测试电路及液晶面板制造技术

本发明专利技术提供一种测试电路及液晶面板，该测试电路包括：一多路分配单元、一开关单元以及一逻辑控制单元；该多路分配单元具有一第一输入端、N个第一输出端以及P个第一控制端，该开关单元具有N个通路以及一第二控制端，其中，该N和P均为正整数；该第一输入端用于接入测试用的数据电压，该N个第一输出端分别与该N个通路的输入端一一对应的连接，该N个通路的输出端分别与一像素单元连接；该第一控制端以及该第二控制端分别与该逻辑控制单元连接。本发明专利技术可以防止相邻数据线短路，提高显示效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示领域，特别是涉及一种测试电路及液晶面板。
技术介绍
液晶面板测试电路在液晶面板的阵列基板完成后对液晶面板的电性进行检测的电路液晶面板测试电路一般集成在单个面板内，例如阵列基板内。在液晶面板做完后通过检测仪器外灌测试用的数据信号对其像素结构的各个像素单元进行检测。面板组成模组后正常工作时，会通过外部测试仪器的控制信号关闭该测试电路，以免影响液晶面板的正常工作。目前的测试电路设计中会通过多路分配单元来将依次测试用的数据电压传输给对应的像素单元，该多路分配单元内部设有薄膜晶体管来控制各个输出通路的开关，用栅极控制信号来控制各个薄膜晶体管的导通与截止。在该测试电路的末端还设计有薄膜晶体管来作为总开关，并用栅极控制信号来控制其导通与截止。当测试电路工作时，栅极控制信号打开其控制的测试电路末端的薄膜晶体管，使测试电路与液晶面板内的各个像素单元的数据线连接；并控制多路分配单元内部对应的薄膜晶体管导通以选择对应的输出通路，以将测试用的数据信号输出给对应的像素单元。当测试完毕后，液晶面板正常工作时，栅极控制信号关闭多路分配单元内部的薄膜晶体管以及测试电路末端的薄膜晶体管，以断开测试电路与各个像素单元的连接。但是，实际上，由于作为开关管的薄膜晶体管的开关特性性较差时，多路分配单元内部对应的薄膜晶体管以及测试电路末端的薄膜晶体管漏电会导致像素结构的相邻的数据线短路，影响液晶面板的正常工作。因此，现有技术存在缺陷，急需改进。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试电路及液晶面板；以解决现有的由于测试电路的薄膜晶体管漏电导致像素结构的相邻数据线短路的技术问题。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：本专利技术提供一种测试电路，包括：一多路分配单元、一开关单元以及一逻辑控制单元；该多路分配单元具有一第一输入端、N个第一输出端以及P个第一控制端，该开关单元具有N个通路以及一第二控制端，其中，该N和P均为正整数；该第一输入端用于接入测试用的数据电压，该N个第一输出端分别与该N个通路的输入端一一对应的连接，该N个通路的输出端分别与一像素单元连接；该第一控制端以及该第二控制端分别与该逻辑控制单元连接；进行测试时，该逻辑控制单元控制该N个通路打开，该P个第一控制端分别接入外部测试设备的控制电压，该多路分配单元根据该P个控制电压从该N个第一输出端中选择一个第一输出端将该数据电压输出给对应的所述通路，从而输出给对应的像素单元；测试完毕后，该逻辑控制单元输出第一预设电平至该P个第一控制端以将该多路分配单元关闭，并输出第二预设电平至该第二控制端以将该开关单元的各个通路关闭。在本专利技术所述的测试电路中，所述多路分配单元包括一第一分配子单元、M个第二分配子单元，该第一分配子单元设置有M个第二输出端、M个所述第一控制端以及所述第一输入端，该第二分配子单元具有一第二输入端、L个所述第一控制端以及L个所述第一输出端，其中，M和L均为正整数，M*L＝N，M+L＝P；每一第二输出端分别与一所述第二分配子单元的第二输入端连接，所述第一分配子单元根据该M个第一控制单元输入的控制电压从该第一分配子单元的M个第二输出端中选择一个第二输出端以将该数据电压输出至对应的第二分配子单元的第二输入端，该第二分配子单元用于根据该L个第二控制端输入的控制电压从该第二分配子单元的L个第一输出端中选择一个第一输出端以将该数据电压输出至对应的所述通路。