一种天线测试用夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种天线测试用夹具，所述夹具包括座体、压合装置，还包括至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置，这种设计使得极限样品和待测样品的测试可以同时进行，用同一状态下测试极限样品得到的门限值来判定待测样品的合格与否，最大程度上减小了测试夹具自身的稳定性波动带来的测试和判断误差，提高了检出精度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及通讯设备领域，尤其涉及一种天线测试用夹具。
技术介绍
目前，天线生产厂商在产品出厂检验时，都会采用电性能全检方案检测产品的电性能。具体来说，根据产品的外形、线路形式、性能等要素设计天线测试夹具，夹具连接到测试仪器上，然后将待测产品放置到测试夹具上，夹具固定住待测产品后，可以开始测试。测试之前，先对一极限产品进行测试，以其测试参数作为测试门限值。测试时，测试仪器和控制电脑相连，设定控制电脑里的门限值，比较测试结果和门限值以判定所测产品性能是否满足出厂要求。然而由于加工精度、组装公差、使用磨损等因素会导致测试夹具的稳定性下降，测试数据出现波动。如图1所示，首次极限样品测试所确定的门限范围为箭头所示范围，产品测试结果落在A到A’区间内则判定为合格品，落在区间外的为不合格品。当测试夹具稳定性下降后，再次测试极限样品，会发现极限样品的测试值发生变化，使得真实的门限范围变成B到B’的区间。但是由于门限值设定后不会经常更改，若待测样品的测试结果落在A到B区间内依然会被判定为合格品，而落在A’到B’区间内的则会被判定为不合格品，实际上此时真实的区间已经变为B到B’，这样A到B区间的产品实际应该为不合格品而被判定为合格品，A’到B’区间的产品实际应该为合格品而被判定为不合格品。所以若仍然以最先测得的门限值作为判断标准，会出现测试结果判定不准确，导致浪费合格品和流出不合格品的风险。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是：由于天线测试夹具稳定性下降导致浪费合格品和流出不合格品的现象。为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：一种天线测试用夹具，包括座体、压合装置，还包括至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置。进一步的，包括两块电性能检测主板和两套固定装置，分别用于待测样品和极限样品测试。进一步的，所述电性能检测主板包括印制电路板、测试电缆和接触装置。进一步的，所述至少两块电性能检测主板的性能完全相同。进一步的，所述电性能检测主板并排或分排放置。进一步的，固定装置和电性能检测主板一一对应。本技术的有益效果在于：测试极限样品的环境和状态与测试待测样品的环境和状态相同，用同一状态下测试得到的门限值来判定待测样品的合格与否，避免了测试夹具自身的稳定性波动带来的测试和判断误差，提高了检出精度。附图说明图1为现有技术中夹具不稳定导致门限值范围波动示意图；图2为测试样品与电性能检测主板相对位置关系图；图3为本技术中极限样品和待测样品相对位置关系图；图4为本技术电性能测试系统框图；图5为本技术电性能测试流程图；标号说明：1、印制电路板；2、测试电缆；3、接触装置；4、测试样品；10、电性能检测主板；11、极限样品；12、待测样品；13、电性能检测主板1#；14、电性能检测主板2#。具体实施方式为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。本技术最关键的构思在于:在天线测试夹具上设有至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置，这种设计使得极限样品和待测样品的测试可以同时进行，用同一状态下测试得到的门限值来判定待测样品的合格与否，避免了测试夹具自身的稳定性波动带来的测试和判断误差，提高了检出精度。请参照图2及图3，一种天线测试用夹具，包括座体、压合装置，还包括至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置。由上述描述可知，本技术的有益效果在于：对门限值进行实时更新，用同一状态下测试极限样品得到的门限值来判定待测样品的合格与否，很大程度上减小了测试夹具自身的稳定性波动带来的测试和判断误差，提高了检出精度。