分光器件检测方法及检测系统技术方案

本发明专利技术适用于立体显示技术领域，提供了分光器件检测系统，包括检测图像获取装置和图像处理装置，图像获取装置获取分光器件在聚焦状态下形成的检测图像，图像处理装置判断检测图像是否满足第一预设条件，检测图像包括波峰区间和波谷区间，第一预设条件是指，波峰区间包括至少一个波峰极值，且波峰极值不小于第一预设值，波谷区间的平滑度值不大于第二预设值，若检测图像满足第一预设条件，则图像处理装置判定分光器件为合格品。利用分光器件在聚焦状态下的能量分布，完成对分光器件的质量检测，检测过程无需操作人员评价，检测结果可靠性高，且检测效率高。本实施例还提供分光器件检测方法，该检测方法简单易于操作，确保检测结果可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于立体显示
，尤其涉及分光器件检测方法及检测系统。
技术介绍
近几年，三维立体显示技术发展迅速，成为人们研究的热点。目前立体显示技术在医疗、广告、军事、展览、游戏等领域有重要的应用。早期的立体显示技术主要通过佩戴立体眼镜观看立体画面，而目前的主流产品是基于双目视差的裸眼立体显示装置，裸眼立体显示装置主要原理是在显示面板前设置分光器件，分光器件将显示面板显示的至少两幅视差图像分别提供给观看者的左、右眼，使观看者看到3D图像。裸眼3D显示可以分为光壁障技术和透镜技术。如图1所示，透镜技术是通过在显示面板2a上方设置柱状透镜1a。显示面板2a上一部分子像素显示左眼图像，一部分显示右眼图像，左右眼像素所发出的光经过柱状透镜，1a因为其折射作用，光线传播方向发生偏折，从而使左眼像素的光射入观看者的左眼，右眼像素的光射入观看者的右眼。在初始阶段，人们利用柱透镜光栅以实现裸眼立体显示。柱透镜光栅为透明薄膜，一般由倒模的方法制备而成。在制备过程中，需要制作精密的树脂棱镜模具，由于树脂棱镜模具制作工艺复杂，且液晶灌注在棱镜模具上，配向效果不佳，制成的产品良品率低下，因此，柱透镜光栅在出厂前，需要对其进行检测，以确保产品质量。现有的柱透镜光栅检测系统是通过观察设置在柱透镜光栅下方评价线的状态来评价柱透镜光栅的透镜棱的弯曲和瑕疵，需要操作人员观察，不仅增加操作人员工作负担，而且检测结果具有较大的随意性，可靠性不高。如何找到一种检测方法，可以方便可靠地检测分光器件的产品质量，是本领域技术人员迫切需要解决的技术问题之一。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供分光器件检测方法，旨在解决现有技术无法方便可靠地检测分光器件的产品质量的问题。本专利技术实施例是这样实现的，分光器件检测方法，包括如下步骤：S1获取分光器件在聚焦状态下形成的检测图像；S2判断所述检测图像是否满足第一预设条件，所述检测图像包括波峰区间和波谷区间，所述第一预设条件是指，所述波峰区间包括至少一个波峰极值，且所述波峰极值不小于第一预设值，所述波谷区间的平滑度值不大于第二预设值；S3若所述检测图像满足所述第一预设条件，则判定所述分光器件为合格品。具体地，步骤S2包括：S10将所述检测图像划分为周期排布的多个检测区间，每个所述检测区间包括至少一个波峰区间和至少一个波谷区间。进一步地，所述检测区间包括一个波峰区间和一个波谷区间，步骤S10包括：S110根据所述检测图像获取波谷值；S120根据所述波谷值划分所述检测区间。具体地，步骤S110包括：S111设定所述检测图像中的待检测区域，所述待检测区域包含多个待检测对象，所述检测对象在所述检测图像中有确定的能量值；S112检测所述检测对象是否满足第二预设条件，所述第二预设条件是指选取所述待检测区域内的一个所述检测对象与所述待检测区域内的其他所述检测对象对应的能量值之差小于第三预设值；S113若选取的所述检测对象满足所述第二预设条件，则保存选取的所述检测对象对应的能量值为所述波谷值。进一步地，在步骤S112和步骤S113之间，步骤S110还包括：S114若所述待检测区域不包含所述波谷值，则重新设定所述待检测区域。进一步地，在步骤S114之后，步骤S110还包括：S115若遍历所述检测图像仍未找到所述波谷值，则对所述检测图像进行平滑化处理。具体地，步骤S120包括：S121根据所述波谷值获取临界点，所述临界点用于区分所述波谷区间与所述波峰区间；S122根据所述临界点划分所述检测区间。