【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体
,特别涉及一种MEMS麦克风及其形成方法。
技术介绍
采用微机电系统(MEMS,Micro-Electro-Mechanical System)工艺的MEMS麦克风具有超小尺寸、低功耗、性能稳定(不随时间和温度而变化)等优势,逐渐取代了传统的麦克风。参照图1,现有的一种MEMS麦克风包括:基底1,基底1具有正面S1和背面S2,基底1具有贯穿正面S1和背面S2的背腔11;位于基底1正面S1上的振动膜2,振动膜2覆盖背腔11;位于振动膜2上的绝缘支撑部3、和横亘在绝缘支撑部3上的极板4,极板4与振动膜2之间具有间隙5,该间隙5背向背腔11,背腔11和间隙5为振动膜2振动位移提供空间,绝缘支撑部3支撑极板4并将极板4和振动膜2绝缘隔离。在极板4中形成有若干相互隔开的声孔41,声孔41与间隙5连通。在MEMS麦克风工作时,声音从声孔41进入间隙5,引起振动膜2振动。其中振动膜2与极板4相对而构成一个电容,振动膜2和极板4分别与读出电路(未示出)电连接。当振动膜2上下振动时,振动膜2与极板4之间的间距发生改变,这会引起电容值变化,进而使声音信号转换成电信号。其中,信噪比(SIGNAL-NOISE RATIO,S/N)是衡量MEMS麦克风性能的重要参数。S/N为麦克风的电信号与其中噪声之比,通常,信噪比越大,说明麦克风越安静,混在电信号里的噪声越小,就有更多的裕量来将需要的声音与不需要的噪声隔离开来,声音回放的音质量越高。其中背腔11体积是影响MEMS信噪比的一个重要因素,背腔11体积越大,信噪比越小,反之越大。但是,背腔11的位置受到间 ...
【技术保护点】
一种MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底具有正面和背面;在所述正面形成振动膜、位于所述振动膜上方的极板,所述极板与振动膜绝缘隔离且在两者之间形成有间隙,在所述极板中形成有连通所述间隙的声孔;在所述背面背向所述振动膜形成第一背腔,所述第一背腔的深度小于所述基底厚度,所述第一背腔具有背向所述振动膜的底面;在所述底面中形成第二背腔,所述第二背腔露出所述振动膜且背向所述间隙,所述第二背腔在所述背面的投影位于所述第一背腔内。
【技术特征摘要】
1.一种MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底具有正面和背面;在所述正面形成振动膜、位于所述振动膜上方的极板,所述极板与振动膜绝缘隔离且在两者之间形成有间隙,在所述极板中形成有连通所述间隙的声孔;在所述背面背向所述振动膜形成第一背腔,所述第一背腔的深度小于所述基底厚度,所述第一背腔具有背向所述振动膜的底面;在所述底面中形成第二背腔,所述第二背腔露出所述振动膜且背向所述间隙,所述第二背腔在所述背面的投影位于所述第一背腔内。2.如权利要求1所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,在所述背面中形成第一背腔的方法包括:在所述背面上形成第一图形化的掩模层,定义出第一背腔的位置;以所述第一图形化的掩模层为掩模,刻蚀部分厚度的基底,形成所述第一背腔。3.如权利要求2所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,在所述底面中形成第二背腔的方法包括:在所述第一图形化的掩模层和底面上形成第二图形化的掩模层,在所述底面定义出第二背腔的位置;以所述第二图形化的掩模层为掩模,刻蚀所述底面下的基底至露出所述振动膜,形成所述第二背腔;去除所述第一图形化的掩模层和第二图形化的掩模层。4.如权利要求2或3所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,所述第一图形化的掩模层和第二图形化的掩模层的材料为光刻胶。5.如权利要求2或3所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,使用深反应离子刻蚀工艺,刻蚀所述基底。6.如权利要求1所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,所述第二背
\t腔的深度范围为大于等于50μm且小于所述基底厚度。7.如权利要求1所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,所述间隙和第二背腔在所述正面的投影重合,或者,所述间隙在所述正面的投影位于所述第二背腔内。8.如权利要求1所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,在所述背面形成所述第一背腔之前,在所述正面形成覆盖所述基底及极板的支撑层;在所述底面形成所述第二背腔之后,去除所述支撑层。9.如权利要求8所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,所述支撑层包括:氧化硅层和位于所述氧化硅层上的光刻胶层。10.如权利要求1所述的MEMS麦克风的形成方法,其特征在于,在所述正面形成所述振动膜和极板的方法包括:在所述正面形成振动膜;在所述振动膜上形成牺牲层和位于所述牺牲层侧壁的支撑部;或者,在所述振动膜上形成牺牲层、和在所述基底上且所述振动膜和牺牲层侧壁形成支撑部,所述支撑部具有绝缘性;之后,在所述支撑部和牺牲层上形成极板;在所述极板中形成若干声孔,所述声孔露出所述牺牲层;在形成所述第二背腔和声孔后,去除所述牺牲层,形成位于所...
【专利技术属性】
技术研发人员:闾新明,李卫刚,
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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