晶片封装体制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶片封装体，其包含一基板、一晶片、一热扩散层及一导线。晶片的其中一面贴附在基板的其中一面；热扩散层覆盖于晶片的另一面且热扩散层的边缘延伸至晶片的边缘，热扩散层贯穿设置有一缺口。导线通过缺口连接于基板与晶片之间。因此晶片的发热能够均匀地扩散至整个晶片封装体。

【技术实现步骤摘要】

本技术有关于晶片封装体，特别是具有热扩散层的晶片封装体。
技术介绍
现有的晶片封装体，例如CPU(中央处理器；Central Processing Unit)或是GPU(图形处理器；Graphics Processing Unit)，其工作时皆会产生大量热能，因此需要在晶片封装体上设置散热装以冷却晶片封装体。一般的散热系统是借由热传导的方式将晶片封装体产生的热能吸收至散热系统内，再借由热对流的方式将热能发散至空气中。为了使晶片封装体与散热系统之间的热传导效率优化，一般散热系统会配置有一平面，并且能够与晶片封装体外表的另一平面贴合，进而通过此接触面进行热传导。一般而言，晶片并非均匀发热体，而且通常会存在点发热的情况，散热系统与晶片封装体的接触面常是偏离发热点，因此无论如何改良散热系统，皆无法改善晶片封装体与散热系统之间的热传导效率。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供一种具有热扩散层的晶片封装体。本技术提供一种晶片封装体，其包含一基板、一晶片、一热扩散层及一导线。晶片的其中一面贴附在基板的其中一面；热扩散层覆盖于晶片的另一面，而且热扩散层的边缘延伸至晶片的边缘，热扩散层贯穿设置有一缺口。导线通过缺口连接于基板与晶片之间。较佳地，热扩散层为导热材料层。导热材料层为片状石墨烯层。热扩散层的其中一面上布设有黏着剂并且贴附晶片。晶片封装体还包含一封装结构，封装结构包覆晶片。热扩散层热连接封装结构。晶片封装体还包含覆盖于热扩散层的一保护层。缺口自热扩散层延伸贯穿保护层。本技术的晶片封装体，其晶片上设设置有片状石墨烯构成的热扩散层，因此能够避免热能集中而降低晶片封装体对外的热传导效率。其制造方法借由在裁切第二晶圆形成晶片之前将热扩散膜贴附至第二晶圆，因此不需要将各热扩散层分别贴附至各晶片。附图说明图1是本技术第一实施例的晶片封装体的示意图。图2是本技术第二实施例的晶片封装体的示意图。图3是本技术的晶片封装体的制造方法的流程图。图4至图7是本技术的晶片封装体的制造方法的步骤示意图。图8至图10是本技术第一实施例中的晶片封装体的制造方法的步骤示意图。图11至图13是本技术第二实施例中的晶片封装体的制造方法的步骤示意图。【符号说明】10 第一晶圆；20 热扩散膜；30 第二晶圆；100 基板；200 晶片；300 热扩散层；301 缺口；310 黏着剂；320 保护层；400 导线；500 封装结构；510 导热介质。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好的理解本技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本技术的限定。参阅图1，本技术的第一实施例提供一种晶片封装体，其包含一基板100、一晶片200、一热扩散层300、至少一导线400以及一封装结构500。于本实施例中，基板100较佳地为一电路板。晶片200设置在晶片200的基板100的其中一面之上，而且基板100的此面较佳地与晶片200的其中一面相互贴合。于本实例中，热扩散层300较佳地呈薄膜状，热扩散层300之内具有导热材料。导热材料为片状石墨烯，片状石墨烯具有良好的平面热传导特性。热扩散层300的其中一面上较佳地布设有黏着剂310，并且热扩散层300能够借由黏着剂310贴附于晶片200的另一面而使得热扩散层300覆盖于晶片200之上。热扩散层300的边缘延伸至晶片200的边缘，而且热扩散层300上贯穿开设有至少一缺口301。于本实施例中，热扩散层300较佳开设有多个缺口301，各缺口301的结构相同。缺口301可以是孔状，也可以是延伸至热扩散层300边缘的缺槽状，本技术不限定其型式。于本实施例中，热扩散层300的另一面上较佳地贴附有一保护层320，而且缺口301自热扩散层300延伸贯穿保护层320。导线400对应缺口301配置，于本实施例中，本技术的晶片封装体较佳地包含有对应各缺口301的多个导线400。各导线400的其中一端连接于基板100，导线400的另一端则穿过对应的缺口301连接晶片200，因此借由该些导线400能够将晶片200电性连接基板100。封装结构500包覆晶片200借以保护晶片200，于本实施例中，封装结构500是模塑成形于基板100上而包覆晶片200，并且同时包覆热扩散层300而与热扩散层300热连接。保护层320能够避免热扩散层300中的片状石墨烯在封装结构500的模塑成形制程中受损。参阅图2，本技术的第二实施例提供一种晶片封装体，其包含一基板100、一晶片200、一热扩散层300、至少一导线400以及一封装结构500。本实施例的晶片封装体的构造大至如同前述第一实施例，因此相同之处于此不再赘述，本实施例与第一实施例不同之处详述如后。于本实施例中，热扩散层300上并未设有保护层320。封装结构500是罩盖于基板100上的罩壳，而且封装结构500罩盖晶片200。热扩散层300热连接封装结构500，热扩散层300与封装结构500可以是直接贴附而热连接或是借由在热扩散层300与封装结构500之间填充导热介质510(例如导热胶或导热垫)而热连接。参阅图3，前述第一实施例中所述的晶片封装体的制造方法的各步骤分别说明如后：参阅图3至图5，于本实施例的步骤a中，首先提供一第二晶圆10以及一热扩散膜20，并且将热扩散膜20的其中一面贴附在第二晶圆10的其中一面；参阅图3及图6，于接续步骤a的步骤b中，在热扩散膜20上开设多个缺口301，此步骤中的缺口301较佳地是孔状，且较佳地可以借由加工机具直接加工贯穿第二晶圆10及热扩散膜20以便于加工形成缺口301。参阅图3及图7，于接续步骤b的步骤c中，提供一第二晶圆30。而后在热扩散膜20的另一面上布设黏着剂310，并且借由黏着剂310将此面贴附在第二晶圆30的其中一面上。借此将热扩散膜20覆盖设置于第二晶圆30。参阅图3及图8，于接续步骤c的步骤d中，对应该些缺口301之位置进行裁切，将第二晶圆30裁切形成多个晶片200，同时也将热扩散膜20裁切形成贴附在各晶片200的多个热扩散层300，而且各热扩散层300分别具有至少一缺口301。依据裁切位置的不同，各热扩散层300上的缺口301呈现不同的形态，当未裁切到热扩散膜20上的缺口301时，则各热扩散层300上的缺口301本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶片封装体，其特征在于，包含：一基板；一晶片，该晶片的其中一面贴附在该基板的其中一面；一热扩散层，覆盖于该晶片的另一面且该热扩散层的边缘延伸至该晶片的边缘，该热扩散层贯穿设置有至少一缺口；及一导线，通过该缺口连接于该基板与该晶片之间。

【技术特征摘要】
1.一种晶片封装体，其特征在于，包含：一基板；一晶片，该晶片的其中一面贴附在该基板的其中一面；一热扩散层，覆盖于该晶片的另一面且该热扩散层的边缘延伸至该晶片的边缘，该热扩散层贯穿设置有至少一缺口；及一导线，通过该缺口连接于该基板与该晶片之间。2.如权利要求1所述的晶片封装体，其特征在于，该热扩散层为导热材料层。3.如权利要求2所述的晶片封装体，其特征在于，导热材料层为片状石墨烯层。4.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：施养明，许宏源，
申请(专利权)人：慧隆科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71