在本专利技术所述的测试电路中，所述第一分配子单元包括M个第一开关管，该M个第一开关管的输入端连接于一公共节点，并以该公共节点为所述第一输入端；该M个第一开关管的控制端分别与M个所述第一控制端一一对应地连接，该M个第一开关管的输出端分别与一所述第二分配子单元的第二输入端连接。在本专利技术所述的测试电路中，所述第二分配子单元包括L个第二开关管；该M个第二分配子单元具有L个第一控制端，该L个第一控制端中的每一第一控制端分别与每一第二分配子单元的一所述第二开关管的控制端连接。在本专利技术所述的测试电路中，所述逻辑控制单元包括第一逻辑控制子单元，该第一逻辑控制子单元包括P个传输门以及一反相器，每一传输门均具有第一逻辑控制端、第二逻辑控制端、电压输入端以及电压输出端，该P个传输门的第一逻辑控制端均分别与该反相器的输入端连接，该P个传输门的第二逻辑控制端分别与该反相器的输出端连接，该P个传输门的电压输入端分别接入第一预设电平，该P个传输门的电压输出端分别与该P个第二控制端连接。在本专利技术所述的测试电路中，所述逻辑控制单元包括第二逻辑控制子单元，该第二逻辑控制子单元用于在测试完毕输出第二预设电平至该N个第二控制端以将该开关单元的各个通路关闭。本专利技术还提供了一种液晶面板，包括多个像素单元以及用于测试该多个像素单元的测试电路，该测试电路包括：一多路分配单元、一开关单元以及一逻辑控制单元；该多路分配单元具有一第一输入端、N个第一输出端以及P个第一控制端，该开关单元具有N个通路以及一第二控制端，其中，该N和P均为正整数；该第一输入端用于接入测试用的数据电压，该N个第一输出端分别与该N个通路的输入端一一对应的连接，该N个通路的输出端分别与一像素单元连接；该第一控制端以及该第二控制端分别与该逻辑控制单元连接；进行测试时，该逻辑控制单元控制该N个通路打开，该P个第一控制端分别接入外部测试设备的控制电压，该多路分配单元根据该P个控制电压从该N个第一输出端中选择一个第一输出端将该数据电压输出给对应的所述通路，从而输出给对应的像素单元；测试完毕后，该逻辑控制单元输出第一预设电平至该P个第一控制端以将该多路分配单元关闭，并输出第二预设电平至该第二控制端以将该开关单元的各个通路关闭。在本专利技术所述的液晶面板中，所述多路分配单元包括一第一分配子单元、M个第二分配子单元，该第一分配子单元设置有M个第二输出端、M个所述第一控制端以及所述第一输入端，该第二分配子单元具有一第二输入端、L个所述第一控制端以及L个所述第一输出端，其中，M和L均为正整数，M*L＝N，M+L＝P；每一第二输出端分别与一所述第二分配子单元的第二输入端连接，所述第一分配子单元根据该M个第一控制单元输入的控制电压从该第一分配子单元的M个第二输出端中选择一个第二输出端以将该数据电压输出至对应的第二分配子单元的第二输入端，该第二分配子单元用于根据该L个第二控制端输入的控制电压从该第二分配子单元的L个第一输出端中选择一个第一输出端以将该数据电压输出至对应的所述通路。在本专利技术所述的液晶面板中，所述第一分配子单元包括M个第一开关管，该M个第一开关管的输入端连接于一公共节点，并以该公共节点为所述第一输入端；该M个第一开关管的控制端分别与M个所述第一控制端一一对应地连接，该M个第一开关管的输出端分别与一所述第二分配子单元的第二输入端连接。在本专利技术所述的液晶面板中，所述逻辑控制单元包括第一逻辑控制子单元以及第二逻辑控制子单元；该第一逻辑控制子单元包括P个传输门以及一反相器，每一传输门均具有第一逻辑控制端、第二逻辑控制端、电压输入端以及电压输出端，该P个传输门的第一逻辑控制端均分别与该反相器的输入端连接，该P个传输门的第二逻辑控制端分别与该反相器的输出端连接，该P个传输门的电压输入端分别接入第一预设电平，该P个传输门的电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试电路，其特征在于，包括：一多路分配单元、一开关单元以及一逻辑控制单元；该多路分配单元具有一第一输入端、N个第一输出端以及P个第一控制端，该开关单元具有N个通路以及一第二控制端，其中，该N和P均为正整数；该第一输入端用于接入测试用的数据电压，该N个第一输出端分别与该N个通路的输入端一一对应的连接，该N个通路的输出端分别与一像素单元连接；该第一控制端以及该第二控制端分别与该逻辑控制单元连接；进行测试时，该逻辑控制单元控制该N个通路打开，该P个第一控制端分别接入外部测试设备的控制电压，该多路分配单元根据该P个控制电压从该N个第一输出端中选择一个第一输出端将该数据电压输出给对应的所述通路，从而输出给对应的像素单元；测试完毕后，该逻辑控制单元输出第一预设电平至该P个第一控制端以将该多路分配单元关闭，并输出第二预设电平至该第二控制端以将该开关单元的各个通路关闭。

