一种能测量的金属划笔制造技术

本实用新型专利技术公开了一种能测量的金属划笔，包括副尺、水准、划笔主体和保护套；所述划笔主体上的左侧刻有主尺刻度槽，划笔主体左下端开有L形槽；所述划笔主体背面开有副尺槽，副尺槽内安装有副尺；所述划笔主体下端为划针头，划针头上套有保护套；所述副尺包括尺头和副尺主体，尺头上横向和竖向均安装有水准，尺头中部开有第一凹槽结构，副尺主体上的左侧刻有副尺刻度槽。本实用新型专利技术能够利用划笔主体及副尺上的刻度槽测量长度，副尺结合L形槽可用于加长测量；水准可用于确定水平；带保护套的划针头用来划线。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及建筑工具的
，特别是一种能测量的金属划笔的

技术介绍
划针主要是钳工用来在工件表面划线条的，也有建筑工人用来在瓷砖表面划线使用。常用弹簧钢丝或高速钢制成，直径为3mm-6mm,尖端成15度-20度，并经淬硬，变的不易磨损和变钝。不使用时需要套上保护套以作防护。尺子用于测量长度，长度较长时，刚性的尺子不够用。因而需要一种能测量且能变长的金属划笔。
技术实现思路
本技术的目的就是解决现有技术中的问题，提出一种能测量的金属划笔，能够利用划笔主体及副尺上的刻度槽测量长度，副尺结合L形槽可用于加长测量；水准可用于确定水平；带保护套的划针头用来划线。为实现上述目的，本技术提出了一种能测量的金属划笔，包括副尺、水准、划笔主体和保护套；所述划笔主体上的左侧刻有主尺刻度槽，划笔主体左下端开有L形槽；所述划笔主体背面开有副尺槽，副尺槽内安装有副尺；所述划笔主体下端为划针头，划针头上套有保护套；所述副尺包括尺头和副尺主体，尺头上横向和竖向均安装有水准，尺头中部开有第一凹槽结构，副尺主体上的左侧刻有副尺刻度槽。作为优选，所述尺头右下端开有第一圆孔，划笔主体右上端开有第二圆孔，第一圆孔和第二圆孔均为圆形通孔。作为优选，所述副尺主体右侧面上设有方形凸起，副尺槽为方形槽，副尺槽的右侧开有方形凹槽，方形凸起与方形凹槽相配合。作为优选，所述划针头下端左右两侧均开有第二凹槽结构，保护套上端内侧两端均设有凸起结构，第二凹槽结构与凸起结构相配合。作为优选，所述主尺刻度槽的最上端横向刻度距离划笔主体边缘为5mm，主尺刻度槽的最下端横向刻度距离L形槽的上边缘为5mm。本技术的有益效果：本技术能够利用划笔主体及副尺上的刻度槽测量长度，副尺结合L形槽可用于加长测量；水准可用于确定水平；带保护套的划针头用来划线。本技术的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。【附图说明】图1是本技术一种能测量的金属划笔的主视图；图2是本技术一种能测量的金属划笔的主视方向中线剖分的部分左视图；图3是本技术一种能测量的金属划笔的划笔主体上端圆孔中线处横向剖面图；图4是本技术一种能测量的金属划笔的部分主视剖面图；图5是本技术一种能测量的金属划笔的保护套俯视图；图6是本技术一种能测量的金属划笔的后视图；图7是本技术一种能测量的金属划笔的副尺拉出状态下的主视图。图中：1-副尺、11-尺头、111-第一凹槽结构、112-第一圆孔、12-副尺主体、121-方形凸起、122-副尺刻度槽、2-水准、3-划笔主体、31-主尺刻度槽、32-第二圆孔、33-L形槽、34-划针头、341-第二凹槽结构、35-副尺槽、351-方形凹槽、4-保护套、41-凸起结构。 