微型显示器寿命测试系统技术方案

微型显示器寿命测试系统，涉及AMOLED微型显示器，尤其是一种用于检测微型显示器使用寿命的微型显示器寿命测试装置。本实用新型专利技术的微型显示器寿命测试系统，其特征在于该测试系统包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源，MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内，MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块，传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器，传感器模块与MCU微控制单元连接，MCU微控制单元与测试计算机连接，数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内，电压控制式可调恒流源安装在测试通道上且与MCU微控制单元连接。本实用新型专利技术的微型显示器寿命测试装置，设计科学，结构合理，使用方便。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及AMOLED微型显示器，尤其是一种用于检测微型显示器使用寿命的微型显示器寿命测试装置。
技术介绍
OLED，中文名为有机发光二极管，是近年来发展迅速的一门技术。从驱动方式上，OLED可分为主动矩阵式AMOLED和被动矩阵式PMOLED。一般来说，屏幕对角线1英寸以下的，称为OLED微型显示器。OLED为电流致发光，在恒定电流下，OLED器件会因为非本质和本质劣化因素发生退化，前者包括基板的平整度、微小颗粒的污染、有机层与电极层的分离、金属层的颗粒等，后者包括有机膜的稳定性、激发态的稳定性、可移动的离子杂质、正电荷的积累等。器件退化的外在表现是在恒定驱动下，亮度会随着时间衰减。亮度衰减到初始值一半时经过的时间称作半衰期t1/2。半衰期表征OLED显示器的寿命。寿命是评价AMOLED微型显示器性能的关键指标之一，因AMOLED微型显示器可广泛使用在各个领域，不同的使用环境、不同的使用亮度都将导致AMOLED微型显示器的使用寿命有所不同。目前，针对AMOLED微型显示器尚无专门的寿命测试分析设备，开发AMOLED微型显示器寿命测试系统，将为更好的研究AMOLED微型显示器的发光衰减特性提供测试分析平台，为AMOLED微型显示器特性研究积累更多的数据资料，对AMOLED微型显示器产业化的推进也极具重要意义。
技术实现思路
本技术所要解决的就是现有AMOLED微型显示器因用途各异，导致寿命不同，目前尚无专门的寿命测试分析设备的问题，提供一种用于检测微型显示器使用寿命的微型显示器寿命测试系统。本技术的微型显示器寿命测试系统，其特征在于该测试系统包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源，MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内，MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块，传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器，传感器模块与MCU微控制单元连接，MCU微控制单元与测试计算机连接，数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内，电压控制式可调恒流源安装在测试通道上且与MCU微控制单元连接。所述的亮度传感器为两个，两个亮度传感器上、下设置，提高亮度测量的准确性。所述的测试通道为256个，每16个测试通道安装在一个机架上，构成一组测试单元。所述的测试通道上还设置有遮光罩，提高测试时亮度值检测的准确性，避免外部光亮影响测试。所述的微型显示器寿命测试系统，其测试方式分别为恒流测试、恒压测试以及固定起始亮度测试三种方式，其测试步骤如下：（1）将待测试AMOLED微型显示器插接在恒压测试端口或恒流测试端口，并与传感器模块连接；（2）在待测试AMOLED微型显示器上方安装遮光罩；（3）分别设置驱动电压或驱动电流，设置环境温度警戒值及采集间隔时间，设置老化状态为否，设置寿命测试占空比为1:0保证画面不熄灭，设置自动停止测试其停止条件为半衰期；（4）通过MCU微控制单元调整待测试的AMOLED微型显示器的工作电压、电流或亮度，分别对应恒压测试模式、恒流测试模式或是固定起始亮度测试模式，恒压测试模式以及恒流测试模式则进入步骤（6），固定起始亮度测试模式进入步骤（5）；（5）利用MCU微控制单元调整待测试AMOLED微型显示器显示亮度至设定亮度值；（6）亮度传感器与温度传感器分别采集AMOLED微型显示器工作时的亮度及温度，并将数据通过MCU微控制单元传输至测试计算机内，通过测试计算机分析处理；（7）测试计算机判断步骤（6）测试得到的数据是否为首次采集的数据，若是则将此数据标记为初始数据并存储，亮度值标记为初始亮度L0，返回步骤（6）；若非首次采集，则计算出当前亮度L与初始亮度L0的衰减比例，测试的持续时间后，在监视界面进行显示并保存数据，然后根据步骤（3）中设置的停止条件判断是否停止测试；步骤（3）中所设停止条件为半衰期，则将采集到的亮度L与初始亮度L0做比较，若L≤（L0/2），则说明待测试AMOLED微型显示器亮度已衰减到起始亮度的一半，系统将停止此通道的测试；若L>（L0/2），则不满足停止条件，将返回步骤（6）继续进行测试。