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，包括：一多路分配单元、一开关单元以及一逻辑控制单元；该多路分配单元具有一第一输入端、N个第一输出端以及P个第一控制端，该开关单元具有N个通路以及一第二控制端，其中，该N和P均为正整数；该第一输入端用于接入测试用的数据电压，该N个第一输出端分别与该N个通路的输入端一一对应的连接，该N个通路的输出端分别与一像素单元连接；该第一控制端以及该第二控制端分别与该逻辑控制单元连接；进行测试时，该逻辑控制单元控制该N个通路打开，该P个第一控制端分别接入外部测试设备的控制电压，该多路分配单元根据该P个控制电压从该N个第一输出端中选择一个第一输出端将该数据电压输出给对应的所述通路，从而输出给对应的像素单元；测试完毕后，该逻辑控制单元输出第一预设电平至该P个第一控制端以将该多路分配单元关闭，并输出第二预设电平至该第二控制端以将该开关单元的各个通路关闭。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述多路分配单元包括一第一分配子单元、M个第二分配子单元，该第一分配子单元设置有M个第二输出端、M个所述第一控制端以及所述第一输入端，该第二分配子单元具有一第二输入端、L个所述第一控制端以及L个所述第一输出端，其中，M和L均为正整数，M*L＝N，M+L＝P；每一第二输出端分别与一所述第二分配子单元的第二输入端连接，所述第一分配子单元根据该M个第一控制单元输入的控制电压从该第一分配子单元的M个第二输出端中选择一个第二输出端以将该数据电压输出至对应的第二分配子单元的第二输入端，该第二分配子单元用于根据该L个第二控制端输入的控制电压从该第二分配子单元的L个第一输出端中选择一个第一输出端以将该数据电压输出至对应的所述通路。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述第一分配子单元包括M个第一开关管，该M个第一开关管的输入端连接于一公共节点，并以该公共节点为所述第一输入端；该M个第一开关管的控制端分别与M个所述第一控制端一一对应地连接，该M个第一开关管的输出端分别与一所述第二分配子单元的第二输入端连接。4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述第二分配子单元包括L个第二开关管；该M个第二分配子单元具有L个第一控制端，该L个第一控制端中的每一第一控制端分别与每一第二分配子单元的一所述第二开关管的控制端连接。5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述逻辑控制单元包括第一逻辑控制子单元，该第一逻辑控制子单元包括P个传输门以及一反相器，每一传输门均具有第一逻辑控制端、第二逻辑控制端、电压输入端以及电压输出端，该P个传输门的第一逻辑控制端均分别与该反相器的输入端连接，该P个传输门的第二逻辑控制端分别与该反相器的输出端连接，该P个传输门的电压输入端分别接入第一预设电平，该P个传输门的电压输出端分别与该P个第二控制端连接。6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述逻辑控制单元包括第二逻...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚强，陈归，洪光辉，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42