一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路制造技术

本实用新型专利技术请求保护一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路，其特征在于：包括电容C1、电阻R13、射级跟随的信号三极管Q24、隔离光耦U1、保护电阻R3、接地电阻R19、及低压直流场效应晶体管Q1，其中电容C1通过电阻R13与信号三极管Q24的基级相连通，所述信号三极管Q24的发射级接地，信号三极管Q24的集电极与隔离光耦U1的3脚相导通，所述3脚通过发光二极管与保护电阻R3相连通后接+5V电源，隔离光耦U1的6脚与+12V电源相连通，隔离光耦U1的4脚一路与接地电阻R19相导通并接地，另一路与低压直流场效应晶体管Q1的栅极相连通，所述低压直流场效应晶体管Q1的源极与保护电阻R3相连通，低压直流场效应晶体管Q1的漏极与负极NEG连通。本装置检测准确、通用程度高。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于照明装置
，具体是一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路。
技术介绍
固态照明技术的不断进步，发光二极管应用市场逐渐成熟，LED产业将成为未来新的经济增长点，产业进程的加快推进LED封装产业的快速崛起及其技术的不断进步，板上芯片COB集成封装技术逐渐成为该领域的研究热点，该技术可进一步提高LED组件的密度。缩小和减轻整个LED器件的体积和重量，COB光源与传统的半导体集成电路进行大规模集成后可以实现LED灯具模块化，同时COB光源还具有光通量大、出光密度高、发光均匀等特性，因此在筒灯、球泡灯、路灯以及工矿灯等室内外照明灯具中得到了广泛的应用；与传统功率型LED器件不同，COB是一种通过黏胶剂或焊料将N个LED晶片直接粘贴在印制电路板上，再通过引线键合实现晶片与电路板间互连的封装技术。该技术整体上增加了光源的功率，不需要额外的芯片散热和电极引线框架等结构，不仅简化了LED封装工艺，更重要的是节约了封装成本。由于COB封装LED主要用于照明，对色温的敏感性最高，且COB光源面积较大，会出现荧光粉涂覆不均匀的情况，从而造成同一批次光源在色温上有较大的差异。因此，一般在生产过程中需要实时检测每颗COB封装的LED的色温与光通量，若色温不合理，则需实时进行补粉（添加荧光粉），色温在合适容差范围内方可出厂，由于封装本身的外形尺寸各异，需要适配不同的夹具，这给补粉排测带来困难，因此与传统LED的分光机不同，COB封装LED技术需要一新型的LED检测设备来检测COB封装的LED的色温、光通量等参数。目前还缺乏一个切换电路对其进行检测时候的切换。专利
技术实现思路
为了解决现有技术的不足，本技术提供了一种检测准确、通用程度高的用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路。本技术的技术方案是这样的：一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路，其包括电容C1、电阻R13、射级跟随的信号三极管Q24、隔离光耦U1、保护电阻R3、接地电阻R19、及低压直流场效应晶体管 Q1，其中电容C1通过电阻R13与信号三极管Q24的基级相连通，所述信号三极管Q24的发射级接地，信号三极管Q24的集电极与隔离光耦U1的3脚相导通，所述3脚通过发光二极管与保护电阻R3相连通后接+5V电源，隔离光耦U1的6脚与+12V电源相连通，隔离光耦U1的4脚一路与接地电阻R19相导通并接地，另一路与低压直流场效应晶体管Q1的栅极相连通，所述低压直流场效应晶体管Q1的源极与保护电阻R3相连通，低压直流场效应晶体管Q1的漏极与负极NEG连通。进一步的，所述隔离光耦U1采用TLP160J隔离光耦，所述低压直流场效应晶体管Q1采用IRFP460J场效应晶体管。进一步的，所述检测电路的外围电路包括供电模块、语音报读装置、液晶显示模块、光谱仪及二极管光色参数检测模块，所述语音报读装置分别与液晶显示模块、二极管机械检测模块及光谱仪、检测切换电路相连通并对检测结果进行语音实时报读，所述光谱仪对LED光色参数进行检测，二极管机械检测模块对LED进行混光测试，二极管机械检测模块主要包括LED可旋转式圆形检测球，在LED可旋转式圆形检测球下部开孔以形成推拉式结构；所述电源与检测切换电路连通并供电，所述显示装置与检测切换电路相连通并显示其检测结果。进一步的，所述光谱仪采用入射与聚焦等焦距的结构，光谱仪光路采用特尔纳结构。进一步的，所述光谱仪的焦距为60mm，光谱仪的光栅采用600gr/mm的平面衍射光栅，闪耀波长为450nm，光谱仪的入射狭缝为50um，光谱仪的闪耀波长处的分辨率为0.3nm。