一种测试Nand flash生命周期的方法技术

本发明专利技术公开了一种测试Nand flash生命周期的方法，包括以下步骤:建立Nand flash的虚拟坏块表；根据虚拟坏块表进行生命周期检测。本发明专利技术利用一份虚拟坏块表代替现有技术中实际扫描得到的原始坏块表，根据虚拟坏块表进行生命周期测试，大大减小了测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及Nand flash存储器领域，尤其涉及一种测试Nand flash生命周期的方法。
技术介绍
数码产品要用到存储介质，就有机会用到Nand flash，每一个固件演算法对于Nand flash读写次数皆不相同，Nand flash的生命周期也不同，RD端量产前要对Nand flash的生命周期进行测试。现有技术中测试生命周期的方法如图1所示，首先擦除所有块，扫描建立一个Nand flash坏块表，然后使用读写测试工具检测Nand flash生命周期，具体的，根据坏块表逐个测试好的块可写入和抹除的次数，直至测试完所有好的块，计算出Nand flash的生命周期，并反馈至测试系统。上述方法需要将Nand flash每个好的块读写全盘至生命周期结束，需花費的时间非常冗长。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种可大大降低测试时间的Nand flash的生命周期测试方法。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种测试Nand flash生命周期的方法，包括以下步骤：建立Nand flash的虚拟坏块表；根据虚拟坏块表进行生命周期检测。进一步的，建立虚拟坏块表前还包括建立原始坏块表的步骤。进一步的，建立原始坏块表前还包括擦除所有块步骤。进一步的，根据虚拟坏块表进行生命周期检测具体包括：根据虚拟坏块表得到虚拟生命周期，并结合虚拟坏块表和原始坏块表估算实际生命周期。进一步的，虚拟坏块表是系统随机产生的虚拟坏块序列。进一步的，所述虚拟坏块表中虚拟坏块的数量大于原始坏块表中的坏块数量，且覆盖原始坏块表中的所有坏块。进一步的，根据虚拟坏块表得到虚拟生命周期中使用读写测试工具进行检测。本专利技术的有益效果在于：本专利技术通过生成一虚拟坏块表，并根据虚拟坏块表进行生命周期测试，最后根据虚拟坏块表的坏块数量推导得到Nand flash的生命周期，与现有技术根据原始坏块表进行测试相比，本专利技术可需要扫描的块数大大减少，也就是说，需要测试的读/写/擦除块数大大减少，可有效降低测试时间。附图说明图1为现有技术测试Nand flash生命周期的具体流程图；图2为本专利技术测试Nand flash生命周期的方法框图；图3为本专利技术测试Nand flash生命周期的具体流程图。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。本专利技术最关键的构思在于:利用一份虚拟坏块表代替现有技术中实际扫描得到的原始坏块表，根据虚拟坏块表进行生命周期测试，大大减小了测试时间。请参照图2，一种测试Nand flash生命周期的方法，包括以下步骤：建立Nand flash的虚拟坏块表；根据虚拟坏块表进行生命周期检测。从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：本专利技术通过生成一虚拟坏块表，并根据虚拟坏块表进行生命周期测试，最后根据虚拟坏块表的坏块数量推导得到Nand flash的生命周期，与现有技术根据原始坏块表进行测试相比，本专利技术可需要扫描的块数大大减少，也就是说，需要测试的读/写/擦除块数大大减少，可有效降低测试时间。进一步的，建立虚拟坏块表前还包括建立原始坏块表的步骤。进一步的，建立原始坏块表前还包括擦除所有块步骤。进一步的，根据虚拟坏块表进行生命周期检测具体包括：根据虚拟坏块表得到虚拟生命周期，并结合虚拟坏块表和原始坏块表确定实际生命周期。进一步的，虚拟坏块表是系统随机产生的虚拟坏块序列。进一步的，所述虚拟坏块表中虚拟坏块的数量大于原始坏块表中的坏块数量，且覆盖原始坏块表中的所有坏块。由上述描述可知，由于虚拟坏块表的坏块数量较大，而测试中仅对好块进行扫描，因此可大大减少测试时间。进一步的，根据虚拟坏块表得到虚拟生命周期中使用读写测试工具进行检测。实施例请参照图3，本专利技术的实施例为一种测试Nand flash生命周期的方法，具体包括以下步骤：(1)擦除所有块，建立原始坏块表，其中原始坏块表根据现有技术方法扫描生成；(2)在工具端建立一个虚拟坏块表，所述工具端是指例如在windows系统的量产工具，所述量产工具即在计算机上运行的开卡工具，例如U盘的开卡工具，虚拟坏块表是由系统随机产生坏块序列，这些虚拟坏块的总数大于原始坏块表的坏块数量，并且虚拟坏块包括原始坏块表的所有坏块，以避免后续测试时将数据写入真实的坏块中而影响测试结果。所述虚拟坏块表中的坏块数量可根据希望减少的测试时间而定，例如若想将测试时间减少一半，则可将真实的好块的一半列为虚拟坏块；(3)根据虚拟坏块表，使用读写测试工具检测Nand flash的虚拟生命周期。由于固件在写入资料时会先确认可以写入的块，建立虚拟坏块表之后，固件搜寻可以写入及擦除的块变少了，因此可以减少测试的时间。具体的，固件按序读写好块，完成一个块后判断是否是最后一个好块，若是则进入下一步，若否则返回继续下一个块；(4)根据步骤(3)测试得到的虚拟生命周期，结合虚拟坏块表和原始坏块表确定Nand flash的实际生命周期。具体的，假如有一半的真实好块被列为虚拟坏块，则实际生命周期可以估算为虚拟生命周期的两倍。最后将实际生命周期回复反馈至测试系统。综上所述，本专利技术生成一虚拟坏块数量大于原始坏块表的虚拟坏块表，并根据虚拟坏块表进行虚拟生命周期检测，最后结合虚拟坏块表和原始坏块表确定的好块数量比估算得到Nand flash的实际生命周期。由于虚拟坏块表中坏块数量较大，固件搜寻可以写入及擦除的好块变少了，因此可以减少测试的时间。本专利技术还可根据需要减少的测试时间调整虚拟坏块表中的虚拟坏块数量，使用灵活。以上所述仅为本专利技术的实施例，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试Nand flash生命周期的方法，其特征在于，包括以下步骤：建立Nand flash的虚拟坏块表；根据虚拟坏块表进行生命周期检测。

【技术特征摘要】
1.一种测试Nand flash生命周期的方法，其特征在于，包括以下步骤：建立Nand flash的虚拟坏块表；根据虚拟坏块表进行生命周期检测。2.根据权利要求1所述的测试Nand flash生命周期的方法，其特征在于：建立虚拟坏块表前还包括建立原始坏块表的步骤。3.根据权利要求2所述的测试Nand flash生命周期的方法，其特征在于：建立原始坏块表前还包括擦除所有块步骤。4.根据权利要求2或3所述的测试Nand flash生命周期的方法，其特征在于：根据虚拟坏块表进行生命周期检测具体包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙日欣，孙成思，李振华，黄善勇，叶欣，张翔，邝祖智，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44