本发明专利技术公开了一种用于集成电路的定点检测机构,包括夹持底座、立柱、伸缩管、旋转机构、伸缩杆和连接在伸缩杆一端的探针;夹持底座成型有一通槽,通槽的上侧壁成型有一对连接柱,通槽内设有夹持板,夹持板的上端成型有一对插接柱,连接柱的底面成型有插槽,插接柱插接在插槽内,连接柱上插套有第一压簧;伸缩管的一端成型有圆形的连接套,连接套插套在立柱上,连接套的外侧壁上成型有环形的齿圈,旋转机构包括与齿圈的一侧啮合连接的旋转齿轮、插套在旋转齿轮中部的竖直的花键轴;伸缩管的另一端成型有伸缩槽,伸缩杆插接在伸缩槽内。本发明专利技术能释放双手,方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。
【技术实现步骤摘要】
:本专利技术涉及集成电路检测设备的
,具体是涉及一种用于集成电路的定点检测机构。
技术介绍
:运算放大器集成电路,又称为集成运算放大器,简称为集成运放,是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。现有的运算放大器集成电路的检测一般是人工使用万用表直流电压档,测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高),同时用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号),若万用表表针有较大幅度的摆动,则说明该运算放大器完好,若万用表表针不动,则说明运算放大器已损坏。而诸如此类的手工检测,都要依靠手持与检测表相连的探针去接触集成电路检测部位的定位检测点,但如果是运算放大器集成电路的检测,还需要手动给集成电路加入干扰信号,这样单人双手完成检测则较为困难。有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种新型结构的用于集成电路的定点检测机构,使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
:本专利技术的目的旨在解决现有技术存在的问题,提供一种能释放双手,方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接的用于集成电路的定点检测机构。本专利技术涉及一种用于集成电路的定点检测机构,包括夹持底座、插接在所述夹持底座上的立柱、插套在所述立柱上的伸缩管、连接在所述伸缩管一端的旋转机构、插套在伸缩管内的伸缩杆和连接在所述伸缩杆一端的探针;所述夹持底座的中部成型有一通槽,所述通槽的上侧壁成型有一对连接柱,通槽内设有夹持板,所述夹持板的上端成型有一对与所述连接柱配合的插接柱,连接柱的底面成型有插槽,所述插接柱插接在所述插槽内,连接柱上插套有第一压簧,所述第一压簧的上端抵靠在连接柱的底面上、下端抵靠在夹持板的顶面上;所述伸缩管的一端成型有圆形的连接套,所述连接套插套在立柱上,连接套的外侧壁上成型有环形的齿圈,所述旋转机构包括与所述齿圈的一侧啮合连接的旋转齿轮、插套在所述旋转齿轮中部的竖直的花键轴,旋转齿轮的中部成型有花键孔,旋转齿轮通过所述花键孔插套在所述花键轴上;所述伸缩管的另一端成型有伸缩槽,所述伸缩杆插接在所述伸缩槽内,伸缩杆的上端成型有沿伸缩杆纵向延伸的齿条部,伸缩槽内铰接有与所述齿条部啮合的调节齿轮,伸缩管的上端成型有避让槽口,所述调节齿轮的上端伸出所述避让槽口并啮合有调节齿条。借由上述技术方案,本专利技术在工作时,首先将待检测的集成电路板夹持在夹持底座的通槽内的夹持板与通槽的下侧壁之间,具体地,在夹持集成电路板时,夹持板上移将第一压簧压缩,夹持板的插接柱在连接柱的插槽内向上移动,直至集成电路板被牢牢夹持在夹持板与通槽的下侧壁之间,依靠第一压簧的弹力,夹持底座的通槽内可以夹持不同厚度尺寸的集成电路板,增大了本专利技术定位检测装置的使用范围。集成电路板夹持完成之后,通过调节伸缩杆伸出伸缩管的距离,使得伸缩杆上的探针位于集成电路板上的检测定位点的上方,具体地,推动或拉动调节齿条,使得调节齿轮正向或反向转动,调节齿轮带动与之啮合的齿条部移动,齿条部带动伸缩杆在伸缩槽内前后移动,直至探针位于检测定位点的上方。之后,通过转动花键轴,使得花键轴带动旋转齿轮转动,旋转齿轮带动与之啮合的齿圈转动,从而带动连接套和伸缩管绕着立柱转动,从而使得伸缩杆上的探针位于集成电路板的检测点的正上方。之后,可通过旋转齿轮与花键轴之间的花键连接,使得旋转齿轮在花键轴上上下移动,旋转齿轮带动与之啮合的齿圈一起上下移动,从而带动伸缩管、伸缩杆以及探针上下移动,直至探针与集成电路上的检测定位点接触,探针可以通过导线与检测的表具相电连接,对检测定位点进行检测。当旋转齿轮、伸缩管、伸缩杆和探针上下移动到某一位置时,若探针的位置不准确,还可以转动花键轴使得旋转齿轮转动,从而带动伸缩管、伸缩杆和探针绕着立柱转动,直至探针准确位于集成电路板的检测点的正上方。通过上述方案,本专利技术的定点检测机构通过夹持底座将待测的集成电路板夹持,并通过伸缩管和伸缩杆以及旋转齿轮和花键轴来调节定位,从而能释放双手,且方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。作为上述方案的一种优选,所述立柱与花键轴之间设有齿轮锁紧机构,所述齿轮锁紧机构包括固定在夹持底座上的升降气缸、固定在所述升降气缸活塞杆上的升降板和成型在所述升降板上的两根锁紧杆,所述锁紧杆正对着齿圈与旋转齿轮的啮合点间隙处。按上述方案,当旋转齿轮带动伸缩管旋转到定位点时,启动齿轮锁紧机构的升降气缸,升降气缸带动升降板和锁紧杆向上移动,直至锁紧杆插套在齿圈与旋转齿轮的啮合点间隙处,由此使得齿圈与旋转齿轮之间锁紧,从而将探针的位置固定,锁紧后,还可以使旋转齿轮和齿圈上下移动,使得探针与集成电路上的检测定位点接触,在此过程中,齿圈与旋转齿轮的啮合点间隙沿锁紧杆上下移动。作为上述方案的一种优选,所述避让槽口一侧的伸缩管上端面上成型有与所述调节齿条纵向平行的导向槽,调节齿条的底面一端成型有导向块,所述导向块插接在所述导向槽内。按上述方案,调节齿条在通过调节齿轮带动伸缩杆在伸缩管内前后移动的过程中,导向块在导向槽内移动,从而对调节齿条的调节位置进行导向。作为上述方案的一种优选,所述调节齿条罩设在一罩壳内,所述罩壳铰接在伸缩管的上端面上,罩壳将避让槽口和调节齿轮均罩设在内,调节齿条的一端伸出罩壳,所述导向块和导向槽位于罩壳外。按上述方案,罩壳可对调节齿条、调节齿轮进行保护,还可以打开罩壳对调节齿条、调节齿轮进行维护或拆卸。作为上述方案的一种优选,所述伸缩杆的一端成型有圆形的连接头,所述探针插接在所述连接头上,探针的上端穿过伸缩杆并成型有提手,所述提手抵靠在连接头上,探针的下端插套有第二压簧并成型有环形的轴台,所述第二压簧的一端抵靠在所述轴台上、另一端抵靠在连接头上。按上述方案,通过第二压簧的弹力作用,探针与集成电路板上的检测定位点的接触为弹性接触,从而能避免接触不良。作为上述方案的一种优选,所述花键轴的下端铰接在固定板上,所述固定板固定在夹持底座上。作为上述方案的一种优选,所述花键轴的上端面中部成型有向上延伸的转动手柄。作为上述方案的一种优选,所述避让槽口的长度不小于调节齿轮的最大直径。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明:以下附图仅旨在于对本专利技术做示意性说明和解释,并不限定本专利技术的范围。其中:图1为本专利技术的结构示意图;图2为图1的剖视图;图3为图1的俯视图的局部剖视图;图4为图2的局部结构示意图;图5为本专利技术中齿轮锁紧机构的结构示意图。具体实施方式:下面结合附图和实施例,对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术,但不用来限制本专利技术的范围。参见图1、图2,本专利技术所述的一种用于集成电路的定点检测机构,包括夹持底座10、插接在所述夹持底座上的立柱20、插套在所述立柱上的伸缩管30、连接在所述伸缩管一端的旋转机构40、插套在伸缩管内的伸缩杆50和连接在所述伸缩杆一端的探针60。参见图4,所述夹持底座10的中部成型有一通槽11,所述通槽的上侧壁成型有一对连接柱12,通槽内设有夹持板13,所述夹持板的上端成型有一对与所述连接柱12配合的插接柱131,连接柱12的底面成型有插槽121,所述插接柱本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于集成电路的定点检测机构,其特征在于:包括夹持底座(10)、插接在所述夹持底座上的立柱(20)、插套在所述立柱上的伸缩管(30)、连接在所述伸缩管一端的旋转机构(40)、插套在伸缩管(30)内的伸缩杆(50)和连接在所述伸缩杆一端的探针(60);所述夹持底座(10)的中部成型有一通槽(11),所述通槽的上侧壁成型有一对连接柱(12),通槽(11)内设有夹持板(13),所述夹持板的上端成型有一对与所述连接柱(12)配合的插接柱(131),连接柱(12)的底面成型有插槽(121),所述插接柱(131)插接在所述插槽(121)内,连接柱(12)上插套有第一压簧(14),所述第一压簧的上端抵靠在连接柱(12)的底面上、下端抵靠在夹持板(13)的顶面上;所述伸缩管(30)的一端成型有圆形的连接套(31),所述连接套插套在立柱(20)上,连接套(31)的外侧壁上成型有环形的齿圈(32),所述旋转机构(40)包括与所述齿圈(32)的一侧啮合连接的旋转齿轮(41)、插套在所述旋转齿轮中部的竖直的花键轴(42),旋转齿轮(41)的中部成型有花键孔(411),旋转齿轮(41)通过所述花键孔(411)插套在所述花键轴(42)上;所述伸缩管(30)的另一端成型有伸缩槽(33),所述伸缩杆(50)插接在所述伸缩槽(33)内,伸缩杆(50)的上端成型有沿伸缩杆(50)纵向延伸的齿条部(51),伸缩槽(33)内铰接有与所述齿条部(51)啮合的调节齿轮(80),伸缩管(30)的上端成型有避让槽口(34),所述调节齿轮(80)的上端伸出所述避让槽口(34)并啮合有调节齿条(90)。...
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路的定点检测机构,其特征在于:包括夹持底座(10)、插接在所述夹持底座上的立柱(20)、插套在所述立柱上的伸缩管(30)、连接在所述伸缩管一端的旋转机构(40)、插套在伸缩管(30)内的伸缩杆(50)和连接在所述伸缩杆一端的探针(60);所述夹持底座(10)的中部成型有一通槽(11),所述通槽的上侧壁成型有一对连接柱(12),通槽(11)内设有夹持板(13),所述夹持板的上端成型有一对与所述连接柱(12)配合的插接柱(131),连接柱(12)的底面成型有插槽(121),所述插接柱(131)插接在所述插槽(121)内,连接柱(12)上插套有第一压簧(14),所述第一压簧的上端抵靠在连接柱(12)的底面上、下端抵靠在夹持板(13)的顶面上;所述伸缩管(30)的一端成型有圆形的连接套(31),所述连接套插套在立柱(20)上,连接套(31)的外侧壁上成型有环形的齿圈(32),所述旋转机构(40)包括与所述齿圈(32)的一侧啮合连接的旋转齿轮(41)、插套在所述旋转齿轮中部的竖直的花键轴(42),旋转齿轮(41)的中部成型有花键孔(411),旋转齿轮(41)通过所述花键孔(411)插套在所述花键轴(42)上;所述伸缩管(30)的另一端成型有伸缩槽(33),所述伸缩杆(50)插接在所述伸缩槽(33)内,伸缩杆(50)的上端成型有沿伸缩杆(50)纵向延伸的齿条部(51),伸缩槽(33)内铰接有与所述齿条部(51)啮合的调节齿轮(80),伸缩管(30)的上端成型有避让槽口(34),所述调节齿轮(80)的上端伸出所述避让槽口(34)并啮合有调节齿条(90)。2.根据权利要求1所述的用于集成电路的定点检测机构,其特征在于:所述立柱(20)与花键轴(42)之间设有齿轮锁紧机构(70),所述齿轮锁紧机构包括固定在夹持底...
【专利技术属性】
技术研发人员:王文庆,
申请(专利权)人:王文庆,
类型:发明
国别省市:广东;44
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