阵列基板测试电路及显示面板制造技术

本发明专利技术公开一种阵列基板测试电路及显示面板。阵列基板测试电路包括第一及第二控制端，接收第一及第二控制信号；第一及第二电压端，接收第一及第二电压；若干第一及第二可控开关，每一第一可控开关的第一端连接第一控制端，每一第二可控开关的第一端连接第二控制端，每一第一及第二可控开关的控制端连接第一及第二电压端；第一及第二显示区域，包括若干第一、若干第二及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接第一显示区域的一个子像素；每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的一个子像素，从而实现将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种阵列基板测试电路及显示面板。
技术介绍
随着液晶显示技术的发展，人们对于显示面板的要求越来越高，液晶面板行业的竞争也越来越激烈，这就要求面板业者要有精湛的技术和过高的良率。目前面板厂为保证良率都会做阵列基板测试，其目的是检测显示面板中的各个薄膜晶体管是否正常运行、数据线和扫描线是否正常以及面板内部有无缺陷，这样可以防止一定的不良比例流入后段模组制程，造成成本的浪费。然而目前的阵列基板架构由于其所有奇数线或所有偶数线均连接在一起，所以其只能显示及测试一些简单的画面，例如纯色画面或者横向的彩条图像，这些图案不能检测面板的串扰状态，这样的话将会使得存在串扰风险的面板流入后段制程，最终会被判定为不良品，从而造成后段成本以及人力的浪费。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种阵列基板测试电路及显示面板，从而将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板测试电路，包括：第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。其中，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。其中，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。其中，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。其中，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种显示面板，所述显示面板包括阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路包括：第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。其中，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。其中，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。其中，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。其中，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素。本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术的所述阵列基板测试电路及显示面板依据检测面板串扰画面将数据线进行分组连接，即将对应串扰画面的中间白色画面区域的数据线短接在一起，将边框灰色画面区域对应的数据线短接在一起，已在阵列基本测试阶段，保证可以产生原有的画面的前提下又可以产生串扰画面，从而将存在串扰的产品提前检验出来，以防流入制程后段，造成成本及人力的浪费。附图说明图1是现有技术的阵列基板测试电路的电路图；图2是现有技术的面板驱动架构图；图3是本专利技术的阵列基板测试电路的电路图；图4是本专利技术的显示面板的结构示意图。具体实施方式请参阅图1，是现有技术中阵列基板测试电路的电路图。其中驱动芯片在阵列基板测试阶段没有被焊接在所述阵列基板测试电路上，即所述驱动芯片与所有薄膜晶体管均未连接，此阶段需要利用阵列基板测试治具提供控制信号DO、DE以及第一及第二电压VGLO、VGHO。其中，控制信号DO信号提供所有奇数数据线的电压，控制信号DE提供所有偶数电源线的电压，第二电压VGHO(一般为9V)为高电平，此时所有薄膜晶体管处于开启状态，以得到需要显示的画面。在阵列基板测试完成之后进入后段模组阶段，此时所述驱动芯片被焊接至所述阵列基板测试电路上，且所述驱动芯片的每一输出引脚均连接薄膜晶体管的漏极，此时所述驱动芯片工作，而控制信号DO、DE以及第二电压VGHO均为断开状态，不再起作用。此阶段因为第一电压VGLO(一般为-7V)为低电平，所以薄膜晶体管会处于关闭状态，所述驱动芯片提供电压给每一子像素。请参阅图2，是现有技术的面板驱动架构的示意图。其中，横向走线为扫描线，纵向走线为数据线。给面板充电过程如下：第一条扫描线G1打开，第一行子像素充电，其它行不受影响，然后，第一条扫描线G1关闭；第二条扫描线G2打开，第二行子像素充电，其他行不受影响，然后第二条扫描线G2关闭······依次直到第n条扫描线Gn充电完成，如此便可得到所要显示的画面。以现有的面板驱动架构来说，由于其所有奇数线或所有偶数线均连接在一起，所以其只能实现一些简单的画面，例如纯色画面或者横向的彩条图像，然而检测面板的一个重要画面如图3中所示，其中间有个白色画面，边缘为灰色画面，用来检测面板的串扰状况，但是现有的奇偶线分开的面板驱动架构无法显示此类图像，这样的话将会使得存在串扰风险的面板流入后段制程，最终会被判定为不良品，从而造成后段成本以及人力的浪费。请继续参考图3，是本专利技术的阵列基板测试电路的电路图。所述阵列基板测试电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路包括：第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路包括：第一控制端，用于从测试设备接收第一控制信号；第二控制端，用于从测试设备接收第二控制信号；第一电压端，用于从测试设备接收第一电压；第二电压端，用于从测试设备接收第二电压；若干第一可控开关，每一第一可控开关的第一端连接所述第一控制端，每一第一可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；若干第二可控开关，每一第二可控开关的第一端连接所述第二控制端，每一第二可控开关的控制端连接所述第一电压端及所述第二电压端；第一显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第一可控开关的第二端连接所述第一显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个；及第二显示区域，包括若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素，每一第二可控开关的第二端连接所述第二显示区域的若干第一子像素、若干第二子像素及若干第三子像素中的一个。2.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一及第二可控开关均为N型薄膜晶体管，所述第一及第二可控开关的控制端、第一端及第二端分别对应所述N型薄膜晶体管的栅极、源极及漏极。3.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路还包括驱动芯片，所述驱动芯片包括若干输出引脚，每一输出引脚连接所述第一可控开关的第二端或所述第二可控开关的第二端。4.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述第一电压为低电平信号，所述第二电压为高电平信号，所述第二显示区域位于所述第一显示区域的中心位置，所述第一显示区域显示灰色画面，所述第二显示区域显示白色画面，所述第二显示区域的长度为所述第一显示区域的长度的二分之一或者三分之一，所述第二显示区域的宽度为所述第一显示区域的宽度的二分之一或者三分之一。5.根据权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述若干第一子像素为红色子像素，所述若干第二子像素为绿色子像素，所述第三子像素为蓝色子像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：国春朋，邹恭华，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42