光学量测装置制造方法及图纸

本发明专利技术有关于一种光学量测装置，其包含一导光板与至少一发光件，该导光板具有一第一表面、一第二表面与一入光面，该第一表面相对于该第二表面，该入光面连接于该第一表面与该第二表面的侧边，复数个光学结构设置于该第一表面，并排列成一单位刻度标示；以及该至少一发光件设置于该入光面。本发明专利技术的光学量测装置本身就能提供足够的光线进行照明，于光线不足的环境下还能够进行准确的量测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种量测装置，尤指针对于一种光学量测装置。
技术介绍
有关于一般传统的量测装置包含直尺、量角器、三角尺、软尺、卷尺或T尺等等，而直尺是用来画线段(通常是直线)或测量长度的工具，量角器用于量测角度，三角尺分为等腰三角型或直角三角型，可用于画出并行线或垂直线等等，软尺可用于卷曲弯折改变形状，故适用于量测人体部位，如胸围、腰围或臀围等等，卷尺通常为卷曲铁尺，通常用于量测建筑物或家具等等，而该T尺则是美术或工程用尺。而于标尺作图中，直尺是最常被利用的工具，直尺上通常具有单位刻度以作为量测长度，又，于有些直尺上更穿设复数个孔洞，如字母或多边形状，以方便使用者于画图时更能作其它标示，其中直尺通常以塑料或铁制造，亦有以硬纸、木头、竹子制的。于习知技术中，利用传统的直尺进行有关于量测方面的工作，有可能因为环境等外在的因素影响，如光线不足等，而造成无法准确判断刻度。另外，一般市面上的量测器大多为塑料材质所制成，且于量测器的一侧面的侧边处以墨料印刷上单位刻度标示，而量测器于长期使用下来，由于塑料材质所制作出来的量测器容易因刮伤而产生不必要的刮痕，或容易导致量测器的侧边处产生磨耗，而产生不平的凹凸，而导致无法利用该量测器画出标准的直线，且塑料材质容易翘曲和吸湿胀大，导致量测器上的刻度间距有误，也有可能因为墨线容易被磨损掉，而无法准确的判断刻度。故，本专利技术针对于习知技术的缺点进行改良，而提供一种光学量测装置，透过导光板的设计，而改善习知技术的缺点。
技术实现思路
本专利技术的一目的，在于提供一种光学量测装置，本身能提供足够的光线进行照明，于光线不足的环境下还能够进行准确的量测。本专利技术的一目的，在于提供一种光学量测装置，不容易产生翘曲和吸湿胀大，并硬度高不容易刮伤与损耗，且刻度不易被磨损，减少影响量测的因素。为达上述所指称的目的及功效，本专利技术为一种光学量测装置，其包含一导光板与至少一发光件，具有一第一表面、一第二表面与一入光面，该第一表面相对于该第二表面，该入光面连接于该第一表面与该第二表面的侧边，复数个光学结构设置于该第一表面，并排列成一单位刻度标示；以及该至少一发光件设置于该入光面。附图说明图1：其为本专利技术的第一实施例的光学量测装置的立体图；图2：其为本专利技术的第一实施例的光学量测装置的光线路径图；图3：其为本专利技术的第一实施例的光学量测装置的量测示意图；图4：其为本专利技术的第二实施例的光学量测装置的示意图；以及图5：其为本专利技术的第三实施例的光学量测装置的示意图。【图号对照说明】1光学量测装置11、11A、11B导光板111第一表面112第二表面113入光面114、114A、114B光学结构115、115A、115B单位刻度标示12、12A、12B发光件2待测物3直尺4量角器5三角尺6、6A、6B反射件61容置槽A使用者的目光P光线具体实施方式为了使本专利技术的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，特用较佳的实施例及配合详细的说明，说明如下：请参阅图1，其为本专利技术的光学量测装置的立体图；如图所示，本专利技术为一种光学量测装置1，其应用于多种类型的量测装置，例如：直尺、量角器或三角尺等等，本实施例以一直尺3作为说明，该光学量测装置1包含一导光板11与至少一发光件12，该导光板11具有一第一表面111、一第二表面112与一入光面113，该第一表面111相对于该第二表面112，该入光面113连接于该第一表面111与该第二表面112的侧边，复数个光学结构114设置于该第一表面111，并排列成一单位刻度标示115；以及该至少一发光件12设置于该入光面113。承上所述，本专利技术于该光学量测装置1的该导光板11为一矩形板体，该导光板11的该第一表面111设置该些个光学结构114，该些个光学结构114为数字、刻度、标示或单位等等，而本实施例的该单位刻度标示115为一长度单位，如公厘、公分或吋等，本实施例并不限制该单位刻度标示115为公制单位或英制单位，依据使用者的需求作设置，其中该些个光学结构114可利用印刷式或非印刷式的方式进行制作，可利用印刷式将高散光源物质(SiO2&TiO2)的印刷材料排列设置于该导光板11的该第一表面111，亦或是利用非印刷方式中的压模成型(Stamper)、蚀刻(Etching)、微沟切削(V-cut)或内部扩散等等方式制作于该导光板11的该第一表面111，本专利技术并不限定该些个光学结构114的制作方法，其依据使用者的需求作设计。请一并参阅图2与图3，其为本专利技术的第一实施例的光学量测装置的光线路径图与量测示意图；如图所示，本实施例的该光学量测装置1用于量测一待测物2，该待测物2置放于该光学量测装置1具有该单位刻度标示115的一侧，而一使用者的目光A于直视量测时，该至少一发光件12发出一光线P，该光线P从该入光面113进入该导光板11，而该光线P照射于该第一表面111的该些个光学结构114，该些个光学结构114折射或反射该光线P，该光线P从该第一表面111或该第二表面112射出，亦或是直接往该导光板11的周侧面向外射出，该导光板11的周围具有足够的照明，该光线P照射于该待测物2，使该待测物2的周围有足够的光线，该使用者的目光A能清楚的观看该待测物2，并能准确判断该待测物2对应于该单位刻度标示115位置，以得出该待测物2的尺寸大小，其中该至少一发光件12为发光二极管芯片，而其发光二极管芯片所发出的该光线P也不限定为白光，也能发出红光、绿光或蓝光等光线，可依据使用的环境条件或使用者需求做设计。另外，进一步设置一反射件6，该反射件6具有一容置槽61，该反射件6设置于该导光板11的该入光面113侧，并罩盖该至少一发光件12的周围，该至少一发光件12位于该容置槽61内，以提升该至少一发光件12的光线使用效率。本实施例针对于一般传统量测器的技术作改良，一般来说，最常利用直尺进行有关于量测方面的工作，但无法避免因为环境等外在的因素影响(如光线不足等)，而导致以量测器进行量测，而有所误判的情事发生，故，本专利技术的该光学量测装置1于进行量测时，其本身就能提供足够的该光线P照射于该待测物2，该使用者的目光A能清楚的观看量测。再者，目前的量测器大多以塑料材质所制成，此种样式的直尺于长期使用下来，由于塑料材质硬度不高，所以容易因刮伤而产生不必要的刮痕，或容易导致量测器的具有印刷单位刻度标示的侧边处产生磨耗，而产生不平的凹凸，又，塑料材质容易翘曲和吸湿胀大，导致量测器上的刻度间距有误，而无法准确的判断刻度，所以本专利技术以光学级玻璃材料制作的导光板，其材料的硬度较好，不容易被刮伤或磨损，且不易翘曲和吸湿胀大。另外，一般量测器的一侧面的侧边处以油墨印刷的方式制作刻度，于使用时容易遭到磨损，使刻度模糊不清，量测时容易产生误判，而本专利技术则以印刷式高散光源物质(SiO2&TiO2)的印刷材料，亦或是利用非印刷方式中的压模成型(Stamper)、蚀刻(Etching)、微沟切削(V-cut)或内部扩散等等方式制作于该导光板11上的该单位刻度标示115，能够改良传统油墨印刷亦于磨损的缺点。请一并参阅图4，其为本专利技术的第二实施例的光学量测装置的示意图；如图所示，本实施例与第一实施例的差异在于，本实施例应用于一量角器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学量测装置，其特征在于，其包含：一导光板，具有一第一表面、一第二表面与一入光面，该第一表面相对于该第二表面，该入光面连接于该第一表面与该第二表面的侧边，复数个光学结构设置于该第一表面，并排列成一单位刻度标示；以及至少一发光件，其设置于该入光面。

【技术特征摘要】
1.一种光学量测装置，其特征在于，其包含：一导光板，具有一第一表面、一第二表面与一入光面，该第一表面相对于该第二表面，该入光面连接于该第一表面与该第二表面的侧边，复数个光学结构设置于该第一表面，并排列成一单位刻度标示；以及至少一发光件，其设置于该入光面。2.如权利要求1所述的光学量测装置，其特征在于，其中该导光板为矩形板体、半圆板体或三角板体。3.如权利要求1所述的光学量测装置，其特征在于，其中该单位刻度标示为一长度单位或一角度单位。4.如权利要求3所述的光学量测装置，其特征在于，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢锦坤，简俊杰，
申请(专利权)人：云光科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71