The utility model discloses an electronic probe geological thin film sample table, which belongs to the technical field of geological thin section analysis. The electron probe geological sheet samples station comprises third connecting rod and the first end of the second connecting rod second is connected with the fourth connecting rod; the first end and the third connecting rod connected to the second end, and the second end of the first connecting rod is connected to the second end of the first; a segmentation end is connected with the first connecting rod, and the second end the third connecting rod is movably connected; a second split end is connected with the first connecting rod, second terminal and the third connecting rod is movably connected; the clamping device is arranged on the second connecting rod and the four connecting rod; third pieces of segmentation and holding device is movably connected with both ends. The utility model has the advantages of improving the efficiency of the electronic probe experiment, reducing the frequency of replacing the sample and improving the space utilization rate, and can be adjusted to the appropriate size according to the sample size.
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及地质薄片分析
,特别涉及一种电子探针地质薄片样品台。
技术介绍
电子探针广泛应用于地质、材料、冶金研究等,目前电子探针在世界上的主要生产厂家有日本电子(JEOL)、法国CAMECA、日本岛津(SHIMADZU)。在中国的电子探针,日本电子生产的电子探针占据了绝大部分。在地质学的研究中进行电子探针测试的岩石和矿物样品一般事先制作成表面抛光的电子探针薄片(长<50mm,一般48mm左右,宽25mm左右)。日本电子生产的各种型号的电子探针(本申请书简称JEOL电子探针)一般都配备有地质薄片分析系统,该分析系统是在电子探针上面装载了地质薄片的显微分析系统,即在电子探针里面配备了显微镜的功能,如能对地质薄片进行单偏光的镜下特征观察,因此能将地质样品的晶体光学特征和电子探针成分图像方便的结合起来。对于该地质薄片分析系统,需要一个特殊的样品台,该样品台放置地质薄片的下方需要是镂空的,这样才能让显微镜的光源从薄片下方照射上来,进行晶体光学的观察。但是该样品台一次最多可以装4个地质薄片,该样品台的左上角和右上角各有一个小空间,这两个小空间最初是用来装载电子探针标样。但是由于对于地质样品,经常需要分析的地质薄片数量很多,因此在测试过程中需要频繁的更换样品,这就有两个弊端,一是装载的地质薄片个数少,导致实验效率低下,且不能根据地质薄片的大小调整尺寸。
技术实现思路
本技术提供一种电子探针地质薄片样品台,解决了或部分解决了现有技术中装载的地质薄片个数少,导致实验效率低下,且不能根据地质薄片的大小调整尺寸的技术问题。为解决上述技术问题,本技术提供了一种电子探针地质薄 ...
【技术保护点】
一种电子探针地质薄片样品台,与底座连接;其特征在于,所述样品台包括:第一连接杆(1);第二连接杆(2),第一端与所述第一连接杆(1)的第一端连接;第三连接杆(3),第一端与所述第二连接杆(2)的第二端连接,所述第三连接杆与所述第一连接杆(1)相对设置;第四连接杆(4),第一端与所述第三连接杆(3)的第二端连接,第二端与所述第一连接杆(1)的第二端连接,所述第四连接杆与所述第二连接杆(2)相对设置,所述第四连接杆(4)与所述底座连接;第一分割件(5),设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间,所述第一分割件(5)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接,第二端与所述第三连接杆(3)活动连接;第二分割件(6),设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间,所述第二分割件(6)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接,第二端与所述第三连接杆(3)活动连接;夹持装置(7),设置在所述第二连接杆(2)及第四连接杆(4)上;第三分割件(8),两端与所述夹持装置(7)活动连接;其中,所述第一分割件(5)、第二分割件(6)及第三分割件(8)形成六个容置空间。
【技术特征摘要】
1.一种电子探针地质薄片样品台,与底座连接;其特征在于,所述样品台包括:第一连接杆(1);第二连接杆(2),第一端与所述第一连接杆(1)的第一端连接;第三连接杆(3),第一端与所述第二连接杆(2)的第二端连接,所述第三连接杆与所述第一连接杆(1)相对设置;第四连接杆(4),第一端与所述第三连接杆(3)的第二端连接,第二端与所述第一连接杆(1)的第二端连接,所述第四连接杆与所述第二连接杆(2)相对设置,所述第四连接杆(4)与所述底座连接;第一分割件(5),设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间,所述第一分割件(5)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接,第二端与所述第三连接杆(3)活动连接;第二分割件(6),设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间,所述第二分割件(6)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接,第二端与所述第三连接杆(3)活动连接;夹持装置(7),设置在所述第二连接杆(2)及第四连接杆(4)上;第三分割件(8),两端与所述夹持装置(7)活动连接;其中,所述第一分割件(5)、第二分割件(6)及第三分割件(8)形成六个容置空间。2.根据权利要求1所述的样品台,其特征在于:所述第一连接杆(1)及第三连接杆(3)上开设有第一导轨。3.根据权利要求2所述的样品台,其特征在于,所述第一分割件包括:第一分割杆(5-1),第一端与所述第一连接杆(1)活动连接,第二端与所述第三连接杆(3)活动连接...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨水源,张若曦,蒋少涌,
申请(专利权)人:中国地质大学武汉,
类型:新型
国别省市:湖北;42
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