一种电子探针地质薄片样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子探针地质薄片样品台，属于地质薄片分析技术领域。所述电子探针地质薄片样品台包括：第三连接杆第一端与第二连接杆的第二端连接；第四连接杆第一端与第三连接杆的第二端连接，第二端与第一连接杆的第二端连接；第一分割件第一端与第一连接杆活动连接，第二端与第三连接杆活动连接；第二分割件第一端与第一连接杆活动连接，第二端与第三连接杆活动连接；夹持装置设置在第二连接杆及第四连接杆上；第三分割件两端与夹持装置活动连接。本实用新型专利技术电子探针地质薄片样品台提高电子探针实验效率，减少更换样品的频率，提高空间使用率，可根据样品大小调整到合适的尺寸。

Electronic probe geological sheet sample table

The utility model discloses an electronic probe geological thin film sample table, which belongs to the technical field of geological thin section analysis. The electron probe geological sheet samples station comprises third connecting rod and the first end of the second connecting rod second is connected with the fourth connecting rod; the first end and the third connecting rod connected to the second end, and the second end of the first connecting rod is connected to the second end of the first; a segmentation end is connected with the first connecting rod, and the second end the third connecting rod is movably connected; a second split end is connected with the first connecting rod, second terminal and the third connecting rod is movably connected; the clamping device is arranged on the second connecting rod and the four connecting rod; third pieces of segmentation and holding device is movably connected with both ends. The utility model has the advantages of improving the efficiency of the electronic probe experiment, reducing the frequency of replacing the sample and improving the space utilization rate, and can be adjusted to the appropriate size according to the sample size.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及地质薄片分析
，特别涉及一种电子探针地质薄片样品台。
技术介绍
电子探针广泛应用于地质、材料、冶金研究等，目前电子探针在世界上的主要生产厂家有日本电子(JEOL)、法国CAMECA、日本岛津(SHIMADZU)。在中国的电子探针，日本电子生产的电子探针占据了绝大部分。在地质学的研究中进行电子探针测试的岩石和矿物样品一般事先制作成表面抛光的电子探针薄片(长<50mm，一般48mm左右，宽25mm左右)。日本电子生产的各种型号的电子探针(本申请书简称JEOL电子探针)一般都配备有地质薄片分析系统，该分析系统是在电子探针上面装载了地质薄片的显微分析系统，即在电子探针里面配备了显微镜的功能，如能对地质薄片进行单偏光的镜下特征观察，因此能将地质样品的晶体光学特征和电子探针成分图像方便的结合起来。对于该地质薄片分析系统，需要一个特殊的样品台，该样品台放置地质薄片的下方需要是镂空的，这样才能让显微镜的光源从薄片下方照射上来，进行晶体光学的观察。但是该样品台一次最多可以装4个地质薄片，该样品台的左上角和右上角各有一个小空间，这两个小空间最初是用来装载电子探针标样。但是由于对于地质样品，经常需要分析的地质薄片数量很多，因此在测试过程中需要频繁的更换样品，这就有两个弊端，一是装载的地质薄片个数少，导致实验效率低下，且不能根据地质薄片的大小调整尺寸。
