智能检测平台及其工作方法技术

技术编号:14186400 阅读:224 留言:0更新日期:2016-12-14 21:37
本发明专利技术涉及一种智能检测平台及其工作方法,其中本智能检测平台包括:测试板、测试板数据采集及控制单元;其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板,且采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据;本发明专利技术的智能检测平台及其工作方法可以根据测试板的型号有针对性的发送与该型号相匹配的测试控制信号,使测试板产生相应输出数据,并经过测试板数据采集及控制单元采集后反馈至上位机进行精确对比,能够准确的判断操作该测试板的学员的练习或者考核情况,并且通过上位机可以提供维修排故引导提示,适合各类电子类学校及培训机构进行批量学员训练。

Intelligent detection platform and working method thereof

The invention relates to an intelligent detection platform and its working methods, including the intelligent detection platform comprises a test board, test data acquisition and control unit; wherein the test board of data acquisition and control unit generates control signals to a test board for testing, and the acquisition of output signals of the test board, in order to obtain test data board; the invention of intelligent detection platform and operation method according to the test board model to test the control signal transmitted matched with the model, the test board generates the corresponding output data, and accurately compare tested in the data collection and control unit after the collection of feedback to the host computer can accurately the test board to judge the operation trainees or assessment of the situation, and through the host computer can provide maintenance and troubleshooting guide, suitable for all kinds of Electronic schools and training institutions to carry out mass training.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种智能检测平台及其工作方法
技术介绍
随着信息时代的到来,IT产品与技术已成为人们生活中不可或缺的一部分。由于计算机及其应用技术的快速普及,致使专业级维修——芯片级检测与维修人才出现短缺。售后服务人才的需求将是国民就业新的增长点与亮点。目前,电脑台式机与笔记本维修培训一直发展火热,这也间接反映出电脑维修人才需求紧缺的状况,已日益引起业界和相关领域的密切关注,如何提高从业人员的素质,职业持续、稳定、健康地发展,有很重要的现实意义。因此,高职院校作为国家培养技术应用型高级人才的重要阵地,应该紧跟社会人才市场脉搏,电子产品芯片级检测与维修平台的设计与研究迫在眉睫。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种智能检测平台及其工作方法,以实现对测试板进行有效测试。为了解决上述技术问题,本专利技术提供了一种智能检测平台,包括:测试板、测试板数据采集及控制单元;其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板,且采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据。进一步,所述测试板数据采集及控制单元与上位机相连;所述上位机内设有测试板数据库,且适于根据测试板的型号控制测试板数据采集及控制单元发送相应的测试控制信号至测试板;以及将测试数据反馈至上位机与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对,以判断测试板的工作状况。进一步,所述测试板数据采集及控制单元包括:处理器模块,该处理器模块与上位机通讯;所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号;以及所述测试板数据采集及控制单元还包括:多路接线端,且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连,且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连,所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。进一步,所述测试板包括处理芯片,且该处理芯片用于控制若干故障点,且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态;当对测试板进行排故检测时,所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化,以及记录测试板的排故时间,获得排故效率。又一方面,本专利技术还提供了一种所述智能检测平台的工作方法,所述智能检测平台的工作方法包括如下步骤:步骤S1,将测试控制信号传输至测试板;步骤S2,采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据。进一步,所述步骤S1中将测试控制信号传输至测试板的方法包括:步骤S11,在一上位机内构建测试板数据库;步骤S12,从测试板数据库调用测试板的型号,并发送与该型号相匹配的测试控制信号。进一步,所述智能检测平台的工作方法还包括:步骤S3,将测试数据反馈至上位机,即将测试数据反馈至上位机,且与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对,以判断测试板的工作状况。进一步,所述测试板数据采集及控制单元包括:处理器模块,该处理器模块与上位机通讯;所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号;以及所述测试板数据采集及控制单元还包括:多路接线端,且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连,且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连,所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。进一步,所述测试板包括处理芯片,且该处理芯片用于控制若干故障点,且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态;当对测试板进行排故检测时,所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化,以及记录测试板的排故时间,获得排故效率。本专利技术的有益效果是,本专利技术的智能检测平台及其工作方法可以根据测试板的型号有针对性的发送与该型号相匹配的测试控制信号,使测试板产生相应输出数据,并经过测试板数据采集及控制单元采集后反馈至上位机进行精确对比,能够准确的判断操作该测试板的学员的练习或者考核情况,并且通过上位机可以提供维修排故引导提示,适合各类电子类学校及培训机构进行批量学员训练。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是本专利技术的智能检测平台的原理框图;图2是本专利技术的智能检测平台的工作方法流程图。具体实施方式现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本专利技术的基本结构,因此其仅显示与本专利技术有关的构成。实施例1如图1所示,本实施例1提供了一种智能检测平台,包括:测试板、测试板数据采集及控制单元;其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板,且采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据。具体的,所述测试板数据采集及控制单元与上位机相连;所述上位机内设有测试板数据库,且适于根据测试板的型号控制测试板数据采集及控制单元发送相应的测试控制信号至测试板;以及将测试数据反馈至上位机与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对,以判断测试板的工作状况。所述测试板数据库例如但不限于包括:与测试板相对于的电路原理图,该电路原理图对应的各故障点的测试数据(标准测试数据)。作为测试板数据采集及控制单元一种优选的实施方式,所述测试板数据采集及控制单元包括:处理器模块,该处理器模块与上位机通讯;所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号;以及所述测试板数据采集及控制单元还包括:多路接线端,且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连,且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连,所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。可选的,所述测试板包括处理芯片,且该处理芯片用于控制若干故障点,且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态;当对测试板进行排故检测时,所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化,以及记录测试板的排故时间,获得排故效率。其中,处理芯片控制各故障点,各故障点例如但不限于通过晶闸管或者三极管的通断方式显示故障的短路或者断路控制,实时获得测试数据;例如测试板设置5个故障点,学员在20分钟排故完毕,则排故效率可以得出0.25个/分。通过设定排故效率阈值,可以判定该学员练习或者考核是否达标。实施例2如图1和图2所示,在实施例1基础上,本实施例2提供了一种如实施例1所述的智能检测平台的工作方法。本工作方法包括如下步骤:步骤S1,将测试控制信号传输至测试板;以及步骤S2,采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据。具体的,所述步骤S1中将测试控制信号传输至测试板的方法包括:步骤S11,在一上位机内构建测试板数据库;步骤S12,从测试板数据库调用测试板的型号,并发送与该型号相匹配的测试控制信号。并且,所述智能检测平台的工作方法还包括:步骤S3,将测试数据反馈至上位机,即将测试数据反馈至上位机,且与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对,以判断测试板的工作状况。进一步,所述测试板数据采集及控制单元包括:处理器模块,该处理器模块与上位机通讯;所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号;以及所述测试板数据采集及控制单元还包括:多路接线端,且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连,且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连,所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。具体的,所述测试板包括处理芯片,且该处理芯片用于控制若干故障点,且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态;当对测试板进行排故检测时,所述上位机还适于实时监控测试板本文档来自技高网...
智能检测平台及其工作方法

