电学功能测试装置、系统及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电学功能测试装置、系统及方法，该电学功能测试装置包括：至少一个夹持工具，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定区附近；至少一排探针，其被配置为当至少一个夹持工具夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关，每个多路开关的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的实施例涉及对诸如触控面板等电子设备的电学功能的测试，具体涉及一种电学功能测试装置、系统及方法。
技术介绍
目前，触控屏已经是生活中必不可少的电子产品之一。在触控屏的生产中需要对触控面板产品的电学功能进行测试。目前比较常用的电学功能测试设备都比较庞大，设备三维尺寸中最小的一般都大于50cm，且价格昂贵。且对于大尺寸的触控面板产品，功能测试设备需同步做大，价格也随之增加。另外对于不良解析工作者，需要在不同的地方进行触控面板的功能测试，而目前采用的功能测试机由于体积庞大，不能满足随身携带的需求。其他电子产品的电学功能测试也存在着类似的问题。可见，本领域中需要一种能够克服上述现有技术的缺点的改进的电学功能测试解决方案。
技术实现思路
在一个方面，提供了一种根据本专利技术的实施例的电学功能测试装置，包括：至少一个夹持工具，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定(bonding)区附近；至少一排探针，其被配置为当至少一个夹持工具夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关，每个多路开关的的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够通过导线与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接。在另一个方面，提供了一种根据本专利技术的实施例的电学功能测试系统，包括：根据本专利技术的任何一个实施例的电学功能测试装置，以及测量仪表，其中，所述电学功能测试装置的至少一个多路开关的所述第二端的两个端口分别通过导线与所述测量仪表的两个端口相连，形成测试回路。在又一个方面，提供了一种根据本专利技术的实施例的电学功能测试方法，包括：将根据本专利技术的任何一个实施例的电学功能测试装置通过所述至少一个夹持工具夹持在待测电子设备的至少一个绑定区附近，使得所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；将所述至少一个多路开关的所述第二端的两个端口通过导线与测量仪表的两个端口相连，形成测试回路；根据测试需要操作所述至少一个多路开关，使得所述至少一个多路开关的所述第一端的多个端口所连接的所述至少一排探针中的特定两个探针分别与所述至少一个多路开关的所述第二端的两个端口电连接；使用所述测量仪表测量所述特定两个探针所分别连接的两个引脚之间的电学功能。本专利技术的实施例提供了一种简易的电学功能测试治具，其结构简单、成本低廉、便于携带，能够实现对诸如触控面板等电子设备的电学功能的有效测试。附图说明图1示出了根据本专利技术的实施例的一种电学功能测试装置；图2示意性地示出了根据本专利技术的一些实施例的电学功能测试装置及其使用场景示例；图3示意性地示出了根据本专利技术的另一些实施例的电学功能测试装置及其使用场景示例；以及图4示出了根据本专利技术的实施例的一种电学功能测试方法。具体实施方式为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的解决方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术的实施例所提供的电学功能测试装置、系统及方法作进一步详细描述。显然，所描述和图示的实施例及其中的各种具体特征仅是对本专利技术的示例性说明，而不是对本专利技术的限制。基于所述示例性说明，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例及其具体特征，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，在对本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。还需要说明的是，在本专利技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体的连接；可以是机械连接，也可以是电连接，或者是通信连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可视具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。现参照图1，其示出了根据本专利技术的实施例的一种电学功能测试装置100。