技术实现思路
本技术提供一种电子探针地质薄片样品台，解决了或部分解决了现有技术中装载的地质薄片个数少，导致实验效率低下，且不能根据地质薄片的大小调整尺寸的技术问题。为解决上述技术问题，本技术提供了一种电子探针地质薄片样品台，与所述底座连接；所述样品台包括：第一连接杆；第二连接杆，第一端与所述第一连接杆的第一端连接；第三连接杆，第一端与所述第二连接杆的第二端连接，所述第三连接杆与所述第一连接杆相对设置；第四连接杆，第一端与所述第三连接杆的第二端连接，第二端与所述第一连接杆的第二端连接，所述第四连接杆与所述第二连接杆相对设置，所述第四连接杆与所述底座连接；第一分割件，设置于所述第二连接杆和所述第四连接杆之间，所述第一分割件第一端与所述第一连接杆活动连接，第二端与所述第三连接杆活动连接；第二分割件，设置于所述第二连接杆和所述第四连接杆之间，所述第二分割件第一端与所述第一连接杆活动连接，第二端与所述第三连接杆活动连接；夹持装置，设置在所述第二连接杆及第四连接杆上；第三分割件，两端与所述夹持装置活动连接；其中，所述第一分割件、第二分割件及第三分割件形成六个容置空间。进一步地，所述第一连接杆及第三连接杆上开设有第一导轨。进一步地，所述第一分割件包括：第一分割杆，第一端与所述第一连接杆活动连接，第二端与所述第三连接杆活动连接。进一步地，所述第一分割杆两端设置有第一滑轮，所述第一滑轮设置在所述第一导轨内，所述第一滑轮与所述导轨相匹配。进一步地，所述第二分割件包括：第二分割杆，第一端与所述第一连接杆活动连接，第二端与所述第三连接杆活动连接。进一步地，所述第二分割杆两端设置有第二滑轮，所述第二滑轮设置在所述第一导轨内，所述第二滑轮与所述导轨相匹配。进一步地，所述夹持装置包括：第一夹持板，设置在所述第二连接杆上；第二夹持板，设置在所述第四连接杆上，所述第一夹持板及第二夹持板上开设有第二导轨。进一步地，所述第三分割件包括：分割板，一端与所述第一夹持板活动连接，另一端与所述第二夹持板活动连接，所述分割板两端设置有第三滑轮，所述第三滑轮设置在所述第二导轨内，所述第三滑轮与所述第二导轨相匹配。进一步地，本技术电子探针地质薄片样品台还包括：顶丝，分别与所述第一分割件、第二分割件及第三分割件连接。进一步地，本技术电子探针地质薄片样品台还包括：压片，一端设置在所述第一连接杆及第三连接杆上。本技术提供的电子探针地质薄片样品台的第一分割件第一端与第一连接杆连接，第二端与第三连接杆连接，第二分割件第一端与第一连接杆连接，第二端与第三连接杆连接，第三分割件两端与夹持装置连接，第一分割件、第二分割件及第三分割件形成六个容置空间，可以一次装载六个样品，提高电子探针实验效率，减少更换样品的频率，提高空间使用率，而且还能根据样品大小调整到合适的尺寸。附图说明图1为本技术实施例提供的电子探针地质薄片样品台的结构示意图。具体实施方式参见图1，本技术实施例提供了一种电子探针地质薄片样品台与所述底座连接；所述样品台包括：第一连接杆1、第二连接杆2、第三连接杆3、第四连接杆4、第一分割件5、第二分割件6、夹持装置7及第三分割件8。所述第二连接杆2第一端与所述第一连接杆1的第一端连接。所述第三连接杆3第一端与所述第二连接杆2的第二端连接，所述第三连接杆与所述第一连接杆1相对设置。所述第四连接杆4第一端与所述第三连接杆3的第二端连接，第二端与所述第一连接杆1的第二端连接，所述第四连接杆与所述第二连接杆2相设置，所述第四连接杆4与所述底座连接。所述第一分割件5设置于所述第二连接杆2和所述第四连接杆4之间，所述第一分割件5第一端与所述第一连接杆1活动连接，第二端与所述第三连接杆3活动连接。所述第二分割件6设置于所述第二连接杆2和所述第四连接杆4之间，所述第二分割件6第一端与所述第一连接杆1活动连接，第二端与所述第三连接杆3活动连接。所述夹持装置7设置在所述第二连接杆2及第四连接杆4上。所述第三分割件8两端与所述夹持装置7活动连接。其中，所述第一分割件5、第二分割件6及第三分割件8形成六个容置空间。详细介绍第一连接杆及第三连接杆的结构。所述第一连接杆1及第三连接杆3上开设有第一导轨。详细介绍第一分割件的结构。所述第一分割件包括：第一分割杆5-1。所述第一分割杆5-1第一端与所述第一连接杆1活动连接，第二端与所述第三连接杆3活动连接。