一种用于光分路器的耦合监控装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于光分路器的耦合监控装置，包括集成光源、单芯光纤阵列、光分路器芯片、多芯光纤阵列、光学测量仪器、微型显微镜一，微型显微镜二和显示装置。本实用新型专利技术的有益效果是：多芯光纤阵列和光分路器芯片的每个通道的间距是一致的，因此可对两路输出光纤采用光学测量仪器进行水平状态的监控；单芯光纤阵列与光分路器芯片顶端的中心位置设有显微镜一，且光分路器芯片与多芯光纤阵列顶端的中心位置设有显微镜二，该摄像机将实物放大20倍，实时监控单芯光纤阵列、光分路器芯片和多芯光纤阵列之间的位置关系，提高了光纤和芯片对准精度，从而提高了产品的成品率，达到耦合实时监控的目的。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种监控装置，具体为一种用于光分路器的耦合监控装置，属于移动通讯

技术介绍
目前各国都在大力推广光纤接入网，国内随着光纤接入网建设的深入开展，市场对于光分路器的需求明显增大，光分路器可能是下一步无源器件市场需求的重点。作为系统的必要器件，光分路器的使用数量将随着光纤接入网络的部署节节上升；如何在不增加设备投入的情况下提高效率，是每个厂家都会考虑的问题；市场上手动和半自动式的光分路器封装设备(6维或5维调节架)存在几个瓶颈，一是时间域上的瓶颈，芯片与光纤阵列的端面对准消耗的时间和各个光通道检验消耗的时间，这些时间基本上取决于操作者的熟练程度、光学放大设备的精度和计算机控制算法的速度；二是光的传输需要介质，在平面波导型光分路器中光是在光纤和芯片的光波导中传输的，所以我们需要将光纤与芯片的波导对准、粘接，完成光的传输路径，光纤与芯片的波导对准、粘接就是耦合，在耦合的工艺中，因为芯片内波导和光纤阵列内都非常微小，将光纤阵列与芯片的传输通道对准非常困难，会造成成品率低，所以需要耦合监控装置的监控光学于芯片之间的距离，因此，针对上述问题提出一种用于光分路器的耦合监控装置。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种用于光分路器的耦合监控装置。本技术通过以下技术方案来实现上述目的，一种用于光分路器的耦合监控装置，包括集成光源以及连接所述集成光源一侧的单芯光纤阵列，所述单芯光纤阵列一侧设有光分路器芯片，且所述光分路器芯片一侧设有多芯 光纤阵列；所述多芯光纤阵列一端连接光学测量仪器，所述光分路器芯片顶端设有微型显微镜一，所述微型显微镜一一侧设有微型显微镜二，所述微型显微镜二与微型显微镜一的顶端设有显示装置。优选的，所述集成光源、所述单芯光纤阵列、所述光分路器芯片、所述多芯光纤阵列和所述光学测量仪器在一条水平线上。优选的，所述单芯光纤阵列与所述光分路器芯片顶端的中心位置设有所述微型显微镜一。优选的，所述光分路器芯片与所述多芯光纤阵列顶端的中心位置设有所述微型显微镜二。优选的，所述微型显微镜二与所述微型显微镜一均连接所述显示装置。本技术的有益效果是：该种用于光分路器的耦合监控装置集成光源、单芯光纤阵列、光分路器芯片、多芯光纤阵和光学测量仪器在一条水平线上，多芯光纤阵列和光分路器芯片的每个通道的间距是一致的，因此可对两路输出光纤采用光学测量仪器进行水平状态的监控；单芯光纤阵列与光分路器芯片顶端的中心位置设有微型显微镜一，且光分路器芯片与多芯光纤阵列顶端的中心位置设有微型显微镜二，该摄像机将实物放大20倍，实时监控单芯光纤阵列、光分路器芯片和多芯光纤阵列之间的位置关系，提高了光纤和芯片对准精度，从而提高了产品的成品率，达到耦合实时监控的目的。附图说明图1为本技术整体结构示意图。图中：1、集成光源，2、单芯光纤阵列，3、光分路器芯片，4、多芯光纤阵列，5、光学测量仪器，6、微型显微镜一，7、微型显微镜二，8、显示装置。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术 方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1所示，一种用于光分路器的耦合监控装置，包括集成光源1以及连接所述集成光源1一侧的单芯光纤阵列2，所述单芯光纤阵列2一侧设有光分路器芯片3，且所述光分路器芯片3一侧设有多芯光纤阵列4；所述多芯光纤阵列4一端连接光学测量仪器5，所述光分路器芯片3顶端设有微型显微镜一6，所述微型显微镜一6一侧设有微型显微镜二7，所述微型显微镜二7与微型显微镜一6的顶端设有显示装置8。作为本技术的一种技术优化方案，所述集成光源1、所述单芯光纤阵列2、所述光分路器芯片3、所述多芯光纤阵列4和所述光学测量仪器5在一条水平线上，实现芯片和光纤的水平位置的监测。作为本技术的一种技术优化方案，所述所述单芯光纤阵列2与所述光分路器芯片3顶端的中心位置设有所述微型显微镜一6，实现单芯光纤阵列与光分路器芯片之间位置的监测。作为本技术的一种技术优化方案，所述光分路器芯片3与所述多芯光纤阵列4顶端的中心位置设有所述微型显微镜二7，实现分路器芯片与多芯光纤阵之间位置的监测。作为本技术的一种技术优化方案，所述微型显微镜二7与所述微型显微镜一6均连接所述显示装置8，实现监测位置的显示。本技术在使用时，该种用于光分路器的耦合监控装置由集成光源1向单芯光纤2内输入光源，光源依次对准单芯光纤阵列2、光分路器芯片3、多芯光纤阵列4；多芯光纤阵列4的通道多，很难做到一一监控，通过多芯光纤阵列4和光分路器芯片3的每个通道的间距是一致的，因此可对两路输出 光纤采用光学测量仪器5进行水平状态的监控；采用微型显微镜一6，实现单芯光纤阵列2与光分路器芯片3之间位置的监测；采用微型显微镜二7，实现分路器芯片3与多芯光纤阵列4之间位置的监测，并通过显示装置8显示。对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光分路器的耦合监控装置，包括集成光源(1)以及连接所述集成光源(1)一侧的单芯光纤阵列(2)，其特征在于：所述单芯光纤阵列(2)一侧设有光分路器芯片(3)，且所述光分路器芯片(3)一侧设有多芯光纤阵列(4)；所述多芯光纤阵列(4)一端连接光学测量仪器(5)，所述光分路器芯片(3)顶端设有微型显微镜一(6)，所述微型显微镜一(6)一侧设有微型显微镜二(7)，所述微型显微镜二(7)与微型显微镜一(6)的顶端设有显示装置(8)。

【技术特征摘要】
1.一种用于光分路器的耦合监控装置，包括集成光源(1)以及连接所述集成光源(1)一侧的单芯光纤阵列(2)，其特征在于：所述单芯光纤阵列(2)一侧设有光分路器芯片(3)，且所述光分路器芯片(3)一侧设有多芯光纤阵列(4)；所述多芯光纤阵列(4)一端连接光学测量仪器(5)，所述光分路器芯片(3)顶端设有微型显微镜一(6)，所述微型显微镜一(6)一侧设有微型显微镜二(7)，所述微型显微镜二(7)与微型显微镜一(6)的顶端设有显示装置(8)。2.根据权利要求1所述的一种用于光分路器的耦合监控装置，其特征在于：所述集成光源(1)、所述单芯光纤阵列(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤仁军，谭兰兰，
申请(专利权)人：深圳市嘉迅通光电有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44