一种晶体管检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种晶体管检测装置，支架上设有可转动安装的转架，转架的转轴竖直设置，安装筒竖直安装在转架上且与转架同轴设置，安装筒侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，滑轨位于支架的一侧且向远离支架的方向延伸，检测机构可滑动安装在滑轨上位于底座上且位于安装筒一侧，检测机构靠近安装筒一侧设有检测头。本实用新型专利技术提出的晶体管检测装置，结构设计合理，能够对晶体管进行逐一高效检测，检测速度快，精确度高，大大提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及晶体管加工
，尤其涉及一种晶体管检测装置。
技术介绍
晶体管在加工过程中需要经过组装和点胶过程。点胶过程是将晶体管的引脚和硅片进行点胶连接，点胶效果好坏严重影响晶体管的电学性能。因此，通常在点胶结束后，需要对晶体管组件进行性能测试。常规晶体管性能测试需要工作人员人工逐个检测，大大影响检测效率。
技术实现思路
为解决
技术介绍
中存在的技术问题，本技术提出一种晶体管检测装置。本技术提出的一种晶体管检测装置，包括：底座、安装筒、检测机构、第一驱动机构、第二驱动机构；底座上设有支架和滑轨，支架上设有可转动安装的转架，转架的转轴竖直设置，安装筒竖直安装在转架上且与转架同轴设置，安装筒侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，第一驱动机构与转架连接用于驱动转架围绕其转轴旋转，滑轨位于支架的一侧且向远离支架的方向延伸，检测机构可滑动安装在滑轨上位于底座上且位于安装筒一侧，检测机构靠近安装筒一侧设有检测头，第二驱动机构与检测机构连接用于驱动检测机构沿滑轨移动。优选地，安装筒可拆卸安装在转架上。优选地，转架上设有围绕所述转轴设置的环形驱动部，所述环形驱动部外周设有螺纹，驱动机构位于转架一侧，驱动机构上设有第一驱动齿轮，第一驱动齿轮与所述环形驱动部螺纹配合。优选地，转架上设有围绕所述转轴设置的环形驱动部，所述环形驱动部内周设有螺纹，驱动机构位于转架内，驱动机构上设有第二驱动齿轮，第二驱动齿轮与所述环形驱动部螺纹配合。优选地，滑轨沿安装筒的径向设置。本技术中，所提出的晶体管检测装置，支架上设有可转动安装的转架，转架的转轴竖直设置，安装筒竖直安装在转架上且与转架同轴设置，安装筒侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，滑轨位于支架的一侧且向远离支架的方向延伸，检测机构可滑动安装在滑轨上位于底座上且位于安装筒一侧，检测机构靠近安装筒一侧设有检测头。通过上述优化设计的晶体管检测装置，结构设计合理，能够对晶体管进行逐一高效检测，检测速度快，精确度高，大大提高检测效率。附图说明图1为本技术提出的一种晶体管检测装置的结构示意图。图2为本技术提出的另一种晶体管检测装置的俯视结构示意图。具体实施方式如图1和2所示，图1为本技术提出的一种晶体管检测装置的结构示意图，图2为本技术提出的另一种晶体管检测装置的俯视结构示意图。参照图1和2，本技术提出的一种晶体管检测装置，包括：底座1、安装筒2、检测机构3、第一驱动机构、第二驱动机构；底座1上设有支架11和滑轨12，支架11上设有可转动安装的转架13，转架13的转轴竖直设置，安装筒2竖直安装在转架13上且与转架13同轴设置，安装筒2侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，第一驱动机构与转架13连接用于驱动转架13围绕其转轴旋转，滑轨12位于支架11的一侧且向远离支架11
的方向延伸，滑轨12沿安装筒2的径向设置，检测机构3可滑动安装在滑轨12上位于底座1上且位于安装筒2一侧，检测机构3靠近安装筒2一侧设有检测头，第二驱动机构与检测机构3连接用于驱动检测机构3沿滑轨12移动。本实施例的晶体管检测装置的具体工作过程中，第一驱动机构驱动转架旋转，将待检测晶体管移动至检测工位，然后第二驱动机构驱动检测机构移动至检测工位对该晶体管进行检测，检测机构在检测后退回，然后第一驱动机构驱动转架继续旋转，使下一个待检测晶体管进入检测工位，从而实现晶体管的批量高效检测。在具体实施方式中，安装筒2可拆卸安装在转架13上，当安装筒上的晶体管均检测完毕后，可将安装筒从转架上拆卸，同时安装上另一装有未检测晶体管的安装筒，便于检测完毕的晶体管的快速更换。在本实施例中，所提出的晶体管检测装置，支架上设有可转动安装的转架，转架的转轴竖直设置，安装筒竖直安装在转架上且与转架同轴设置，安装筒侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，滑轨位于支架的一侧且向远离支架的方向延伸，检测机构可滑动安装在滑轨上位于底座上且位于安装筒一侧，检测机构靠近安装筒一侧设有检测头。通过上述优化设计的晶体管检测装置，结构设计合理，能够对晶体管进行逐一高效检测，检测速度快，精确度高，大大提高检测效率。在一种具体实施方式中，转架13上设有围绕所述转轴设置的环形驱动部，所述环形驱动部外周设有螺纹，驱动机构位于转架13一侧，驱动机构上设有第一驱动齿轮4，第一驱动齿轮4与所述环形驱动部螺纹配合。在另一种具体实施方式中，转架13上设有围绕所述转轴设置的环形驱动部，所述环形驱动部内周设有螺纹，驱动机构位于转架13内，驱动机构上设有第二
驱动齿轮5，第二驱动齿轮5与所述环形驱动部螺纹配合。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体管检测装置，其特征在于，包括：底座(1)、安装筒(2)、检测机构(3)、第一驱动机构、第二驱动机构；底座(1)上设有支架(11)和滑轨(12)，支架(11)上设有可转动安装的转架(13)，转架(13)的转轴竖直设置，安装筒(2)竖直安装在转架(13)上且与转架(13)同轴设置，安装筒(2)侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，第一驱动机构与转架(13)连接用于驱动转架(13)围绕其转轴旋转，滑轨(12)位于支架(11)的一侧且向远离支架(11)的方向延伸，检测机构(3)可滑动安装在滑轨(12)上位于底座(1)上且位于安装筒(2)一侧，检测机构(3)靠近安装筒(2)一侧设有检测头，第二驱动机构与检测机构(3)连接用于驱动检测机构(3)沿滑轨(12)移动。

【技术特征摘要】
1.一种晶体管检测装置，其特征在于，包括：底座(1)、安装筒(2)、检测机构(3)、第一驱动机构、第二驱动机构；底座(1)上设有支架(11)和滑轨(12)，支架(11)上设有可转动安装的转架(13)，转架(13)的转轴竖直设置，安装筒(2)竖直安装在转架(13)上且与转架(13)同轴设置，安装筒(2)侧壁设有多个用于容纳晶体管的容纳槽，第一驱动机构与转架(13)连接用于驱动转架(13)围绕其转轴旋转，滑轨(12)位于支架(11)的一侧且向远离支架(11)的方向延伸，检测机构(3)可滑动安装在滑轨(12)上位于底座(1)上且位于安装筒(2)一侧，检测机构(3)靠近安装筒(2)一侧设有检测头，第二驱动机构与检测机构(3)连接用于驱动检测机构(3)沿滑轨(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：项涛，项武，
申请(专利权)人：安庆友仁电子有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34