所述第一分割杆5-1两端设置有第一滑轮，所述第一滑轮设置在所述第一导轨内，所述第一滑轮与所述第一导轨相匹配。所述第一分割杆5-1通过所述第一滑轮可在所述第一导轨内滑动。详细介绍第二分割件的结构。所述第二分割件包括：第二分割杆6-1。所述第二分割杆6-1第一端与所述第一连接杆1活动连接，第二端与所述第三连接杆3活动连接。所述第二分割杆6-1两端设置有第二滑轮，所述第二滑轮设置在所述第一导轨内，所述第二滑轮与所述导轨相匹配。所述第二分割杆6-1通过所述第二滑轮可在所述第一导轨内滑动。详细介绍夹持装置的结构。所述夹持装置包括：第一夹持板7-1及第二夹持板7-2。所述第一夹持板7-1固定设置在所述第二连接杆2上。具体地，在本实施方式中，所述第一夹持板7-1通过螺栓固定设置在所述第二连接杆2上，在其它实施方式中，所述第一夹持板7-1可通过其它方式如轴销等固
定设置在所述第二连接杆2上。所述第二夹持板7-2固定设置在所述第四连接杆4上。具体地，在本实施方式中，所述第二夹持板7-2通过螺栓固定设置在所述第四连接杆4上，在其它实施方式中，所述第二夹持板7-2可通过其它方式如轴销等固定设置在所述第四连接杆4上。所述第一夹持板7-1及第二夹持板7-2上开设有第二导轨。详细介绍第三分割件的结构。所述第三分割件包括：分割板8-1。所述分割板8-1一端与所述第一夹持本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子探针地质薄片样品台，与底座连接；其特征在于，所述样品台包括：第一连接杆(1)；第二连接杆(2)，第一端与所述第一连接杆(1)的第一端连接；第三连接杆(3)，第一端与所述第二连接杆(2)的第二端连接，所述第三连接杆与所述第一连接杆(1)相对设置；第四连接杆(4)，第一端与所述第三连接杆(3)的第二端连接，第二端与所述第一连接杆(1)的第二端连接，所述第四连接杆与所述第二连接杆(2)相对设置，所述第四连接杆(4)与所述底座连接；第一分割件(5)，设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间，所述第一分割件(5)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接，第二端与所述第三连接杆(3)活动连接；第二分割件(6)，设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间，所述第二分割件(6)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接，第二端与所述第三连接杆(3)活动连接；夹持装置(7)，设置在所述第二连接杆(2)及第四连接杆(4)上；第三分割件(8)，两端与所述夹持装置(7)活动连接；其中，所述第一分割件(5)、第二分割件(6)及第三分割件(8)形成六个容置空间。

【技术特征摘要】
1.一种电子探针地质薄片样品台，与底座连接；其特征在于，所述样品台包括：第一连接杆(1)；第二连接杆(2)，第一端与所述第一连接杆(1)的第一端连接；第三连接杆(3)，第一端与所述第二连接杆(2)的第二端连接，所述第三连接杆与所述第一连接杆(1)相对设置；第四连接杆(4)，第一端与所述第三连接杆(3)的第二端连接，第二端与所述第一连接杆(1)的第二端连接，所述第四连接杆与所述第二连接杆(2)相对设置，所述第四连接杆(4)与所述底座连接；第一分割件(5)，设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间，所述第一分割件(5)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接，第二端与所述第三连接杆(3)活动连接；第二分割件(6)，设置于所述第二连接杆(2)和所述第四连接杆(4)之间，所述第二分割件(6)第一端与所述第一连接杆(1)活动连接，第二端与所述第三连接杆(3)活动连接；夹持装置(7)，设置在所述第二连接杆(2)及第四连接杆(4)上；第三分割件(8)，两端与所述夹持装置(7)活动连接；其中，所述第一分割件(5)、第二分割件(6)及第三分割件(8)形成六个容置空间。2.根据权利要求1所述的样品台，其特征在于：所述第一连接杆(1)及第三连接杆(3)上开设有第一导轨。3.根据权利要求2所述的样品台，其特征在于，所述第一分割件包括：第一分割杆(5-1)，第一端与所述第一连接杆(1)活动连接，第二端与所述第三连接杆(3)活动连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨水源，张若曦，蒋少涌，
申请(专利权)人：中国地质大学武汉，
类型：新型
国别省市：湖北;42