【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示领域,特别是涉及一种有机薄膜晶体管及其制作方法。
技术介绍
在有机薄膜晶体管(OTFT)中,通常是金属源/漏极图案直接与有机半导体(OSC)层直接接触,金属源/漏极图案通过表面单层自组装(SAM)的方法增加金属功函数,使之与有机半导体层的HOMO能级匹配。但是采用SAM处理,对改善金属源/漏极图案与有机半导体层的接触性能是有限的,从而使得有机薄膜晶体管中的漏电较大。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种有机薄膜晶体管及其制作方法,能够大大提高源/漏极图案与有机半导体层的接触性,进而减少有机薄膜晶体管中的漏电问题。为解决上述技术问题,本专利技术采用的一个技术方案是:提供一种有机薄膜晶体管的制作方法,该制作方法包括:提供一基板;在基板上形成有机半导体图案、与有机半导体图案两侧接触的源/漏极图案,其中,有机半导体图案包括与源/漏极图案接触的第一掺杂区和远离源/漏极图案的第二掺杂区,第一掺杂区和第二掺杂区具有不同的电导率;在形成有有机半导体图案和源/漏极图案的基板上形成第一绝缘层、栅极图案、信号传输线、第二绝缘层和像素电极。其中,在基板上形成有机半导体图案、与有机半导体图案两侧接触的源/漏极图案的步骤包括:在基板上形成有机半导体层、与有机半导体层两侧接触的源/漏极图案;形成覆盖有机半导体层和源/漏极图案的电解质薄膜层;在电解质薄膜层上形成辅助电极,其中,辅助电极设置在源/漏极图案和有机半导体层相接触的区域的正对位置;在辅助电极和源/漏极图案之间施加偏置电压以使电解质薄膜层中的导电离子流入有机半导体层,以形成包括第一掺杂区和第二掺 ...
【技术保护点】
一种有机薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,所述制作制作方法包括:提供一基板;在所述基板上形成有机半导体图案、与所述有机半导体图案两侧接触的源/漏极图案,其中,所述有机半导体图案包括与所述源/漏极图案接触的第一掺杂区和远离所述源/漏极图案的第二掺杂区,所述第一掺杂区和所述第二掺杂区具有不同的电导率;在形成有所述有机半导体图案和所述源漏极图案的所述基板上形成第一绝缘层、栅极图案、信号传输线、第二绝缘层和像素电极。
【技术特征摘要】
1.一种有机薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,所述制作制作方法包括:提供一基板;在所述基板上形成有机半导体图案、与所述有机半导体图案两侧接触的源/漏极图案,其中,所述有机半导体图案包括与所述源/漏极图案接触的第一掺杂区和远离所述源/漏极图案的第二掺杂区,所述第一掺杂区和所述第二掺杂区具有不同的电导率;在形成有所述有机半导体图案和所述源漏极图案的所述基板上形成第一绝缘层、栅极图案、信号传输线、第二绝缘层和像素电极。2.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,在所述基板上形成有机半导体图案、与所述有机半导体图案两侧接触的源/漏极图案的步骤包括:在所述基板上形成有机半导体层、与所述有机半导体层两侧接触的源/漏极图案;形成覆盖所述有机半导体层和所述源/漏极图案的电解质薄膜层;在所述电解质薄膜层上形成辅助电极,其中,所述辅助电极设置在所述源/漏极图案和所述有机半导体层相接触的区域的正对位置;在所述辅助电极和所述源/漏极图案之间施加偏置电压以使所述电解质薄膜层中的导电离子流入所述有机半导体层,以形成包括所述第一掺杂区和所述第二掺杂区的所述有机半导体图案;去掉所述辅助电极和所述电解质薄膜层。3.根据权利要求2所述的制作方法,其特征在于,所述电解质薄膜层的材料为凝胶型聚合物电解质、全固态聚合物电解质、多孔型聚合物电解质和复合型聚合物电解质中的至少一种。4.根据权利要求1至3任一项所述的制作方法,其特征在于,所述在形成有所述有机半导体图案和所述源/漏极图案的所述基板上形成第一绝缘层、栅极图案、信号传输线、第二绝缘层和像素电极的步骤包括:形成覆盖所述有机半导体图案和所述源/漏极图案的第一绝缘层,其中,所述第一绝缘层设置有暴露出一所述源/漏极图案的第一过孔;在所述第一绝缘层上形成所述栅极图案和所述信号传输线,其中,所述信号传输线通过所述第一过孔与对应的所述源/漏极图案接触;形成覆盖所述栅极图案和所述信号传输线的第二绝缘层,其中,所述第二绝缘层设置有暴露出另一所述源/漏极图案的第二过孔;在所述第二绝缘层上形成所述像素电极,其中,所述像素电极通过所述第二过孔与对应的所述源/漏极图案接触。5.根据权利要求1至3任一项所述的制作方法,其特征在于,所述在形成有所述有机半导体图案和所述源/漏极图案的所述基板上形成第一绝缘层、栅极图案、信号传输线、第二绝缘层和像素电极的步骤包括:形成覆盖所述有机半导体图案和所述源/漏极图案的第一绝缘层,其中,所述第一绝缘层设置有分别暴露出对应的所述源/漏极图案的两个第一过孔;在所述第一绝缘层上形成所述栅极图案和两条所述信号传输线,其中,两条所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘哲,
申请(专利权)人:武汉华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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