X射线透视摄影装置以及X射线透视图像的余像修正方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种X射线透视摄影装置以及X射线透视图像的余像修正方法，其在交替地重复进行摄影和透视的情况下，也能够高精度地修正余像成分。在每次取得X射线的摄影图像时，得到摄影后的余像图像，针对本次摄影后得到的余像图像和上次以前的摄影后得到的余像图像，对对应的每个像素计算余像图像的像素值因时间经过产生的衰减后的值。然后，从本次摄影后得到的透视图像的像素值减去计算出的衰减后的值，由此除去余像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有余像修正功能的X射线透视摄影装置。
技术介绍
X射线透视摄影系统一般交替地进行照射X射线而取得图像并显示的“摄影”、一边连续地照射X射线一边取得连续图像而显示动画的“透视”。在“摄影”时，照射的X射线照射剂量比“透视”大，因此在X射线检测器中剩余电信号，该电信号作为余像出现在通过摄影后的透视得到的图像中，有时对诊断产生影响。因此，在专利文献1所记载的技术中，在刚摄影后不照射X射线而取得图像，由此得到余像图像。然后，利用预先求出并存储在表等中的余像成分的衰减特性，求出余像图像随着时间经过的衰减后的余像量。从此后的透视图像中减去余像量，由此求出除去了余像的透视图像。由此，能够实时地从透视图像减去考虑到因时间经过产生的衰减的余像成分而进行修正。另外，在专利文献1中，在出现第一次的摄影的余像时进行第二次的摄影的情况下，分别取得第一次和第二次的余像图像，分别求出随着时间经过的衰减后的余像量，从此后的透视图像减去对两者进行加权相加所得的余像量而进行修正。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2004-321346号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题余像的强度依存于在摄影中到达X射线检测器的X射线强度，因此对每个像素不同。另外，余像产生的原理被认为在FPD(平板检测器)的情况下是起因于残存于电气电路内的信号，在如图像增强器那样使用荧光体的X射线检测器的情况下，认为因X射线检测器内的荧光体造成的信号等也成为原因，
但在任何情况下都不完全了解原理。因此，在第一次和第二次的摄影的时间接近，在其间也进行透视的情况下，如专利文献1那样将第一次和第二次的摄影后的余像信号加权相加而除去在第二次的摄影后的透视图像中产生的余像的方法中，不一定能够完全修正。本专利技术的目的在于：提供一种余像修正技术，其在交替地重复进行摄影和透视的情况下，也能够高精度地修正余像成分。解决问题的手段为了解决上述问题，本专利技术的X射线透视摄影装置具备：X射线管球，其照射X射线；X射线平面检测器，其检测透过了被检测体的X射线；操作部，其分别接受开始摄影图像的取得和透视图像的取得的指示；控制部，其控制X射线管球和X射线平面检测器，使得分别执行摄影图像的取得和透视图像的取得；余像修正运算部，其从在取得摄影图像后取得的透视图像中除去摄影图像的余像。余像修正运算部在每次取得摄影图像时，得到摄影后的余像图像，针对在本次摄影后得到的余像图像和上次以前的摄影后得到的余像图像，对对应的每个像素计算余像图像的像素值因时间经过而衰减后的值。然后，从本次摄影后得到的透视图像的像素值减去计算出的衰减后的值，由此除去余像。专利技术效果根据本专利技术，能够提供一种X射线透视摄影装置以及X射线透视图像的余像修正方法，在交替地重复进行摄影和透视的情况下，也能够高精度地修正余像成分。附图说明图1是表示实施方式1的X射线透视摄影装置的结构的框图。图2是表示图1的图像处理装置6的结构的功能框图。图3是表示图1的图像处理装置6的硬件结构的框图。图4是表示实施方式1的余像修正运算部11的动作的流程图。图5是表示实施方式1的摄影图像、X射线未照射图像、透视图像的取得定时的说明图。图6(a)是表示实施方式1的第一次的摄影图像的说明图，(b)是表示第一次摄影后的余像图像的说明图，(c)是表示第二次的摄影图像的说明图，
(d)是表示第二次摄影后的余像图像的说明图，(e)是表示第一次摄影后的余像图像的像素值比第二次摄影后的余像图像的像素值大的情况下的余像图像的衰减的图表，(f)是表示第一次摄影后的余像图像的像素值比第二次的摄影后的余像图像的像素值小的情况下的余像图像的衰减的图表。图7是表示实施方式2的余像修正运算部11的动作的流程图。图8(a)是表示实施方式2的摄影图像、X射线未照射图像、透视图像的取得定时的说明图，(b)是表示第n次摄影后的余像图像的像素值比其以前的摄影后的余像图像的像素值的最大值大的情况下的余像图像的衰减的图表，(c)是表示第n次摄影后的余像图像的像素值比其以前的摄影后的余像图像的像素值的最大值小的情况下的余像图像的衰减的图表。图9是表示实施方式3的余像修正运算部11的动作的流程图。图10(a)是表示实施方式3的摄影图像、X射线未照射图像、透视图像的取得定时的说明图，(b)是表示第n次摄影后的余像图像和摄影紧前的余像图像之间的差比摄影紧前的余像图像的像素值大的情况下的余像图像的衰减的图表，(c)是表示第n次摄影后的余像图像和摄影紧前的余像图像之间的差比摄影紧前的余像图像的像素值小的情况下的余像图像的衰减的图表。图11是表示实施方式5的余像修正运算部11的动作的流程图。