本技术的微型显示器寿命测试装置，设计科学，结构合理，使用方便，具有以下优点：1、填补了国内尚没有AMOLED微型显示器寿命测试设备的空缺；2、能容纳256个通道同时运行，极大的提高了测试效率；3、每个测试通道可以进行热插拔，在不需要关闭测试系统或者电源的情况下能移除通道或加入通道并且不影响其他通道的工作；4、每个通道都配有数据存储模块，在上位机发生故障时通道自身也能存储采集到的数据；5、拥有上位机软件，以良好的人机交互界面能够控制通道动作、分析处理以及存储通道上传的数据等功能；6、该系统能对AMOLED微型显示器进行恒压、恒流、或者固定起始亮度条件下的寿命测试。附图说明图1为本技术结构示意图。图2为本技术传感器模块结构示意图。其中，机架1，测试通道2，测试计算机3，MCU微控制单元4，温度传感器5，亮度传感器6。具体实施方式实施例1：一种微型显示器寿命测试系统，包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源，MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内，MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块，传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器，传感器模块与MCU微控制单元连接，MCU微控制单元与测试计算机连接，数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内，电压控制式可调恒流源安装在测试通道上且与MCU微控制单元连接。亮度传感器为两个，两个亮度传感器上、下设置，提高亮度测量的准确性。测试通道为256个，每16个测试通道安装在一个机架上，构成一组测试单元。测试通道上还设置有遮光罩，提高测试时亮度值检测的准确性，避免外部光亮影响测试。微型显示器寿命测试系统，其测试方式分别为恒流测试、恒压测试以及固定起始亮度测试三种方式，其测试步骤如下：（1）将待测试AMOLED微型显示器插接在恒压测试端口，并与传感器模块连接；（2）在待测试AMOLED微型显示器上方安装遮光罩；（3）设置驱动电压，设置环境温度警戒值及采集间隔时间，设置老化状态为否，设置寿命测试占空比为1:0保证画面不熄灭，设置自动停止测试其停止条件为半衰期；（4）通过MCU微控制单元调整待测试的AMOLED微型显示器的工作电压，使之处于恒压工作状态；（5）亮度传感器与温度传感器分别采集AMOLED微型显示器工作时的亮度及温度，并将数据通过MCU微控制单元传输至测试计算机内，通过测试计算机分析处理；（6）测试计算机判断步骤（5）测试得到的数据是否为首次采集的数据，若是则将此数据标记为初始数据并存储，亮度值标记为初始亮度L0，返回步骤（5）；若非首次采集，则计算出当前亮度L与初始亮度L0的衰减比例，测试的持续时间后，在监视界面进行显示并保存数据，然后根据步骤（3）中设置的停止条件判断是否停止测试；步骤（3）中所设停止条件为半衰期，则将采集到的亮度L与初始亮度L0做比较，若L≤（L0/2），则说明待测试AMOLED微型显示器亮度已衰减到起始亮度的一半，系统将停止此通道的测试；若L>（L0/2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微型显示器寿命测试系统，其特征在于该测试系统包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源，MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内，MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块，传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器，传感器模块与MCU微控制单元连接，MCU微控制单元与测试计算机连接，数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内，电压控制式可调恒流源安装在测试通道上且与MCU微控制单元连接。

【技术特征摘要】
1.一种微型显示器寿命测试系统，其特征在于该测试系统包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源，MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内，MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块，传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器，传感器模块与MCU微控制单元连接，MCU微控制单元与测试计算机连接，数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内，电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱胜迪，杨俊彦，于晓辉，吴斌，曹坤宇，
申请(专利权)人：云南北方奥雷德光电科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：云南;53