光电传感器制造技术

提供一种光电传感器，其针对现有结构，可更切实地避免因相互干扰而引起的误动作。包括：干扰检测部(113)，在没有投光部的投光的状态下，通过在一定时间、将受光部的受光结果与第一阈值及以无信号状态为基准并取第一阈值的相反符号的值的第2阈值进行比较，来对干扰进行检测；待机部(115)，在检测到干扰的情况下，进行待机直到受光部的受光结果变成在第1阈值和第2阈值的范围内为止；干扰判定部(116)，在待机后，再次进行干扰的检测；投光指示部(117)，在一定时间未检测到干扰的情况下，指示投光部进行投光。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种能够避免因相互干扰而引起的误动作光电传感器。
技术介绍
以往，就有因将多个光电传感器排列的情况下的相互干扰而引起的误动作，另外，因具有变换器荧光灯等高次谐波的交流波形(AC)成分的照明光而引起的误动作的问题。另外，近来，LED照明普及起来，但由于LED照明较多具有高次谐波的交流波成分，所以可以预计光电传感器的误动作的风险将升高。针对上述问题，已知有避免对因脉冲波形状的干扰及交流波形状的干扰所引起的误动作的光电传感器(参见例如专利文献1～3)。在专利文献1所公开的光电传感器中，在检测到干扰的情况下，以一定时间延迟投光。另外，在专利文献2所公开的光电传感器中，一边让投光周期变化一边进行投光。另外，在专利文献3所公开的光电传感器中，除了在判定有无检测体时所采用的阈值以外，还设置正阈值和负阈值，用以对交流波形状的干扰进行检测。并且，在检测到交流波形状的干扰的情况下，在该交流波形的过零的时机进行受光。另外，在一定时间未检测到干扰的情况下，将模式进行切换，在切换后的模式下检测到干扰的情况下，以一定时间延迟投光。现有技术文献专利文献专利文献1日本特公昭62-7733号公报专利文献2日本特开昭63-263917号公报专利文献3日本特开2003-23347号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是，在专利文献1所公开的手法中，存在作为相互干扰对策的效果低的问题。即，在光电传感器的相互干扰中，由于强度强的干扰光将会被输入，所以受光信号不是脉冲波形，信号将会变成多次摆回的摆回波形。因此，即使像专利文献1的手法那样地以一定时间延迟之后再进行投光，也有可能因摆回波形的饱和而导致本来应该受光的信号消失。另外，在专利文献1所公开的手法中，无法避免AC干扰光的影响。另外，在专利文献2所公开的手法中，存在作为AC干扰光对策的效果低的问题。即，在专利文献2的手法中，虽然一边变更投光周期一边进行投光，但无法避免与AC干扰的受光时机的偶然一致，而有可能产生误动作。另外，在专利文献3所公开的手法中，存在作为相互干扰对策的效果低的问题。即，如上所述，在光电传感器的相互干扰中，由于强度强的干扰光将会被输入，所以受光信号不是脉冲波形而变成摆回波形。因此，即使像专利文献3的手法那样地以一定时间延迟之后再进行投光，摆回波形也会重叠，本来应该受光的信号有可能消失。另外，在专利文献3所公开的手法中，由于除了具有在判定有无检测体时使用的阈值的比较电路以外，具有正的阈值的比较电路和具有负的阈值的比较电路也是必要的，因而电路规模将变大。另外，由于根据干扰，将AC干扰光对策的模式和相互干扰对策的模式进行切换并动作，所以存在处理复杂这样的问题。另外，在专利文献3所公开的手法中，以使交流波形的干扰的过零的时机与受光时机一致地方式对投光时机进行控制，但时机控制的处理速度存在界限，所以有能够对应的噪音频率存在界限这一问题。另外，如果噪音频率高的话，则难以使受光时机与过零的时机完全一致，时机过早或过迟都有可能发生误动作。本专利技术正是为了解决如上所述的问题而做出的，以提供相对于现有结构能够更切实地避免因相互干扰而引起的误动作的光电传感器为目的。