本技术的优点及有益效果如下：本技术电路由于采用了TLP160J隔离光耦及IRFP460J场效应晶体管，实现了有效的切换控制。使得测量结果与标准设备的误差较小，且测试快速、准确、重复性高，可以满足COB封装LED补粉排测机的实际测量要求。附图说明图1是本技术提供优选实施例发光二极管切换电路示意图；图2是外围装置示意图；图3是本技术光谱仪光路结构图。具体实施方式以下结合附图，对本技术作进一步说明：如图1所示，一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路，其包括电容C1、电阻R13、射级跟随的信号三极管Q24、隔离光耦U1、保护电阻R3、接地电阻R19、及低压直流场效应晶体管 Q1，其中电容C1通过电阻R13与信号三极管Q24的基级相连通，所述信号三极管Q24的发射级接地，信号三极管Q24的集电极与隔离光耦U1的3脚相导通，所述3脚通过发光二极管与保护电阻R3相连通后接+5V电源，隔离光耦U1的6脚与+12V电源相连通，隔离光耦U1的4脚一路与接地电阻R19相导通并接地，另一路与低压直流场效应晶体管Q1的栅极相连通，所述低压直流场效应晶体管Q1的源极与保护电阻R3相连通，低压直流场效应晶体管Q1的漏极与负极NEG连通。优选的，所述隔离光耦U1采用TLP160J隔离光耦，所述低压直流场效应晶体管Q1采用IRFP460J场效应晶体管。优选的，图2为其外围装置示意图，所述检测电路的外围电路包括供电模块、语音报读装置、液晶显示模块、光谱仪及二极管光色参数检测模块，所述语音报读装置分别与液晶显示模块、二极管机械检测模块及光谱仪、检测切换电路相连通并对检测结果进行语音实时报读，所述光谱仪对LED光色参数进行检测，二极管机械检测模块对LED进行混光测试，二极管机械检测模块主要包括LED可旋转式圆形检测球，在LED可旋转式圆形检测球下部开孔以形成推拉式结构；所述电源与检测切换电路连通并供电，所述显示装置与检测切换电路相连通并显示其检测结果。所述供电模块为市售高精密数控电源，所述显示装置为市售产品。优选的，图3为光谱仪的光路示意图，所述光谱仪采用入射与聚焦等焦距的结构，光谱仪光路采用特尔纳结构。包括CCD、光栅、狭缝、光纤、准直镜及成像镜。优选的，所述光谱仪的焦距为60mm，光谱仪的光栅采用600gr/mm的平面衍射光栅，闪耀波长为450nm，光谱仪的入射狭缝为50um，光谱仪的闪耀波长处的分辨率为0.3nm。以上这些实施例应理解为仅用于说明本技术而不用于限制本技术的保护范围。在阅读了本技术的记载的内容之后，技术人员可以对本技术作各种改动或修改，这些等效变化和修饰同样落入本技术权利要求所限定的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路，其特征在于：包括电容C1、电阻R13、射级跟随的信号三极管Q24、隔离光耦U1、保护电阻R3、接地电阻R19、及低压直流场效应晶体管 Q1，其中电容C1通过电阻R13与信号三极管Q24的基级相连通，所述信号三极管Q24的发射级接地，信号三极管Q24的集电极与隔离光耦U1的3脚相导通，所述3脚通过发光二极管与保护电阻R3相连通后接+5V电源，隔离光耦U1的6脚与+12V电源相连通，隔离光耦U1的4脚一路与接地电阻R19相导通并接地，另一路与低压直流场效应晶体管Q1的栅极相连通，所述低压直流场效应晶体管Q1的源极与保护电阻R3相连通，低压直流场效应晶体管Q1的漏极与负极NEG连通。

【技术特征摘要】
1.一种用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路，其特征在于：包括电容C1、电阻R13、射级跟随的信号三极管Q24、隔离光耦U1、保护电阻R3、接地电阻R19、及低压直流场效应晶体管 Q1，其中电容C1通过电阻R13与信号三极管Q24的基级相连通，所述信号三极管Q24的发射级接地，信号三极管Q24的集电极与隔离光耦U1的3脚相导通，所述3脚通过发光二极管与保护电阻R3相连通后接+5V电源，隔离光耦U1的6脚与+12V电源相连通，隔离光耦U1的4脚一路与接地电阻R19相导通并接地，另一路与低压直流场效应晶体管Q1的栅极相连通，所述低压直流场效应晶体管Q1的源极与保护电阻R3相连通，低压直流场效应晶体管Q1的漏极与负极NEG连通。2.根据权利要求1所述的用于封装发光二极管光色检测的检测切换电路，其特征在于：所述隔离光耦U1采用TLP160J隔离光耦，所述低压直流场效应晶体管Q1采用IRFP460J场效应晶体管。3.根据权利要求1或2所述的用于封装发光二极管光色检测的检测切...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾凡，
申请(专利权)人：重庆市凡普特光电科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：重庆;50