【技术保护点】
一种智能检测平台,其特征在于,包括:测试板、测试板数据采集及控制单元;其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板,且采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据。

【技术特征摘要】
1.一种智能检测平台,其特征在于,包括:测试板、测试板数据采集及控制单元;其中所述测试板数据采集及控制单元适于产生测试控制信号传输至测试板,且采集该测试板的输出信号,以获得测试板的测试数据。2.根据权利要求1所述的智能检测平台,其特征在于,所述测试板数据采集及控制单元与上位机相连;所述上位机内设有测试板数据库,且适于根据测试板的型号控制测试板数据采集及控制单元发送相应的测试控制信号至测试板;以及将测试数据反馈至上位机与测试板数据库内预存的该测试版的标准测试数据进行比对,以判断测试板的工作状况。3.根据权利要求2所述的智能检测平台,其特征在于,所述测试板数据采集及控制单元包括:处理器模块,该处理器模块与上位机通讯;所述上位机控制处理器模块输出相应测试控制信号;以及所述测试板数据采集及控制单元还包括:多路接线端,且该多路接线端通过多路复用模块与隔离模块相连,且隔离模块通过AD转换模块与处理器模块相连,所述处理器模块适于将测试数据发送至上位机相连。4.根据权利要求3所述的智能检测平台,其特征在于,所述测试板包括处理芯片,且该处理芯片用于控制若干故障点,且所述处理芯片适于通过测试控制信号控制各故障点的工作状态;当对测试板进行排故检测时,所述上位机还适于实时监控测试板数据采集及控制单元所采集的数据变化,以及记录测试板的排故时间,获得排故效率。5.一种如权利要求1所述的智能检测平台的工作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄海军李亮亮蒋莲黄宇硕
申请(专利权)人:江苏理工学院
类型:发明
国别省市:江苏;32

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