用于解决课题的手段本专利技术的光电传感器具备投射光的投光部；和对投光部所投射的光的反射光进行受光的受光部，光电传感器将受光部的受光结果与以无信号状态作为基准的第1阈值进行比较，由此检测有无检测体，光电传感器包括：干扰检测部，其在没有投光部的投光的状态下，通过在一定时间、将受光部的受光结果和第1阈值及第2阈值进行比较，来进行干扰检测，第2阈值是以无信号状态作为基准并取该第1阈值的相反符号的值；待机部，在由干扰检测部检测到干扰的情况下，待机部进行待机直到受光部的受光结果在第1阈值和第2阈值的范围内为止；干扰判定部，在待机部进行待机之后，干扰判定部使干扰检测部再次进行干扰检测；以及投光指示部，在干扰检测部于一定时间未检测到干扰的情况下，投光指示部指示投光部进行投光。专利技术的效果根据本专利技术，通过如上构成，相对于现有的结构，能够更切实地避免因相互干扰而引起的误动作。附图说明图1是示出本专利技术的实施方式1的光电传感器的構成例的图。图2是示出本专利技术的实施方式1中的控制电路的構成例的图。图3是示出本专利技术的实施方式1的光电传感器的动作例的流程图。图4是示出本专利技术的实施方式1的光电传感器的动作例的图(干扰为因相互干扰而引起的摆回波形的情形)。图5是示出本专利技术的实施方式1的光电传感器的动作例的图(干扰为交流波形的情形)。具体实施方式以下，一边参照附图对本专利技术的实施方式一边进行详细说明。实施方式1.图1是示出本专利技术的实施方式1的光电传感器的构成例的图。光电传感器具备投射光的投光部和对投光部所投射的光的反射光进行受光的受光部，光电传感器通过将受光部的受光结果与判定阈值进行比较来检测有无检测体50。这里，判定阈值是以无信号状态为基准并取正的值的阈值(第1阈值)。另外，以下，作为受光元件(一次元位置检测元件)5，采用受光面被分成N(Near)侧受光面和F(Far)侧受光面的2分段式光电二级管，采用对在比设定距离更近之处有没有存在检测体50进行检测的距离设定型的光电传感器的情形为例进行说明。如图1所示，光电传感器包括：驱动电路1、投光元件2、投光光学系统3、受光光学系统4、受光元件5、运算电路6、放大电路7、比较判定电路8、输出电路9、显示电路10及控制电路11。此外，在图1所示的结构中，驱动电路1、投光元件2及投光光学系统3构成投光部；受光光学系统4、受光元件5、运算电路6及放大电路7构成受光部。驱动电路1生成供给投光元件2的电流。投光元件2是通过由驱动电路1生成的电流来驱动并进行发光的。作为该投光元件2，例如采用LED。投光光学系统3将由投光元件2所发射的光进行聚光。由该投光光学系统3聚光的光被投射至检测区域。并且，在检测区域中存在检测体50的情况下，上述光被该检测体50反射。受光光学系统4将由检测区域中存在的检测体50反射的光进行聚光。受光元件5是将受光面分成N侧受光面和F侧受光面，并将通过受光光学系统4所聚光的光转换成电信号(电流)的2分段式光电二级管。利用该受光元件5能够对N侧受光面上的受光量(第1受光信号)和F侧受光面上的受光量(第2受光信号)进行检测。运算电路6将由受光元件5检测到的N侧受光面上的受光量(电流)和F侧受光面上的受光量(电流)分别转换成电压，且对它们的差进行检测。放大电路7用规定的放大率将通过运算电路6处理后的电压进行放大。通过该放大电路7放大的电压(差动信号)相当于受光结果(根据第1、2的受光信号生成的距离信号)。比较判定电路8是将由放大电路7放大的电压与判定阈值(正的阈值)进行比较，来对检测区域中有无的检测体50进行检测的。此时，在由放大电路7放大的电压小于判定阈值时，比较判定电路8判定为检测区域中没有物体；在由放大电路7放大的电压为判定阈值以上时，比较判定电路8判定为检测区域中有物体。作为该比较判定电路8，采用可逆计数器等。输出电路9将表示比较判定电路8的判定结果的信息输出。此时，输出电路9以表示上述判定结果的信息为基础使输出晶体管动作。显示电路10将表示比较判定电路8的判定结果的信息通过显示灯等进行显示。