一种红外遥控器的测试方法及系统技术方案

技术编号:13989569 阅读:113 留言:0更新日期:2016-11-13 15:00
本发明专利技术提供一种红外遥控器的测试方法及系统,所述测试方法包括以下步骤:步骤S1,在MCU上烧录红外遥控器的测试程序;步骤S2,等待直到MCU上电后,根据测试程序直接进入测试模式,所述MCU输出测试码值;步骤S3,通过解码仪接收并判断测试码值,直到测试码值发送完毕后,通过MCU进入正常模块。本发明专利技术在红外遥控器通上电后,MCU会先自动进入预先烧录的测试程序,进而马上就会自动发射测试码值,直到测试完毕后,所述MCU控制红外遥控器进入正常模式;因此,测试工人只需要上电,然后在测试模式下观察测试数据即可,测试完毕后也无需切换红外遥控器的工作模式,这样能够大大提高生产测试效率,并降低成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试方法,尤其涉及一种红外遥控器的测试方法,并涉及采用了该红外遥控器的测试方法的系统。
技术介绍
现有的红外遥控器需要测试电流和硬件工作是否正常时,都是需要把遥控器PCBA通上电,然后再用导电治具按压红外遥控器上的按键,进行测试该红外遥控器的硬件是否正常以及工作电流是否正常,这样的测试方法,需要较多的人工操作,人工成本高,工作效率低。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是需要提供一种能够降低人工成本,并提高工作效率的红外遥控器的测试方法,并涉及采用了该红外遥控器的测试方法的系统。对此,本专利技术提供一种红外遥控器的测试方法,包括以下步骤:步骤S1,在MCU上烧录红外遥控器的测试程序;步骤S2,等待直到MCU上电后,根据测试程序直接进入测试模式,所述MCU输出测试码值;步骤S3,通过解码仪接收并判断测试码值,直到测试码值发送完毕后,通过MCU进入正常模块。本专利技术的进一步改进在于,所述步骤S2中,进入测试模式后,所述MCU的IO口通过红外发射管输出红外测试信号。本专利技术的进一步改进在于,所述步骤S2中,红外遥控器与电流表相连接,在所述MCU自动输出测试码值的同时,通过电流表检测所述红外遥控器的电流值。本专利技术的进一步改进在于,所述红外遥控器设置于电流测试治具上,所述电流测试治具与所述电流表相连接,当所述红外遥控器放置在所述电流测试治具上时,自动实现所述电流值的检测。本专利技术的进一步改进在于,所述步骤S3中,当测试码值发送完毕后,所述MCU控制红外遥控器退出测试模式,并自动进入正常模式。本专利技术的进一步改进在于,所述步骤S2中,所述MCU上电为该MCU首次上电。本专利技术的进一步改进在于,所述步骤S3中,所述解码仪设置有报警装置,当判断到测试码值出现异常时,发出报警提示。本专利技术还提供一种红外遥控器的测试系统,采用了如上所述的红外遥控器的测试方法,并包括直流供电模块,所述直流供电模块与所述MCU相连接。本专利技术的进一步改进在于,还包括电流测试治具,所述直流供电模块设置于所述电流测试治具上,当所述红外遥控器放置于所述电流测试治具上时,接通直流供电模块实现MCU上电,并自动实现电流值的检测。与现有技术相比,本专利技术的有益效果在于:在红外遥控器通上电后,MCU会先自动进入预先烧录的测试程序,进而马上就会自动发射测试码值,直到测试完毕后,所述MCU控制红外遥控器进入正常模式;因此,测试工人只需要上电,然后在测试模式下观察测试数据即可,测试完毕后也无需切换红外遥控器的工作模式,这样能够大大提高生产测试效率,降低对测试工人的要求,降低了手动操作的频率,因此成本得以有效降低。附图说明图1是本专利技术一种实施例的工作流程示意图;图2是本专利技术一种实施例的系统结构示意图;图3是本专利技术一种实施例的电路原理示意图。具体实施方式下面结合附图,对本专利技术的较优的实施例作进一步的详细说明。实施例1:如图1和图2所示,本例提供一种红外遥控器的测试方法,包括以下步骤:步骤S1,在MCU上烧录红外遥控器的测试程序;步骤S2,等待直到MCU上电后,根据测试程序直接进入测试模式,所述MCU输出测试码值;步骤S3,通过解码仪接收并判断测试码值,直到测试码值发送完毕后,通过MCU进入正常模块。本例所述步骤S1用于通过预设测试程序进而使得MCU可以自动发送测试码值,所述测试码值为图3所示的电路图中的各个按键码值,进而能够用于检测所述红外遥控器的硬件是否正常;所述步骤S2中,进入测试模式后,所述MCU的IO口通过红外发射管输出红外测试信号,比如通过所述MCU的15管脚对红外发射管进行控制以输出红外测试信号。