进一步地，在步骤S122之后，所述步骤S120还包括：S123检测所述检测区间的区间长度是否符合第四预设值；S124若所述区间长度不符合所述第四预设值，则对所述临界点进行处理。具体地，步骤S124包括：S1241若所述区间长度小于所述第四预设值，则删除所述检测区间对应的所述临界点；S1242若所述区间长度大于所述第四预设值，则在所述检测区间增加所述临界点。具体地，步骤S2包括：S210检测所述检测图像是否存在所述波峰极值；S211若存在所述波峰极值，进入所述步骤S110。进一步地，在步骤S124之后，步骤S2包括：S220检测所述波峰极值是否不小于所述第一预设值；S221若所述波峰极值小于所述第一预设值，则判断所述检测图像不满足所述第一预设条件，并判定所述分光器件为不合格品。进一步地，在步骤S220之后，所述步骤S2还包括：S230获取各个所述波谷区间对应的波谷均方根值；S231根据所述波谷均方根值检测所述平滑度值是否不大于所述第二预设值；S232若所述平滑度值大于所述第二预设值，则判断所述检测图像不满足所述第一预设条件，并判定所述分光器件为不合格品。进一步地，在步骤S230之后，步骤S2还包括：S240检测所述波峰区间与相对应的所述检测区间的长度比值是否小于第五预设值；S241若所述长度比值大于所述第五预设值，则判断所述检测图像不满足所述第一预设条件，并判定所述分光器件为不合格品。本专利技术实施例提供的分光器件检测方法，获取分光器件在聚焦状态形成的检测图像，判断检测图像是否满足第一预设条件，若检测图像满足第一预设条件，则判定该分光器件为合格品，符合检测要求，完成对分光器件出厂前的质量检测。本实施例提供的检测方法根据分光器件在聚焦状态下形成的聚焦区域与非聚焦区域，分别检测分光器件的聚焦区域和非聚焦区域，从而判断检测图像是否符合第一预设条件，继而判定该分光器件是否为合格品。在检测过程无需操作人员评价，检测结果可靠性高，且检测效率高。本专利技术实施例的另一目的在于提供分光器件检测系统，包括检测图像获取装置和图像处理装置，所述检测图像获取装置获取所述分光器件在聚焦状态下形成的检测图像，所述图像处理装置判断所述检测图像是否满足第一预设条件，若所述检测图像满足所述第一预设条件，则所述图像处理装置判定所述分光器件为合格品；其中，所述检测图像包括波峰区间和波谷区间，所述第一预设条件是指，所述波峰区间包括至少一个波峰极值，且所述波峰极值不小于第一预设值，所述波谷区间的平滑度值不大于第二预设值。具体地，所述图像处理装置包括区间划分模块，所述区间划分模块将所述检测图像划分为周期排布的多个检测区间，每个所述检测区间包括至少一个波峰区间和至少一个波谷区间。进一步地，所述检测区间包括一个波峰区间和一个波谷区间，所述区间划分模块包括处理子模块和周期划分子模块，所述处理子模块根据所述检测图像获取波谷值，所述周期划分子模块根据所述波谷值划分所述检测区间。进一步地，所述处理子模块包括区域设定单元、波谷值检测单元和波谷值保存单元，所述区域设定单元设定检测图像中的待检测区域，所述待检测区域内包含多个待检测对象，所述检测对象在所述检测图像中有确定的能量值，所述波谷值检测单元检测所述检测对象是否满足第二预设条件，所述第二预设条件是指选取所述待检测区域内的一个所述检测对象与所述待检测区域内的其他所述检测对象对应的能量值之差小于第三预设值，若选取的所述检测对象满足所述第二预设条件，所述波谷值保存单元保存选取的所述检测对象对应的能量值为所述波谷值，若波谷值检测单元在设定的所述待检测区域内检测所述检测对象不满足所述第二预设条件，则所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
分光器件检测方法，其特征在于：包括如下步骤：S1获取分光器件在聚焦状态下形成的检测图像；S2判断所述检测图像是否满足第一预设条件，所述检测图像包括波峰区间和波谷区间，所述第一预设条件是指，所述波峰区间包括至少一个波峰极值，且所述波峰极值不小于第一预设值，所述波谷区间的平滑度值不大于第二预设值；S3若所述检测图像满足所述第一预设条件，则判定所述分光器件为合格品。

【技术特征摘要】
1.分光器件检测方法，其特征在于：包括如下步骤：S1获取分光器件在聚焦状态下形成的检测图像；S2判断所述检测图像是否满足第一预设条件，所述检测图像包括波峰区间和波谷区间，所述第一预设条件是指，所述波峰区间包括至少一个波峰极值，且所述波峰极值不小于第一预设值，所述波谷区间的平滑度值不大于第二预设值；S3若所述检测图像满足所述第一预设条件，则判定所述分光器件为合格品。2.如权利要求1所述的分光器件检测方法，其特征在于：步骤S2包括：S10将所述检测图像划分为周期排布的多个检测区间，每个所述检测区间包括至少一个波峰区间和至少一个波谷区间。3.如权利要求2所述的分光器件检测方法，其特征在于：所述检测区间包括一个波峰区间和一个波谷区间，步骤S10包括：S110根据所述检测图像获取波谷值；S120根据所述波谷值划分所述检测区间。4.如权利要求3所述的分光器件检测方法，其特征在于：步骤S110包括：S111设定所述检测图像中的待检测区域，所述待检测区域包含多个待检测对象，所述检测对象在所述检测图像中有确定的能量值；S112检测所述检测对象是否满足第二预设条件，所述第二预设条件是指选取所述待检测区域内的一个所述检测对象与所述待检测区域内的其他所述检测对象对应的能量值之差小于第三预设值；S113若选取的所述检测对象满足所述第二预设条件，则保存选取的所述检测对象对应的能量值为所述波谷值。5.如权利要求4所述的分光器件检测方法，其特征在于：在步骤S112和步骤S113之间，步骤S110还包括：S114若所述待检测区域不包含所述波谷值，则重新设定所述待检测区域。6.如权利要求5所述的分光器件检测方法，其特征在于：在步骤S114之后，步骤S110还包括：S115若遍历所述检测图像仍未找到所述波谷值，则对所述检测图像进行平滑化处理。7.如权利要求3至6中任一项所述的分光器件检测方法，其特征在于：步骤S120包括：S121根据所述波谷值获取临界点，所述临界点用于区分所述波谷区间与所述波峰区间；S122根据所述临界点划分所述检测区间。8.如权利要求7所述的分光器件检测方法，其特征在于：在步骤S122之后，所述步骤S120还包括：S123检测所述检测区间的区间长度是否符合第四预设值；S124若所述区间长度不符合所述第四预设值，则对所述临界点进行处理。9.如权利要求8所述的分光器件检测方法，其特征在于：步骤S124包括：S1241若所述区间长度小于所述第四预设值，则删除所述检测区间对应的所述临界点；S1242若所述区间长度大于所述第四预设值，则在所述检测区间增加所述临界点。10.如权利要求8所述的分光器件检测方法，其特征在于：步骤S2包括：S210检测所述检测图像是否存在所述波峰极值；S211若存在所述波峰极值，进入所述步骤S110。11.如权利要求10所述的分光器件检测方法，其特征在于：在步骤S124之后，步骤S2包括：S220检测所述波峰极值是否不小于所述第一预设值；S221若所述波峰极值小于所述第一预设值，则判断所述检测图像不满足所述第一预设条件，并判定所述分光器件为不合格品。12.如权利要求11所述的分光器件检测方法，其特征在于：在步骤S220之后，所述步骤S2还包括：S230获取各个所述波谷区间对应的波谷均方根值；S231根据所述波谷均方根值检测所述平滑度值是否不大于所述第二预设值；S232若所述平滑度值大于所述第二预设值，则判断所述检测图像不满足所述第一预设条件，并判定所述分光器件为不合格品。13.如权利要求12所述的分光器件检测方法，其特征在于：在步骤S230之后，步骤S2还包括：S240检测所述波峰区间与相对应的所述检测区间的长度比值是否小于第五预设值；S241若所述长度比值大于所述第五预设值，则判断所述检测图像不满足所述第一预设条件，并判定所述分光器件为不合格品。14.分光器件检测系统，其特征在于：包括检测图像获取装置和图像处理装置，所述检测图像获取装置获取所述分光器件在聚焦状态下形成的检测图像，所述图像处理装置判断所述检测图像是否满足第一预设条件，若所述检测图像满足所述第一预设条件，则所述图像处理装置判定所述分光器件为合格品；其中，所述检测图像包括波峰区间和波谷区间，所述第一预设条件是指，所述波峰区间包括至少一个波峰极值，且所述波峰极值不小于第一预设值，所述波谷区间的平滑度值不大于第二预设值。15.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚劲，陈思正，
申请(专利权)人：深圳超多维光电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44