控制电路11本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电传感器，其具备投射光的投光部；和对所述投光部所投射的光的反射光进行受光的受光部，所述光电传感器将所述受光部的受光结果与以无信号状态作为基准的第1阈值进行比较，由此检测有无检测体，所述光电传感器的特征在于，包括：干扰检测部，其在没有所述投光部的投光的状态下，通过在一定时间、将所述受光部的受光结果和所述第1阈值及第2阈值进行比较，来进行干扰检测，所述第2阈值是以无信号状态作为基准并取该第1阈值的相反符号的值；待机部，在由所述干扰检测部检测到干扰的情况下，所述待机部进行待机直到所述受光部的受光结果在所述第1阈值和所述第2阈值的范围内为止；干扰判定部，在所述待机部进行待机之后，所述干扰判定部使所述干扰检测部再次进行干扰检测；以及投光指示部，在所述干扰检测部于一定时间未检测到干扰的情况下，所述投光指示部指示所述投光部进行投光。

【技术特征摘要】
2015.06.29 JP 2015-1298861.一种光电传感器，其具备投射光的投光部；和对所述投光部所投射的光的反射光进行受光的受光部，所述光电传感器将所述受光部的受光结果与以无信号状态作为基准的第1阈值进行比较，由此检测有无检测体，所述光电传感器的特征在于，包括：干扰检测部，其在没有所述投光部的投光的状态下，通过在一定时间、将所述受光部的受光结果和所述第1阈值及第2阈值进行比较，来进行干扰检测，所述第2阈值是以无信号状态作为基准并取该第1阈值的相反符号的值；待机部，在由所述干扰检测部检测到干扰的情况下，所述待机部进行待机直到所述受光部的受光结果在所述第1阈值和所述第2阈值的范围内为止；干扰判定部，在所述待机部进行待机之后，所述干扰判定部使所述干扰检测部再次进行干扰检测；以及投光指示部，在所述干扰检测部于一定时间未检测到干扰的情况下，所述投光指示部指示所述投光部进行投光。2.根据权利要求1所述的光电传感器，其特征在于，包括计数器部，所述计数器部对由所述干扰检测部检测到的干扰的次数进行计数，在所述待机部进行待机之后，在由所述计数器部计数的次数比规定值大的情况下，所述干扰判定部使所述投光指示部对所述投光部进行投光指示。3.根据权利要求2所述的光电传感器，其特征在于，所述投光指示部在接收到来自所述干扰判定部的指示的情况下，在经过延迟时间之后对所述投光部指示投光，所述延迟时间是为了在所述干扰的受光结果变成所述第1阈值以下的时机判定有无所述检测体而加上的。4.根据权利要求3所述的光电传感器，其特征在于，所述投光指示部在没有所述投光部投光的状态下，根据从所述受光部的受光结果得到的干扰的频率，来设定所述延迟时间。5.根据权利要求4所述的光电传感器，其特征在于，没有所述投光部的投光的状态是指：由所述光电传感器进行的各次投受光处理之间的期间。6.根据权利要求4所述的光电传感器，其特征在于，没有所述投光部的投光的状态是指：所述光电传感器的电源投入后，直到由所述投光部进行初次投光为止的期间。7.根据权利要求4所述的光电传感器，其特征在于，没有所述投光部的投光的状态是指：对所述光电传感器的灵敏度进行自动调整的期间。8.根据权利要求4所述的光电传感器，其特征在于，没有所述投光部的投光的状态是指：所述光电传感器根据外部指示使所述投光部的投光停止的期间。9.一种光电传感器，其具备投射光的投光部；和具有一次元位置检测元件，并对所述投光部所投射的光的反射光进行受光的受光部，所述一次元位置检测元件输出根据反射光的受光位置而变化的第1、2受光信号，所述光电传感器将根据作为所述受光部的受光结果的第1、2的受光信号而生成的距离信号与以无信号状态作为基准的第1阈值进行比较，由此检测有无检测体，所述光电传感器的特征在于，包括：干扰检测部，其在没有所述投光部的投光的状态下，通过在一定时间、将所述受光部的受光结果和所述第1阈值及第2阈值进行比较，来进行干扰检测，所述第2阈值是以无信号状态作为基准并取该第1阈值的相反符号的值；待机部，在由所述干扰检测部检测到干扰的情况下，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：田中实，畑中浩，细井贵之，
申请(专利权)人：阿自倍尔株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP