本发明专利技术公开一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，解决了实际生产中利用芯片双闭环特性进行全数据中IMOD表格偏移时避免出现偏移之后在低温时出现的IMOD电流补偿值很小或接近于0的情况。可以避免在利用芯片双闭环特性得到单闭环IMOD补偿曲线时，由于当前温度点IMOD DAC值比较大时，使偏移出的曲线无下限控制，造成单闭环时IMOD电流补偿在低温时出现IMOD电流值很小或异常的情况，有效的防止了利用双闭环特性制作单闭环IMOD补偿表的模块在低温下眼图接近于关闭，影响光模块的使用。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法。
技术介绍
在采取利用双闭环特性得到单闭环模式IMOD电流补偿表的光模块生产中，需要对IMOD 电流补偿表进行烧录，所以需要对双闭环模式下的全数据IMOD补偿曲线进行偏移，得到单闭环模式下的IMOD电流补偿曲线。原方法：在进行曲线线性偏移时，将曲线在坐标系中向上或者向下线性偏移一定的数值，得到偏移曲线。原方法存在的问题：在结合生产的过程中，如果曲线在坐标系中整体向下偏移的数值过大，就会造成曲线向负无穷端的值接近于横轴或者在横轴之下，即得到的值接近于0或者在0以下，这样就会造成IMOD电流补偿在低温时出现IMOD电流过小或者直接为零的情况发生，造成光模块发射眼图直接关闭，影响光模块的工作性能。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，解决了实际生产中利用芯片双闭环特性进行全数据中IMOD表格偏移时避免出现偏移之后在低温时出现的IMOD电流补偿值很小或接近于0的情况。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供了一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，包括以下具体步骤：a、将低温时IMOD DAC允许的最小值写入到配置文件Ini中；b、读取全数据中IMOD表格，并找到表格中的最小值；c、计算出IMOD表格中的最小值与提供的允许最小的IMOD DAC的差值，称为标准差值；d、读取当前温度点下的IMOD DAC值，读取6次；e、找到当前温度点下表格中的IMOD DAC值，将表格中的IMOD DAC值与当前温度点下芯片上报的IMOD DAC值做差值，如果此差值大于标准差值，则记录此异常值索引；f、如果6次均得不到正常值，则给出提示，调整TX Power寄存器，减小当前温度点下IMOD DAC寄存器的值；g、经过对比，去掉异常值，将正常值取平均，得到当前温度点下可用的IMOD DAC值；h、将得到的IMOD DAC值与表格中的IMOD DAC值做差值，并做曲线偏移；i、生成曲线。本专利技术的有益效果是：本专利技术的适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，可以避免在利用芯片双闭环特性得到单闭环IMOD补偿曲线时，由于当前温度点IMOD DAC值比较大时，使偏移出的曲线无下限控制，造成单闭环时IMOD电流补偿在低温时出现IMOD电流值很小或异常的情况，有效的防止了利用双闭环特性制作单闭环IMOD补偿表的模块在低温下眼图接近于关闭，影响光模块的使用。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：图1为本专利技术中适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法一较佳实施例的流程图。具体实施方式下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施例包括：一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，包括以下具体步骤：a、将低温时IMOD DAC允许的最小值写入到配置文件Ini中；b、读取全数据中IMOD表格，并找到表格中的最小值；c、计算出IMOD表格中的最小值与提供的允许最小的IMOD DAC的差值，称为标准差值；d、读取当前温度点下的IMOD DAC值，读取6次；e、找到当前温度点下表格中的IMOD DAC值，将表格中的IMOD DAC值与当前温度点下芯片上报的IMOD DAC值做差值，如果此差值大于标准差值，则记录此异常值索引；f、如果6次均得不到正常值，则给出提示，调整TX Power寄存器，减小当前温度点下IMOD DAC寄存器的值；g、经过对比，去掉异常值，将正常值取平均，得到当前温度点下可用的IMOD DAC值；h、将得到的IMOD DAC值与表格中的IMOD DAC值做差值，并做曲线偏移；i、生成曲线。工作原理为：根据当前温度全数据表格中的IMOD DAC值与此时芯片上报的IMOD DAC值的差值与工程师所要求的IMOD最小值的DAC值与表格中最小IMOD DAC值的差值进行比较，如果前者大于后者，则认为此时芯片上报的IMOD DAC值为异常数据，是有可能导致低温下IMOD电流补偿过小的情况的，此时调节芯片TX POWER寄存器位，使当前温度下芯片上报的IMOD DAC值减小，直至当前温度下的IMOD DAC值与表格中在当前温度点的IMOD DAC的差值小于工程师所要求的IMOD最小值的DAC值与表格中最小IMOD DAC值的差值，此时进行曲线偏移。在利用芯片双闭环的特性下，进行全数据中IMOD表格偏移时，避免在一些极端情况下造成IMOD表格整体向下偏移时造成的低温时IMOD电流补偿值很小或几乎为零的情况。造成光模块发射眼图关闭的后果。综上所述，本专利技术的适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，可以避免在利用芯片双闭环特性得到单闭环IMOD补偿曲线时，由于当前温度点IMOD DAC值比较大时，使偏移出的曲线无下限控制，造成单闭环时IMOD电流补偿在低温时出现IMOD电流值很小或异常的情况，有效的防止了利用双闭环特性制作单闭环IMOD补偿表的模块在低温下眼图接近于关闭，影响光模块的使用。以上所述仅为本专利技术的实施例，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，其特征在于，包括以下具体步骤：a、将低温时IMOD DAC允许的最小值写入到配置文件Ini中；b、读取全数据中IMOD表格，并找到表格中的最小值；c、计算出IMOD表格中的最小值与提供的允许最小的IMOD DAC的差值，称为标准差值；d、读取当前温度点下的IMOD DAC值，读取6次；e、找到当前温度点下表格中的IMOD DAC值，将表格中的IMOD DAC值与当前温度点下芯片上报的IMOD DAC值做差值，如果此差值大于标准差值，则记录此异常值索引；f、如果6次均得不到正常值，则给出提示，调整TX Power寄存器，减小当前温度点下IMOD DAC寄存器的值；g、经过对比，去掉异常值，将正常值取平均，得到当前温度点下可用的IMOD DAC值；h、将得到的IMOD DAC值与表格中的IMOD DAC值做差值，并做曲线偏移；i、生成曲线。
【技术特征摘要】
1.一种适用于光模块生产的具有下限值的线性偏移算法，其特征在于，包括以下具体步骤：a、将低温时IMOD DAC允许的最小值写入到配置文件Ini中；b、读取全数据中IMOD表格，并找到表格中的最小值；c、计算出IMOD表格中的最小值与提供的允许最小的IMOD DAC的差值，称为标准差值；d、读取当前温度点下的IMOD DAC值，读取6次；e、找到当前温度点下表格中的IMOD DAC值，将表格中的I...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨伟平，邱伟，
申请(专利权)人：江苏奥雷光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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