一种半导体测试分选装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件；所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块；其中,所述定吸嘴正对待检测元件设置有一竖直壁面，并在该竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件。本实用新型专利技术提供的半导体测试分选装置，由于采用了在定吸嘴的吸气口外竖直壁面对应设置一凹槽,以及在各工作模块的相应位置设置用于放置待检测元件管脚的定位槽，可以对待检测的半导体元件加以充分固定，防止在检测中因接触面不平，产生左右摆动而损坏半导体元件管脚或因吸附不牢而引起停机的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种半导体测试装置，尤其涉及的是一种半导体测试分选装置。
技术介绍
半导体器件测试分选打标编带一体设备，简称半导体测试分选设备，用于将大规模封装好的散装半导体器件进行测试后，分选并打印编带，自动完成剔除不合格产品并收集合格产品的工作。半导体测试分选设备，一般包括一震动盘，通过导轨连接一定吸嘴，所述定吸嘴则设置于距离一转盘外沿一定距离处。待检测的半导体元器件经过震动盘分散并通过导轨滑动至所述定吸嘴处后，由所述定吸嘴吸附固定。所述转盘还连接有一跟随转盘转动的动吸嘴，所述动吸嘴用于将待检测的半导体元器件从所述定吸嘴上吸走，并随着所述转盘而转动，移动至沿着转盘外沿分布的各模块上方释放并进行相应的操作后，再吸取并移动至出口排出。现有技术的半导体测试分选设备在工作时，当一半导体测试产品从所述导轨滑动至所述定吸嘴时，若所述测试产品的注塑凸口端对着并接触所述定吸嘴旁的竖直壁面，则由于注塑凸口的表面不平，导致两者的接触不充分，所述测试产品在吸气作用下，就会产生左右摆动，从而可能因测试产品吸附不牢而造成停机。而在继续下一道工序时，所述测试产品由所述动吸嘴吸附提取并移动至下一模块上方释放，由于所述下一模块的相应落点部位没有设置定位结构，就可能导致所述测试产品在落点部位左右摆动，其管脚可能因触碰到边壁而导致变形，甚至多次变形。这不但不能保证测试产品的质量，并且可能因停机而导致生产效率低下。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种半导体测试分选装置，可以在工作中对所述待检测的半导体元器件加以充分的固定，以解决测试产品吸附不牢的问题。本技术的技术方案如下：一种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件；所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块；其中,所述定吸嘴正对待检测元件的竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件的注塑凸口;所述的半导体测试分选装置，其中，在所述凹槽的底部设置有接触传感器，以及所述操作模块包括一定位器，设置于所述定吸嘴与其他操作模块之间，用于调整所述待检测元件的朝向;所述的半导体测试分选装置，其中，所述定位器上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于容纳所述待检测元件的管脚;所述的半导体测试分选装置，其中，所述操作模块还包括一用于检测所述待检测元件的检测台，在所述检测台放置待检测元件的台面上设有一活动门，用于在待检测元件不合格时打开所述活动门;所述的半导体测试分选装置，其中，所述操作模块还包括一卫星工作台，所述卫星工作台上设置有数个定位块，所述定位块沿卫星工作台周向分布，用于在所述待检测元件上打印图文;所述的半导体测试分选装置，其中，每一所述定位块上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于完全容纳所述待检测元件的管脚;所述的半导体测试分选装置，其中，所述定位块设置为三个，并在所述卫星工作台上均匀分布，对应其转动停留位置分别设置为接受位置、打印位置和提取位置；所述打印位置对应设置用于打印标号的至少一激光发射头;所述的半导体测试分选装置，其中，所述卫星工作台的旋转速度与所述转盘的旋转速度设置为相匹配，使得所述转盘旋转一步的时间等于所述卫星工作台旋转两步的时间;所述的半导体测试分选装置，其中，所述导轨外还设置有至少一组吹气孔，用于推动待检测元件向所述定吸嘴方向移动。本技术提供的半导体测试分选装置，由于采用了在定吸嘴的吸气口外竖直壁面对应设置一凹槽,以及在各工作模块的相应位置设置定位槽，可以对所述待检测的半导体元器件加以充分固定，防止了所述待检测半导体元器件在检测中因接触面不平，产生左右摆动而损坏管脚或因吸附不牢而引起停机的问题，降低了测试工作中的停机可能和故障率，从而保证了所述待检测半导体元件产品的质量和生产效率。