一种获取岩石地层因素的方法技术

本发明专利技术公开了一种获取岩石地层因素的方法，根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素，所述方法包括以下步骤：根据阿尔奇公式构造阿尔奇公式改进式，在所述阿尔奇公式改进式中，所述岩石地层因素与所述两种孔隙结构对应的孔隙度相关；根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素。与现有技术相比，本发明专利技术可以获取更为符合实际地质情况的岩石地层因素，从而大大提高了地质勘探结果的准确性，为之后的油气勘探开发提供更为准确有力的支持。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及地质勘探领域，具体说涉及一种获取岩石地层因素的方法。
技术介绍
确定岩石地层因素是石油测井解释饱和度评价中的一项重要内容。在现有技术中，确定岩石地层因素通常采用美国测井工程师G.E.Archie在1942发表的成果(被称为阿尔奇公式)。G.E.Archie通过大量的岩电实验数据分析发现：在双对数坐标下，“纯净”砂岩岩石地层因素与孔隙度呈线性关系，可表示为式(1)：F=R0Rw=aφm---(1)]]>其中：F为岩石地层因素，无量纲；R0为岩样100％含水时的电阻率，单位为欧姆·米；Rw为孔隙水电阻率，欧姆·米；φ为岩石孔隙度，小数；a、m为与岩石性质有关的常数。G.E.Archie的研究成果主要基于取自美国海湾地区的岩心样本孔隙度、电阻率测量结果，岩样孔隙度范围介于10％～40％。近年来，随着针对致密砂岩(以孔隙度小于10％为主)的岩石物理实验研究增多，大量的实验数据表明：在双对数坐标下，砂岩岩石地层因素与孔隙度不再是单一线性关系，而是呈现分段线性。在某些情况下，阿尔奇公式并不能很好的适用于致密砂岩储层测井解释。为此，国内外学者对致密砂岩岩石地层因素计算方法进行了探索，提出了取得了相应的成果，例如：毛志强(1997)、张明禄(2005)、郑庆林(2006)、伍泽云(2009)等分析了不同盆地致密砂岩油气区孔隙度-电阻率关系，依据孔隙度分段拟合阿尔奇公式参数，或用二次函数建立孔隙度与岩石地层因素关系，来提高岩石地层因素计算精度；李霞等(2012)将致密砂岩电阻视为自由水和微孔隙水两部分电阻的并联，提出了考虑孔隙结构的双孔隙饱和度计算模型；ChangxiLi等(2011)通过模型分析与岩心实验，建立了包含孔隙度、渗透率、平均孔喉半径的致密砂岩岩石地层因素计算模型。综合来看，上述新的岩石地层因素计算方法/计算模型考虑因素较多，形式较阿尔奇公式复杂，在实际测井资料处理解释应用中有一定的局限性。因此，针对现有技术中岩石地层因素的获取问题，需要一种相对简便的新方法以获取更为准确的岩石地层因素。
技术实现思路
针对现有技术中岩石地层因素的获取问题，本专利技术提供了一种获取岩石地层因素的方法，根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素，所述方法包括以下步骤：根据阿尔奇公式构造阿尔奇公式改进式，在所述阿尔奇公式改进式中，所述岩石地层因素与所述两种孔隙结构对应的孔隙度相关；根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素。在一实施例中，在构造所述阿尔奇公式改进式的过程中，定义特定的孔隙结构为宏导电孔隙，所述宏导电孔隙对应的孔隙度为宏导电孔隙度，其中：按照不同的特定比例所述两种孔隙结构可以分别折算为所述宏导电孔隙；在双对数坐标下所述宏导电孔隙度与所述岩石地层因素呈现特定的线性关系。在一实施例中，根据所述岩石地层因素与孔隙度关系的拐点区别划分所述两种孔隙结构。在一实施例中，所述两种孔隙结构分别为大孔径孔隙和小孔径孔隙，对应的孔隙度分别为大孔径孔隙度和小孔径孔隙度，其中：以所述拐点对应的孔隙的孔喉半径作为分界值；将所述孔喉半径大于所述分界值的孔隙划分为所述大孔径孔隙；将所述孔喉半径小于等于所述分界值的孔隙划分为所述小孔径孔隙。在一实施例中，以孔隙度10％作为所述拐点。在一实施例中，利用岩样的压汞实验测量数据绘制孔径分布图以获取不同孔隙对应的所述孔喉半径以及所述孔隙度。在一实施例中，在根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素的过程中：根据岩样的实验测量数据计算获取所述阿尔奇公式改进式的参数值；将所述参数值代入所述阿尔奇公式改进式以计算获取所述岩石地层因素。在一实施例中，在获取所述参数值的过程中：通过所述岩样的岩电实验测量数据获取所述岩样的岩石地层因素；通过所述岩样的压汞实验测量数据获取所述两种孔隙结构对应的孔隙度；基于所述阿尔奇公式改进式根据所述岩样的岩石地层因素以及所述两种孔隙结构对应的孔隙度拟合获取所述参数值。在一实施例中，在计算获取所述岩石地层因素的过程中：通过压汞实验测量分别获取所述两种孔隙结构对应的孔隙度；基于所述阿尔奇公式改进式根据所述两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素。在一实施例中，定义伪宏导电孔隙度，所述伪宏导电孔隙度在双对数坐标下与所述岩石地层因素呈现单一线性关系，在将所述参数值代入所述阿尔奇公式改进式的过程中：基于所述阿尔奇公式改进式通过相关的所述岩样的压汞实验测量数据获取所述岩样的总孔隙度与伪宏导电孔隙度的相互关系；获取待分析岩石/岩层的所述总孔隙度根据所述相互关系计算获取所述待分析岩石/岩层的伪宏导电孔隙度进而计算获取所述待分析岩石/岩层的岩石地层因素。与现有技术相比，本专利技术可以获取更为符合实际地质情况的岩石地层因素，从而大大提高了地质勘探结果的准确性，为之后的油气勘探开发提供更为准确有力的支持。本专利技术的其它特征或优点将在随后的说明书中阐述。并且，本专利技术的部分特征或优点将通过说明书而变得显而易见，或者通过实施本专利技术而被了解。本专利技术的目的和部分优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的步骤来实现或获得。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例共同用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是根据本专利技术一实施例的流程图；图2是根据本专利技术一实施例伪宏导电孔隙度与岩石地层因素实验数据记录图；图3是根据本专利技术一实施例岩样孔喉半径分布图；图4是根据本专利技术一实施例以及现有技术的实验数据-计算数据关系图；图5是根据本专利技术一实施例孔隙度-伪宏导电孔隙度关系图；图6是根据本专利技术另一实施例的实验数据-计算数据关系图。具体实施方式以下将结合附图及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，借此本专利技术的实施人员可以充分理解本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程并依据上述实现过程具体实施本专利技术。需要说明的是，只要不构成冲突，本专利技术中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本专利技术的保护范围之内。在现有技术中，确定岩石地层因素通常采用阿尔奇公式(式1)。由于阿尔奇公式的提出主要基于取自美国海湾地区的岩心样本孔隙度、电阻率测量结果，其试用的岩样主要为孔隙度范围介于10％～40％。在某些情况下，阿尔奇公式并不能很好的适用于致密砂岩储层测井解释。同时，现有技术中其他获取岩石地层因素的方法及计算模型均不同程度的存在考虑因素较多，形式较阿尔奇公式复杂，在实际测井资料处理解释应用中有一定的局限性等问题。为解决上述问题，在获取更为准确的岩石地层因素的基础上简化操作流程，本专利技术提出了一种相对简便的获取岩石地层因素的方法。本专利技术的方法根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取岩石地层因素。相较于现有技术中利用阿尔奇公式获取岩石地层因素，本专利技术的计算结果更符合实际地质情况。接下来基于附图详细说明本专利技术的具体执行过程，附图的流程图中示出的步骤可以在包含诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。虽然在流程图中示出了各步骤的逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。在本实施例中，如图1所示，首先基于对实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种获取岩石地层因素的方法，其特征在于，根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素，所述方法包括以下步骤：根据阿尔奇公式构造阿尔奇公式改进式，在所述阿尔奇公式改进式中，所述岩石地层因素与所述两种孔隙结构对应的孔隙度相关；根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素。