【具体实施方式】参阅图1～图7，本技术，包括副尺1、水准2、划笔主体3和保护套4；所述划笔主体3上的左侧刻有主尺刻度槽31，划笔主体3左下端开有L形槽33；所述划笔主体3背面开有副尺槽35，副尺槽35内安装有副尺1；所述划笔主体3下端为划针头34，划针头34上套有保护套4；所述副尺1包括尺头11和副尺主体12，尺头11上横向和竖向均安装有水准2，尺头11中部开有第一凹槽结构111，副尺主体12上的左侧刻有副尺刻度槽122。具体的，所述尺头11右下端开有第一圆孔112，划笔主体3右上端开有第二圆孔32，第一圆孔112和第二圆孔32均为圆形通孔。具体的，所述副尺主体12右侧面上设有方形凸起121，副尺槽35为方形槽，副尺槽35的右侧开有方形凹槽351，方形凸起121与方形凹槽351相配合。具体的，所述划针头34下端左右两侧均开有第二凹槽结构341，保护套4上端内侧两端均设有凸起结构41，第二凹槽结构341与凸起结构41相配合。具体的，所述主尺刻度槽31的最上端横向刻度距离划笔主体3边缘为5mm，主尺刻度槽31的最下端横向刻度距离L形槽33的上边缘为5mm。本技术工作过程：本技术一种能测量的金属划笔在工作过程中，通过第一圆孔112和第二圆孔32可以悬挂金属划笔；使得保护套4的凸起结构41与划针头34的第二凹槽结构341分离，可利用划针头34划线，使用结束后使得第二凹槽结构341与凸起结构41相配合，从而盖上保护套4；利用划笔主体3上的主尺刻度槽31进行测量，当长度不够时，按住第一凹槽结构111使得副尺1的副尺主体12从副尺槽35内移出即可，从而利用副尺主体12的副尺刻度槽122测量；在使用副尺主体12过程中，利用L形槽33确定左侧的划笔主体3是否摆放平；通过 嵌装于尺头11的水准2确定是否水平。本技术，能够利用划笔主体及副尺上的刻度槽测量长度，副尺结合L形槽可用于加长测量；水准可用于确定水平；带保护套的划针头用来划线。上述实施例是对本技术的说明，不是对本技术的限定，任何对本技术简单变换后的方案均属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种能测量的金属划笔，其特征在于：包括副尺(1)、水准(2)、划笔主体(3)和保护套(4)；所述划笔主体(3)上的左侧刻有主尺刻度槽(31)，划笔主体(3)左下端开有L形槽(33)；所述划笔主体(3)背面开有副尺槽(35)，副尺槽(35)内安装有副尺(1)；所述划笔主体(3)下端为划针头(34)，划针头(34)上套有保护套(4)；所述副尺(1)包括尺头(11)和副尺主体(12)，尺头(11)上横向和竖向均安装有水准(2)，尺头(11)中部开有第一凹槽结构(111)，副尺主体(12)上的左侧刻有副尺刻度槽(122)。

【技术特征摘要】
1.一种能测量的金属划笔，其特征在于：包括副尺(1)、水准(2)、划笔主体(3)和保护套(4)；所述划笔主体(3)上的左侧刻有主尺刻度槽(31)，划笔主体(3)左下端开有L形槽(33)；所述划笔主体(3)背面开有副尺槽(35)，副尺槽(35)内安装有副尺(1)；所述划笔主体(3)下端为划针头(34)，划针头(34)上套有保护套(4)；所述副尺(1)包括尺头(11)和副尺主体(12)，尺头(11)上横向和竖向均安装有水准(2)，尺头(11)中部开有第一凹槽结构(111)，副尺主体(12)上的左侧刻有副尺刻度槽(122)。2.如权利要求1所述的一种能测量的金属划笔，其特征在于：所述尺头(11)右下端开有第一圆孔(112)，划笔主体(3)右上端开有第二圆孔(32)，第一圆...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟群，
申请(专利权)人：福建品派包装有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35