进一步的，所述天线测试用夹具包括两块电性能检测主板和两套固定装置，分别用于待测样品和极限样品测试。进一步的，所述电性能检测主板包括印制电路板、测试电缆和接触装置。进一步的，所述至少两块电性能检测主板的性能完全相同。由上述描述可知，保证电性能检测主板的性能完全相同，以确保极限样品和待测样品的检测环境一样，有利于准确地得到测试结果，作出判断。进一步的，所述电性能检测主板并排或分排放置。由上述描述可知，在各个电性能检测主板工作互不影响的条件下，我们可以根据需要来摆放电性能检测主板。进一步的，所述固定装置与所述电性能检测主板一一对应。由上述描述可知，固定装置的位置、数量均与电性能检测主板相对应，以便以同样的方式固定检测样品，提供相同的测试环境。实施例请参照图2至图4，本技术的实施例一为：一种天线测试用夹具，包括座体、压合装置，还包括两块电性能检测主板10和两套固定装置，分别用于极限样品11测试和待测样品12测试。如图2所示，所述电性能检测主板10包括印制电路板1、测试电缆2和接触装置3。印制电路板1的尺寸根据不同待测品的性能、尺寸差异而定制化设计。测试电缆2主体焊接在印制电路板1上，一端用于连接测试设备，另一端连接接触装置3。接触装置3的一端连接测试电缆2，另一端用于接触测试样品4。如图3所示，所述电性能检测主板1#13和电性能检测主板2#14的性能完全相同，以确保极限样品11和待测样品12的检测环境一样，有利于准确地得到测试结果，作出判断。图3中所示电性能检测主板1#13和电性能检测主板2#14并排设置，但也可分排放置，以满足不同的需要。所述固定装置的位置、数量均与电性能检测主板1#13和电性能检测主板2#14相对应，以便以同样的方式固定检测样品，提供相同的测试环境。下面介绍上述天线测试用夹具的测试方法，如图4和图5所示，测试开始前，先将极限样品放置于对应的固定装置中，再将待测品放置于对应的固定装置中；固定好后，推动治具压合装置使待测样品和极限样品同时与其对应的电性能检测主板接触，测试仪器分别通过待测样品测试通路和极限样品测试通路测试性能得到参数；分别将待测样品和极限样品的测试数据传给电脑，电脑测试软件将本次测得的极限样品结果设置为门限值，再将待测品的测试结果和门限值比较，作出合格与否判断；判断完成后，松开夹具压合装置，保持极限样品不动，取下此次测试完成的待测样品，更换下一个待测品，开始下一轮测试。在本实施例中，可以有一个或者多个极限样品测试通路和待测样品测试通路，当有多个极限样品测试通路时，计算出各个极限样品测试结果的平均值作为门限值；当有多个待测样品测试通路时，则可以同时对多个待测样品进行合格与否判定，提高判定效率。同时，本测试方法使用的极限样品具有使用期限，当前后两次测试波动超过10％或者确认极限样品某些部位因为长期使用有明显的磨损等现象时，更换极限样品，更换的新样品是在选定极限样品时一同选定的性能相同的样品。综上所述，本技术提供的一种天线测试用夹具，包括座体、压合装置，还包括至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置，这种设计使得极限样品和待测样品的测试可以同时进行，用同一状态下测试极限样品得到的门限值来判定待测样品的合格与否，最大程度上减小了测试夹具自身的稳定性波动带来的测试和判断误差，提高了检出精度，并且还可以提升检出效率。以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种天线测试用夹具，包括座体、压合装置，其特征在于，还包括至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置。

【技术特征摘要】
1.一种天线测试用夹具，包括座体、压合装置，其特征在于，还包括至少两块电性能检测主板和至少两套固定装置。2.根据权利要求1所述的天线测试用夹具，其特征在于，包括两块电性能检测主板和两套固定装置，分别用于待测样品和极限样品测试。3.根据权利要求1所述的天线测试用夹具，其特征在于，所述电性能检测主板包括印制电路板、测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：毕晔海，
申请(专利权)人：深圳市信维通信股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44