图2中,AD009-03是一种学习型遥控芯片。优选的,本例所述步骤S2中,红外遥控器与电流表相连接,在所述MCU自动输出测试码值的同时,通过电流表检测所述红外遥控器的电流值;更为优选的,所述红外遥控器设置于电流测试治具上,所述电流测试治具与所述电流表相连接,当所述红外遥控器放置在所述电流测试治具上时,自动实现所述电流值的检测。所述电流测试治具为电流值检测所使用的工装,当所述红外遥控器放置于所述电流测试治具上时能够自动实现电流值的检测。本例所述步骤S3中,当测试码值发送完毕后,所述MCU控制红外遥控器退出测试模式,并自动进入正常模式,这样能够避免工人在测试完毕后,还需要手动控制工作模式切换的问题,更进一步实现了工作效率的提高;所述工作模式包括测试模式和正常模式,所述正常模式指的是用户能够通过红外遥控器直接控制红外设备的正常的工作模式。本例所述步骤S2中,所述MCU上电为该MCU首次上电,也就是说,在工厂生产时,红外遥控器首次上电使得MCU上电,进而直接进入测试模式,当测试结束后,自动切换至正常模式。这样的设置,既能够方便生产测试,能够尽量降低工人测试的技术门槛和操作次数,同时也能够防止用户使用过程中更换电池也会进入测试模式的弊端,非常适合于红外遥控器的测试和使用。本例所述步骤S3中,所述解码仪设置有报警装置,当判断到测试码值出现异常时,发出报警提示;如果测试过程中发现异常情况则发出报警提示,这样能够给测试工人很好的提示作用,使得测试工人可以同时操作几个红外遥控器的测试,提高了工作效率。本例在红外遥控器通上电后,MCU会先自动进入预先烧录的测试程序,进而马上就会自动发射测试码值,直到测试完毕后,所述MCU控制红外遥控器进入正常模式;因此,测试工人只需要上电,然后在测试模式下观察测试数据即可,测试完毕后也无需切换红外遥控器的工作模式,这样能够大大提高生产测试效率,降低对测试工人的要求,降低了手动操作的频率,因此成本得以有效降低。实施例2:本例还提供一种红外遥控器的测试系统,采用了如实施例1所述的红外遥控器的测试方法,并包括直流供电模块,所述直流供电模块与所述MCU相连接。本例还优选包括电流测试治具,所述直流供电模块设置于所述电流测试治具上,当所述红外遥控器放置于所述电流测试治具上时,接通直流供电模块实现MCU上电,并自动实现电流值的检测。因此,本例只需要将所述红外遥控器放置于所述电流测试治具上,就能够自动检测所述红外遥控器的硬件和工作电流是否正常。以上内容是结合具体的优选实施方式对本专利技术所作的进一步详细说明,不能认定本专利技术的具体实施只局限于这些说明。对于本专利技术所属
的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种红外遥控器的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,在MCU上烧录红外遥控器的测试程序;步骤S2,等待直到MCU上电后,根据测试程序直接进入测试模式,所述MCU输出测试码值;步骤S3,通过解码仪接收并判断测试码值,直到测试码值发送完毕后,通过MCU进入正常模块。

【技术特征摘要】
1.一种红外遥控器的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,在MCU上烧录红外遥控器的测试程序;步骤S2,等待直到MCU上电后,根据测试程序直接进入测试模式,所述MCU输出测试码值;步骤S3,通过解码仪接收并判断测试码值,直到测试码值发送完毕后,通过MCU进入正常模块。2.根据权利要求1所述的红外遥控器的测试方法,其特征在于,所述步骤S2中,进入测试模式后,所述MCU的IO口通过红外发射管输出红外测试信号。3.根据权利要求1所述的红外遥控器的测试方法,其特征在于,所述步骤S2中,红外遥控器与电流表相连接,在所述MCU自动输出测试码值的同时,通过电流表检测所述红外遥控器的电流值。4.根据权利要求3所述的红外遥控器的测试方法,其特征在于,所述红外遥控器设置于电流测试治具上,所述电流测试治具与所述电流表相连接,当所述红外遥控器放置在所述电流测试治具上时,自动实现所述电流值的检测。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:李文斌
申请(专利权)人:深圳市创荣发电子有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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