图12(a)是表示实施方式5的摄影图像、X射线未照射图像、透视图像的取得定时的说明图，(b)是表示各次摄影后的余像图像和该摄影紧前的余像图像之间的差、余像图像的衰减的图表。图13是表示实施方式11的图像处理装置6的结构的框图。附图标记说明1：X射线管球；2：X射线高电压装置；3：X射线控制装置；4：X射线平面检测器；5：X射线平面检测器控制装置；6：图像处理装置；6a：CPU；6b：存储器；7：图像显示装置；8：系统控制装置；9：台；10：参数计算部；11：余像修正运算部；12：显示图像处理部；29：操作部；111：存储器；112：集成电路；112-1～112-p：运算电路；113：函数存储部；114：时间管理部。具体实施方式说明本专利技术的一个实施方式的X射线透视摄影装置。<实施方式1>图1是表示实施方式1的X射线透视摄影装置的整体结构的图。如图1那样，X射线透视摄影装置具备：X射线管球1，其照射X射线；X射线高电压产生器2，其用于向X射线管球1供给电力(管电压/管电流)；X射线控制装置3，其进行X射线高电压产生器2的控制；X射线平面检测器4，其与X射线管球1相对地配置；台9，其配置在X射线管球1和X射线平面检测器4之间；操作部29；X射线平面检测器控制装置5；图像处理装置6；图像显示装置7；系统控制装置8。被检测体被搭载在台9上。X射线平面检测器4检测从X射线管球1照射并透过了搭载在台9上的被检测体的X射线。X射线平面检测器控制装置5读出X射线平面检测器4检测出的图像。图像处理装置6对X射线平面检测器控制装置5读出的图像进行各种图像处理，显示在图像显示装置7上。操作部29包括从操作者接受摄影和透视的条件(管电流/管电压等)的设定的操作面板、从操作者接受摄影和透视的开始的辐射按键。系统控制装置8与操作部29所接受的摄影和透视的开始及其条件对应地，对X射线平面检测器控制装置5、图像处理装置6以及X射线控制装置3进行控制，使执行摄影或透视。图像处理装置6如在图2中表示其功能框图所示那样，具备修正余像的余像修正运算部11、用于显示图像的显示图像处理部12。余像修正运算部11具备参数计算部10。图像处理装置6的硬件结构如图3所示，包括CPU6a和存储器6b而构成，由CPU6a读入预先存储在存储器6b中的程序并执行，由此实现余像修正运算部11和显示图像处理部12的功能。使用图4～图6说明余像修正运算部11的动作。图4是表示余像修正运算部11的动作的流程图，图5是表示摄影和透视的定时的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线透视摄影装置，其特征在于，具备：X射线管球，其照射X射线；X射线平面检测器，其检测透过了被检测体的X射线；操作部，其分别接受开始摄影图像的取得和透视图像的取得的指示；控制部，其控制上述X射线管球和上述X射线平面检测器，使得分别执行摄影图像的取得和透视图像的取得；余像修正运算部，其从在取得上述摄影图像后取得的上述透视图像中除去上述摄影图形的余像，其中，上述余像修正运算部在每次取得上述摄影图像时，得到摄影后的余像图像，针对在本次摄影后得到的上述余像图像和上次以前的摄影后得到的上述余像图像，对对应的每个像素计算上述余像图像的像素值因时间经过而衰减后的值，并从本次摄影后得到的透视图像的像素值减去，由此除去余像。

【技术特征摘要】
2015.04.30 JP 2015-0934011.一种X射线透视摄影装置，其特征在于，具备：X射线管球，其照射X射线；X射线平面检测器，其检测透过了被检测体的X射线；操作部，其分别接受开始摄影图像的取得和透视图像的取得的指示；控制部，其控制上述X射线管球和上述X射线平面检测器，使得分别执行摄影图像的取得和透视图像的取得；余像修正运算部，其从在取得上述摄影图像后取得的上述透视图像中除去上述摄影图形的余像，其中，上述余像修正运算部在每次取得上述摄影图像时，得到摄影后的余像图像，针对在本次摄影后得到的上述余像图像和上次以前的摄影后得到的上述余像图像，对对应的每个像素计算上述余像图像的像素值因时间经过而衰减后的值，并从本次摄影后得到的透视图像的像素值减去，由此除去余像。2.根据权利要求1所述的X射线透视摄影装置，其特征在于，上述余像修正运算部针对在本次摄影后得到的上述余像图像和上次以前的摄影后得到的一个以上的上述余像图像，对对应的每个像素比较像素值，对每个像素选择最大的像素值，计算选择出的最大的像素值因时间经过而衰减后的值，并从上述本次摄影后得到的透视图像的像素值减去，由此除去余像。3.根据权利要求1所述的X射线透视摄影装置，其特征在于，上述余像修正运算部比较本次摄影后得到的上述余像图像的像素值和在上次以前的摄影中产生的余像图像的在本次摄影紧前的像素值，针对其差为本次摄影紧前的像素值以上的像素，选择本次摄影后得到的上述余像图像的像素值，计算选择出的像素值因时间经过而衰减后的值，针对所述差不足本次摄影紧前的像素值的像素，选择本次以前的摄影后得到的上述余像图像的像素值，计算选择出的像素值因时间经过而衰减后的值，从本次摄影后得到的透视图像的像素值中分别减去计算出的上述衰减后的值的任意一个，由此除去余像。4.根据权利要求1所述的X射线透视摄影装置，其特征在于，上述余像修正运算部在每次摄影时，比较摄影后得到的上述余像图像的像素值和在上次以前的摄影中产生的余像图像在摄影...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤川真里，天明宏之助，万木贵宏，中村正，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP