分光器、测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种分光器、测试装置及测试方法，其中，该分光器包括：第一输出端、盘纤结构、第二输出端，该第一输出端与该盘纤结构的一端连接，其中，该盘纤结构由光纤盘绕形成；该盘纤结构的另一端设置为第二输出端，该第二输出端用于分光器的测试输出，解决了分光器的测试存在盲区的问题，提高了对无源光网络PON网络故障定位的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信领域，具体而言，涉及一种分光器、测试装置及测试方法。
技术介绍
无源光网络(PassiveOpticalNetwork，简称为PON)的光分配网络(OpticalDistributionNetwork，简称为ODN)是点到多点的网络结构，网络结构远比点到点的光网络复杂。特别是在光纤到户(FiberToTheHome，简称为FTTH)这种场景下，光纤进入到了千家万户，光纤出现故障的概率大大增加。在相关技术中，为了应对光纤接入中光网络中出现的ODN问题，运营商希望能在使用光时域反射仪(OpticalTimeDomainReflectometer，简称为OTDR)来定期检测ODN的性能，定位故障。在PON网络中,分光器是一个重要的光路器件,对OTDR来说，分光器的存在，给OTDR测试带来了一个很严重的问题：盲区。盲区可以分为事件盲区和衰减盲区，分别对应反射事件和衰减事件。分光器有很强的衰减，又往往伴随着很强的反射，导致在OTDR测试结果中分光器附近有很大的盲区。在盲区范围内，无法通过OTDR定位ODN故障。针对相关技术中，分光器的测试存在盲区的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术提供了一种分光器、测试装置及测试方法，以至少解决相关技术中分光器的测试存在盲区的问题。根据本专利技术的一个方面，提供了一种分光器，包括：第一输出端、盘纤结构、第二输出端；所述第一输出端与所述盘纤结构的一端连接，其中，所述盘纤结构由光纤盘绕形成；所述盘纤结构的另一端设置为第二输出端，所述第二输出端用于分光器的测试输出。进一步地，所述光纤为裸纤。进一步地，所述盘纤结构的半径大于所述光纤的最小弯曲半径。进一步地，所述盘纤结构的光纤长度由分光器的分光比和/或光纤接口类型来确定。进一步地，所述盘纤结构的光纤长度范围为10m到1km。根据本专利技术的另一个方面，还提供了一种测试装置，包括：壳体，该壳体内部包括：分光器和盘纤结构；所述分光器的第一类输出端与所述盘纤结构的一端连接，所述盘纤结构的另一端与所述壳体上的第二类输出端连接。进一步地，所述光纤为裸纤。进一步地，所述盘纤的光纤长度范围为10m到1km。根据本专利技术的另一个方面，还提供了一种分光器测试方法，包括：将分光器的第一输出端与盘纤结构的一端连接，其中，所述盘纤结构由光纤盘绕形成；所述盘纤结构的另一端设置为所述分光器的第二输出端，所述第二输出端用于所述分光器的测试输出。进一步地，所述盘纤结构的光纤长度范围为10m到1km。通过本专利技术，提供了一种分光器，包括：第一输出端、盘纤结构、第二输出端，该第一输出端与该盘纤结构的一端连接，其中，该盘纤结构由光纤盘绕形成；该盘纤结构的另一端设置为第二输出端，该第二输出端用于分光器的测试输出，解决了分光器的测试存在盲区的问题，提高了对无源光网络PON网络故障定位的准确度。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的分光器的结构框图；图2是根据本专利技术优选实施例的分光器硬件模块示意图；图3是根据本专利技术优选实施例的盘纤的结构示意图。具体实施方式下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。在本实施例中提供了一种分光器，图1是根据本专利技术实施例的分光器的结构框图，如图1所示，包括：第一输出端12、盘纤结构14、第二输出端16；该第一输出端12与该盘纤结构14的一端连接，其中，该盘纤结构14由光纤盘绕形成；该盘纤结构14的另一端设置为第二输出端16，该第二输出端16用于分光器的测试输出。通过上述分光器，分光器的测试盲区设置在了分光器的内部，而可以测试到真正分支光纤的故障，解决了分光器的测试存在盲区的问题，提高了对无源光网络PON网络故障定位的准确度。在本实施例中，该光纤为裸纤，从而可以减少盘纤结构的体积，节省空间。在本实施例中，该盘纤结构14的半径大于该光纤的最小弯曲半径。该盘纤结构14的光纤长度由分光器的分光比和/或光纤接口类型来确定。其中，光纤接口类型包括：PC(PhysicalContact)接口和APC(AngledPhysicalContact)接口，该盘纤结构14的光纤长度范围为10m到1km。在本实施例中，还提供了一种测试装置，包括：壳体，该壳体内部包括：分光器和盘纤结构；该分光器的第一类输出端与该盘纤结构的一端连接，该盘纤结构的另一端与该壳体上的第二类输出端连接。通过上述测试装置，测试装置的测试盲区设置在了分光器的内部，而可以测试到真正分支光纤的故障，解决了分光器的测试存在盲区的问题，提高了对无源光网络PON网络故障定位的准确度。在本实施例中，还提供了一种分光器测试方法，包括：将分光器的第一输出端与盘纤结构的一端连接，其中，该盘纤结构由光纤盘绕形成；该盘纤结构的另一端设置为该分光器的第二输出端，该第二输出端用于该分光器的测试输出。通过上述测试方法，测试中的测试盲区设置在了分光器的内部，而可以测试到真正分支光纤的故障，解决了分光器的测试存在盲区的问题，提高了对无源光网络PON网络故障定位的准确度。下面结合优选实施例和实施方式对本专利技术进行详细说明。本优选实施例克服相关技术中存在的在局侧部署OTDR方案中无法检测分光器之后一段范围内的光纤故障问题，提供一种可以规避OTDR测试盲区的分光器的装置。本优选实施例的分光器的装置包括以下模块：普通分光器、多个盘纤；还包括：将普通分光器的多个输出端和这些盘纤连接起来。在普通分光器的每个输出端上串联一根10m到1km的光纤，组合成规避OTDR测试盲区的分光器。这样OTDR测试盲区就在局限在分光器内部，OTDR就可以测试到真正分支光纤的故障。本优选实施例规避OTDR测试技术在分光器后盲区，达到了增强OTDR测试效果，节省了故障排除时间，提高了效率图2是根据本专利技术优选实施例的分光器硬件模块示意图，如图2所示，包括：外壳，普通分光器，盘纤。图3是根据本专利技术优选实施例的盘纤的结构示意图，如图3所示，盘纤使用裸纤盘绕而成，盘纤直径大于光纤的最小弯曲半径。长度10m～1km，盘纤长度根据分光器的分光比，分光器的接头是PC还是APC来定，优选地，使用200m即可。盘纤数量等于分光器的端口数。将普通分光分光器的输入端子作为这个可规避OTDR测试盲区的分光器的输入端。将分光器的N个输出端和盘纤一端的熔接在一起，盘纤的另一端作为这个可规避OTDR测试盲区的分光器的输出端。显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本专利技术的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分光器，其特征在于，包括：第一输出端、盘纤结构、第二输出端；所述第一输出端与所述盘纤结构的一端连接，其中，所述盘纤结构由光纤盘绕形成；所述盘纤结构的另一端设置为第二输出端，所述第二输出端用于分光器的测试输出。

【技术特征摘要】
1.一种分光器，其特征在于，包括：第一输出端、盘纤结构、第二输出端；所述第一输出端与所述盘纤结构的一端连接，其中，所述盘纤结构由光纤盘绕形成；所述盘纤结构的另一端设置为第二输出端，所述第二输出端用于分光器的测试输出。2.根据权利要求1所述的分光器，其特征在于，所述光纤为裸纤。3.根据权利要求1所述的分光器，其特征在于，所述盘纤结构的半径大于所述光纤的最小弯曲半径。4.根据权利要求1所述的分光器，其特征在于，所述盘纤结构的光纤长度由分光器的分光比和/或光纤接口类型来确定。5.根据权利要求1至4中任一项所述的分光器，其特征在于，所述盘纤结构的光纤长度范围为10m到1km。6.一种测试装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：李青，金晓静，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44