【技术实现步骤摘要】
本技术属于LED芯粒测试设备领域,尤其涉及一种用于大尺寸芯粒分选的顶针座。
技术介绍
随着发光二极管(light-emitting diode,LED)广泛应用于显示屏、指示灯、数码产品、背光源等不同领域,客观上对LED的需求呈现几何级数增加,客户对高亮度芯粒的要求越来越高,大尺寸芯粒也逐渐成为研发和生产的重点。分选机顶针座大多都是单针,由于芯粒尺寸太大,顶针将芯粒中间顶起后,芯粒的边缘还粘附在蓝膜上,在顶针向上顶起的力和蓝膜粘附力,两种力的作用下,大尺寸芯粒例如投影仪使用的128mil*128mil的芯粒就容易出现断裂的情况。
技术实现思路
本技术的目的在于采用十字排列的指针,以降低芯粒断裂的情况,提高芯粒良率。本技术提供一种顶针座,具体的技术方案如下:一种顶针座,用于在芯粒分选时,从薄膜上顶起芯粒,便于分选装置转移芯粒,至少包括基座、十字分布的顶针孔和顶针帽,所述顶针孔和所述顶针帽位于基座上,所述顶针孔里固定有顶针,所述顶针帽与真空装置相连,向薄膜提供向下的力,从而更佳地分离蓝膜与芯粒。优选的,所述十字分布的顶针孔至少有4个。优选的,所述十字分布的顶针孔为9个。优选的,所述顶针的长度为5~30mm。优选的,所述顶针露出顶针孔的长度为2~20mm。优选的,相邻顶针的间距为0.3~3mm。优选的,相邻顶针的间距为0.7~1mm。优选的,所述基座上具有扳手位和粗化表面,便于拆装。本技术具以下有益效果:本技术采用十字排列的指针,分散芯粒的受力,避免顶针的力矩过大导致芯粒断裂,同时0.7~1mm的顶针间距特别适用于128mil*128mil或者尺寸相近的芯粒,几乎 ...
【技术保护点】
一种顶针座,用于在芯粒分选时,从薄膜上顶起芯粒,便于分选装置转移芯粒,其特征在于:至少包括基座、十字分布的顶针孔和顶针帽,所述顶针孔和所述顶针帽位于基座上,所述顶针孔里固定有顶针,所述顶针帽与真空装置相连,向薄膜提供向下的吸力,从而更佳地分离蓝膜与芯粒。
【技术特征摘要】
1.一种顶针座,用于在芯粒分选时,从薄膜上顶起芯粒,便于分选装置转移芯粒,其特征在于:至少包括基座、十字分布的顶针孔和顶针帽,所述顶针孔和所述顶针帽位于基座上,所述顶针孔里固定有顶针,所述顶针帽与真空装置相连,向薄膜提供向下的吸力,从而更佳地分离蓝膜与芯粒。2.根据权利要求1所述的一种顶针座,其特征在于:所述十字分布的顶针孔至少有4个。3.根据权利要求1所述的一种顶针座,其特征在于:所述十字分布的顶针孔为9个。...
【专利技术属性】
技术研发人员:张初荣,潘伟,陈振兴,蔡如腾,章小飞,郑小辉,
申请(专利权)人:厦门市三安光电科技有限公司,
类型:新型
国别省市:福建;35
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