如图1所示，该电学功能测试装置100包括：至少一个夹持工具101，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定区附近(包括夹持在电子设备的至少一个绑定区上)；至少一排探针102，其被配置为当至少一个夹持工具101夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针102与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关103，每个多路开关的的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够通过导线与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接。这样，通过将所述夹持工具101夹持在诸如触控面板等电子设备的绑定区附近，使所述至少一个探针102与所述绑定区中的多个引脚分别电连接，并通过所述多路开关控制所述多个引脚中的任意两个引脚分别与多路开关所连接的测量仪表(如万用表、电容表)的两个端口电连接，就可以实现对任意两个引脚之间的电学功能(如电阻、电压、电容、电感)等的测量。因此，本专利技术的实施例提供了一种能够有效测量电子设备的电学功能的简易、低成本和便携的测试装置或治具。所述电子设备可以是任何具有绑定区的电子设备，例如触控面板(具体地例如可以是触控面板的触控传感器)等。所述绑定区可包括若干成排的引脚(所述引脚例如可被称为“金手指”)，每个引脚可具有由该电子产品的设计规范所定义的特定功能。此外，所述若干成排的引脚中的任意两个引脚之间应当具有由该电子产品的设计规范所定义的特定的电学功能(或性能)，例如，特定的两个引脚之间应当具有指定的电压、电阻、电流、电感或电抗等。通过使用所述测试仪表106测试特定的两个引脚之间的特定的电学功能，以判断该电学功能是否符合该电子产品的设计规范中指定的该两个引脚之间的电学功能，就可以实现对该电子产品的功能或性能测试。所述测试仪表可以是任何能够测试特定电学功能的测试仪表，例如可用于测试电压、电阻、电流等的万用表，用于测试电容的电容表，用于测试电感的电感检测仪，等等。所述夹持工具101可以是任何能够夹持在电子设备的绑定区附近以实现所述至少一排探针102中的多个探针与所述绑定区的多个引脚之间的各自电连接的装置或器具。所述夹持工具101可具有任何适当的形状、大小和结构，以便能够稳定地绑定在特定电子设备的绑定区附近。例如，所述夹持工具101在结构上可以类似于可用于夹持一沓文件的长尾夹，其具有一个夹体和两个尾柄，所述夹体本身为弹性钢片或配有弹簧，且其前端可以张开和闭合，通过捏起两个尾柄可以使所述夹体张开，通过放开两个尾柄可以使所述夹体闭合，这样就可以将所述夹持工具101夹持在电子设备的绑定区附近或绑定区上。所述一排探针102可以与所述夹持工本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电学功能测试装置，包括：至少一个夹持工具，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定区附近；至少一排探针，其被配置为当至少一个夹持工具夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关，每个多路开关的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够通过导线与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接。

【技术特征摘要】
1.一种电学功能测试装置，包括：至少一个夹持工具，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定区附近；至少一排探针，其被配置为当至少一个夹持工具夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关，每个多路开关的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够通过导线与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接。2.根据权利要求1所述的电学功能测试装置，其中，所述至少一个夹持工具包括一个夹持工具，所述至少一排探针包括一排探针，所述至少一个多路开关包括第一多路开关和第二多路开关，所述第一多路开关的第一端的多个端口通过第一组导线与所述一排探针中的第一组探针分别相连，所述第二多路开关的第一端的多个端口通过第二组导线与所述一排探针中的第二组探针分别相连。3.根据权利要求1所述的电学功能测试装置，其中，所述至少一个夹持工具包括第一夹持工具和第二夹持工具，所述至少一排探针包括第一排探针和第二排探针，且被配置为当第一夹持工具夹持在电子设备的第一绑定区附近时，所述第一排探针与所述第一绑定区中的多个引脚分别电连接，当第二夹持工具夹持在电子设备的第二绑定区附近时，所述第二排探针与所述第二绑定区中的多个引脚分别电连接，所述至少一个多路开关包括第一多路开关和第二多路开关，所述第一多路开关的第一端的多个端口通 过第一组导线与所述第一排探针中的探针分别相连，所述第二多路开关的第一端的多个端口通过第二组导线与所述第二排探针中的探针分别相连。4.根据权利要求1所述的电学功能测试装置，其中所述至少一个夹持工具包括一个夹持工具，所述至少一排探针包括一排探针，所述至少一个多路开关包括一个多路开关，所述多路开关的第一端的多个端口通过一组导线与所述一排探针中的探针分别相连，所述多路开关的第二端包括能够通过导线分别与测量仪表两个端口连接的两个端口，...

【专利技术属性】
技术研发人员：范文金，张雷，郭总杰，王庆浦，曾琴，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11