【技术特征摘要】
1.一种获取岩石地层因素的方法，其特征在于，根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素，所述方法包括以下步骤：根据阿尔奇公式构造阿尔奇公式改进式，在所述阿尔奇公式改进式中，所述岩石地层因素与所述两种孔隙结构对应的孔隙度相关；根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在构造所述阿尔奇公式改进式的过程中，定义特定的孔隙结构为宏导电孔隙，所述宏导电孔隙对应的孔隙度为宏导电孔隙度，其中：按照不同的特定比例所述两种孔隙结构可以分别折算为所述宏导电孔隙；在双对数坐标下所述宏导电孔隙度与所述岩石地层因素呈现特定的线性关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述岩石地层因素与孔隙度关系的拐点区别划分所述两种孔隙结构。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述两种孔隙结构分别为大孔径孔隙和小孔径孔隙，对应的孔隙度分别为大孔径孔隙度和小孔径孔隙度，其中：以所述拐点对应的孔隙的孔喉半径作为分界值；将所述孔喉半径大于所述分界值的孔隙划分为所述大孔径孔隙；将所述孔喉半径小于等于所述分界值的孔隙划分为所述小孔径孔隙。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，利用岩样的压汞实验测量数据绘制孔径分布图以获取不同孔隙对应的所述孔喉半径以及所述孔隙度。6.根据权利要求3-5中任一项所述的方法，其特征在于，以孔隙度10％作为...

【专利技术属性】
技术研发人员：张军，李军，苏俊磊，武清钊，南泽宇，郝士博，王晓畅，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11