性地表示上述装配机的控制装置的图。图7(a)是表示上述控制装置的存储部中存储的LCR测定程序的流程图。图7(b)是在上述检查装置中测定LCR的情况下的时间图。图8是表示上述控制装置的存储部中存储的元件适当判定程序的流程图。图9是表示上述检查装置的工作的图。图9(a)是表示初始状态的图，图9(b)是表示夹紧状态的图，图9(c)是表示测定状态的图，图9(d)是表示废弃状态的图。图10是从与图2不同的角度观察上述检查装置的立体图。具体实施方式以下，基于附图，详细说明包含本专利技术的一实施方式的检查装置的装配机。图1所示的装配机是将元件向电路基板装配的结构，包括装置主体2、电路基板搬运保持装置4、元件供给装置6、头移动装置8等。电路基板搬运保持装置4是将电路基板P(以下，简称为基板P)以水平的姿势搬运并保持的结构，在图1中，将基板P的搬运方向设为x方向，将基板P的宽度方向设为y方向，将基板P的厚度方向设为z方向。y方向、z方向分别是装配机的前后方向、上下方向。上述x方向、y方向、z方向相互正交。元件供给装置6是供给向基板P装配的电子元件(以下，简称为元件)s的结构，包括多个带式供料器14等。头移动装置8是保持装配头16并使装配头16在x、y、z方向上移动的结构，装配头16具有吸附并保持元件s的吸嘴18。而且，附图标记20表示相机。相机20是拍摄由吸嘴18保持的元件s的结构，基于由相机20拍摄到的图像，来判定元件s是否为装配于电路基板P的预定的元件。附图标记22表示检查装置。检查装置22是测定并检查元件s的电特性的结构。测定元件s的电特性，并判定测定出的电特性与JOB信息包含的与元件s相关的信息(电特性)是否一致，即，与下面的作业使用的预定的元件s具备的电特性是否一致。作为元件s的电特性，L(电感)、C(电容)、R(电阻)、Z′(阻抗)等相当于此，通过检查装置22来测定它们中的1个以上。检查装置22经由废物箱26而设于电路基板搬运保持装置4的主体。废物箱26与检查装置22由废弃通路28连接，但是测定了电特性的元件s经由废弃通路28而收容于废物箱26。检查装置22以能够进行高度调整的方式设于废物箱26。如图2、10所示，底座部30以能够升降的方式与废物箱26卡合，主体29通过包含螺栓及螺母的连接部31(参照图3、4(a)、10)而固定于底座部30，这些底座部30及主体29被保持为能够一体升降。而且，在主体29、底座部30分别设有能够与废弃通路28连通的开口29a、30a(参照图3、4)。如图2～4(a)、10所示，检查装置22包括：(i)上述主体29及底座部30；(ii)能够保持元件s的保持台32；(iii)由定子34及动子36构成的一对测定件37；(iv)使保持台32移动的保持台移动装置40；(v)使动子36相对于定子34接近/远离的动子移动装置41；(vi)作为电特性检测部的LCR检测部42等。在本实施例中，元件s在两端部具有电极，能够通过一对测定件37来把持。作为元件s，例如，被称为方形芯片的结构相当于此。保持台32包括元件载置部44和保持元件载置部44的载置部保持体46。在元件载置部44的上表面形成V槽44c，来载放元件s。由于设为V形状，因此能高精度地决定元件s的位置。元件载置部44可以设为由具有导电性、耐磨损性且氧化难以进展的材料制造的结构。元件载置部44经由多个具有导电性的部件而与底座部30电连接，但是通过将底座部30接地而元件载置部44也接地。在本实施例中，元件载置部44与载置部保持体46抵接，且通过连接部47进行固定，并且，载置部保持体46经由止动件80(参照图3)而与主体29抵接，主体29通过连接部31而固定于底座部30。并且，载置部保持体46、止动件80、主体29、底座部30、连接部31、47等具有导电性。因此，元件载置部44被接地。这样，元件载置部44由具有导电性的材料制造且被接地，由此能够进行元件载置部44载置的元件s的除电。而且，元件载置部44由具有耐磨损性的材料制造，由此能够抑制元件载置部44的磨损，并提高耐久性。此外，由氧化难以进展的材料、即作为金属的氧化覆膜的非动态皮膜形成的材料来制造，由此能够使元件载置部44难以生锈。能够使锈难以附着于元件s等，能够抑制元件s的电特性的测定精度的下降。例如，元件载置部44可以通过铝合金或不锈钢材料等来制造。定子34、动子36分别具有彼此相向的相向面34f、36f，通过这一对相向面34f、36f来把持元件s。定子34经由定子保持体55而固定于主体29。动子36以能够一体移动的方式保持于动子保持体56，能够相对于定子34接近/远离。在本实施例中，相向面36f的截面呈三角形形状，相向面36f能够沿V槽44c移动。换言之，动子36的相向面36f的形状设为大致与V槽44c对应的形状，动子36的相向面36f、定子34的相向面34f及保持台32的V槽44c位于大致同一高度。因此，无论元件s处于V槽44c内的何处，通过一对相向面34f、36f都能够把持元件s。而且，在本实施例中，动子36是沿y方向(移动方向)伸长的长度部件，在后退端处保持于动子保持体56。而且，与包含相向面36f的前端部相比，后部成为不具有比前端部沿x方向露出的部分的形状。其结果是，保持台32与动子36彼此能够相对移动，保持台32能够向动子36的相向面36f的前方移动或向后方移动。此外，形成包括由动子36和定子34构成的一对测定件37、LCR检测部42、省略图示的电源装置等的电路58。向上述定子34与动子36之间供给电流并检测流动的电流，基于本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检查装置，安装于拾取由元件供给装置供给的元件而向电路基板装配的装配机，所述检查装置包括：壳体；保持台，能够相对于该壳体进行移动，且保持所述元件；一对测定件，能够彼此接近/远离，把持被保持于该保持台的元件，并测定该元件的电特性；及接地线，与所述壳体的表面电连接。
【技术特征摘要】
2015.07.15 JP 2015-1415851.一种检查装置，安装于拾取由元件供给装置供给的元件而向电路基板装配的装配机，所述检查装置包括：壳体；保持台，能够相对于该壳体进行移动，且保持所述元件；一对测定件，能够彼此接近/远离，把持被保持于该保持台的元件，并测定该元件的电特性；及接地线，与所述壳体的表面电连接。2.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述壳体包括：第一壳体，能够与所述保持台电导通；及第二壳体，是与所述第一壳体不同的部件，且比所述第一壳体远离所述保持台，所述接地线的一端部与所述第一壳体的表面连接，另一端部与所述第二壳体的表面连接。3.根据权利要求2所述的检查装置，其中，所述保持台能够在能够保持所述元件的初始位置和从所述初始位置退避的退避位置之间进行移动...
【专利技术属性】
技术研发人员：泽田利幸，
申请(专利权)人：富士机械制造株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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