附图说明图1是本技术半导体测试分选装置的结构示意图；图2为本技术半导体测试分选装置的侧面剖视图；图3为本技术半导体测试分选装置的定吸嘴的放大图；图4为本技术半导体测试分选装置的定位器的结构示意图；图5为本技术半导体测试分选装置的卫星工作台的结构示意图。具体实施方式本技术提供一种新型半导体测试分选装置，为使本技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。本技术的半导体测试分选装置的一个具体实施例，如图1的正面示意图和图2的侧面示意图所示，包括一震动盘1，通过端部平滑连接在一起的弯弧导轨7和直导轨8与一定吸嘴4相连接，所述定吸嘴4则设置于距离一转盘2外沿一定距离处，所述转盘2接受一步进电机的驱动，沿顺时针或逆时针方向转动，本实施例中，如图所示，所述转盘2在所连接的第一步进电机的作用下沿顺时钟方向步进转动。所述转盘2外围，均匀分布有多个操作模块，在本实施例中，所述操作模块包括一定位器5，一检测台15，一卫星工作台6，和一排塑口9，以及所述定吸嘴4，根据实际的空间和功能在所述转盘2的周边均匀分布设置，与现有技术的实现方式基本类似，在此不再赘述。所述操作模块的排列顺序按照实际工作中的操作顺序，一般可以按照定吸嘴4、定位器5、检测台15、卫星工作台6的两个定位块位置、排塑口9的顺序，共五个操作模块，六个停留位置，在所述转盘2外沿周向均匀分布排列。所述转盘2上还固定连接有一跟随所述转盘2一起转动的动吸嘴3，所述动吸嘴3的操作臂长度设置为其上的吸气提取口31正好达到沿所述转盘2外围均匀分布的各操作模块上待检测元件10的安放位置上方。这样，所述第一步进电机每转动一格，所述转盘2就转动一个位置，正好将所述动吸嘴3的吸气提取口31送至下一操作模块。当所述吸气提取口31到达对应操作模块的上方，正对所述操作模块上的待检测元件安放位置时，所述吸气提取口31停止吸气，释放所述待检测元件10至所述安放位置，并停留一设定时间，以便所述操作模块对其进行相应的操作。此时，所述待检测元件10在所在的操作模块接受相应操作，当该相应操作的所述设定时间期满经过后，所述吸气提取口31再对所述待检测元件10吸气将其提取，然后跟随步进电机驱动的圆盘2再转动送至下一操作模块。本技术所述较佳实施例中，所述震动盘1通过磁铁等装置，在震动分散并依次整理出的所述待检测元件10进入所述轨道的同时，也将所述待检测元件位姿调整完毕，例如，成为以管脚站立的姿势侧向单行进入所述弯弧导轨7和直导轨8。此为现有技术，在此不作详述。在一个较佳实施例中，所述弯弧导轨7和直导轨8上方可设有一覆盖层，并在与所述震动盘1相连接处的开口略大于所述待检测元件10的横截面，从而保证所述待检测元件10在行进中不会改变其已经调整好的正确姿势，此时所述待检测元件10的注塑凸口101要么朝前，要么朝后，如图3所示。所述弯弧导轨7和直导轨8的端部平滑过渡连接在一起，所述导轨附近，设置有至少一组吹气孔71，如图2所示，本实施例采用一组吹气孔71，设置于所述导轨旁或导轨上。所述吹气孔71向所述定吸嘴4方向，沿着所述导轨78，持续本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件；所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块；其特征在于,所述定吸嘴正对待检测元件的竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件的注塑凸口。

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试分选装置，包括一震动盘，通过导轨连接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待检测元件，在一转盘上设置有一动吸嘴，用于吸取所述待检测元件；所述转盘周边对应所述动吸嘴的工作半径上设置有多个操作模块；其特征在于,所述定吸嘴正对待检测元件的竖直壁面上开有一凹槽，用于过盈配合所述待检测元件的注塑凸口。2.根据权利要求1所述的半导体测试分选装置，其特征在于，在所述凹槽的底部设置有接触传感器，以及所述操作模块包括一定位器，设置于所述定吸嘴与其他操作模块之间，用于调整所述待检测元件的朝向。3.根据权利要求2所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述定位器上设有匹配待检测元件管脚数目的至少一对定位槽，用于容纳所述待检测元件的管脚。4.根据权利要求1至3任一所述的半导体测试分选装置，其特征在于，所述操作模块还包括一用于检测所述待检测元件的检测台，在所述检测台放置待检测元件的台面上设有一活动门，用于在待检测元件不合格时打开所述活动门。5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨全忠，陈祺，李淑平，
申请(专利权)人：佛山市蓝箭电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44