带抖动校正功能的透镜驱动装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种带抖动校正功能的透镜驱动装置，其无需位置检测用磁铁，而且也不会降低摆动时的驱动力。该带抖动校正功能的透镜驱动装置构成为，磁铁支架为自Z轴方向观察时呈正方形状的框体，磁铁为呈等腰梯形的柱体，磁铁以长底边侧朝向磁铁支架中心的状态安装于对角位置上，磁力检测机构由X方向磁力检测机构和Y方向磁力检测机构构成，X方向磁力检测机构对磁感应强度的X轴方向成分具有检测灵敏度，其安装在装配于Y轴方向对角位置上的两个磁铁中的至少一个磁铁的短底边外侧，Y方向磁力检测机构对磁感应强度的Y轴方向成分具有检测灵敏度，其安装在装配于X轴方向对角位置上的两个磁铁中的至少一个磁铁的短底边外侧。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于驱动移动电话等中所使用的摄像头进行自动对焦，并且校正摄像头上发生的抖动的带抖动校正功能的透镜驱动装置。
技术介绍
带抖动校正功能的透镜驱动装置利用自动对焦功能进行对焦，同时在拍摄中产生抖动时使透镜向与透镜光轴成直角的方向相对应地摆动，以抑制成像于图像传感器上的图像发生模糊。例如，日本专利申请公开号JP2013-24938A，公开日2013年2月4日（以该申请为优先权进入中国的公开号为CN102879973A，公开日为2013年1月16日，进入美国的公开号为US2013016427A1，US2015226978A1，公开日为2013年1月17日和2015年8月13日）提出了一种带抖动校正功能的透镜驱动装置，其利用沿光轴方向延伸形成为线状的弹簧构件，将对焦单元悬架支承为使其能够向与光轴成直角的方向摆动，通过运转抖动校正单元使对焦单元摆动，以抑制图像发生模糊。如图10至图12所示，其示出了现有的带抖动校正功能的透镜驱动装置50。特别是图10为带抖动校正功能的透镜驱动装置50的立体图，图11为带抖动校正功能的透镜驱动装置50的爆炸图，图12为带抖动校正功能的透镜驱动装置50的主要部分的立体图。在此，将未图示的透镜的光轴方向设为Z（Z轴）方向，且将分别与Z轴成直角且相互垂直的两个方向设为P（P轴）方向以及Q（Q轴）方向。如图10所示，带抖动校正功能的透镜驱动装置50收纳于屏蔽箱体65内，其整体上形成为长方体形状。屏蔽箱体65的中央部沿着Z轴方向呈圆环形开口，其中，在中央部由后述透镜支架53保持有未图示的透镜。带抖动校正功能的透镜驱动装置50由对焦单元51和抖动校正单元52构成。对焦单元51具有：透镜支架53、对焦用线圈54A、磁铁55A、磁铁支架56；由板状弹簧构件构成的悬架支承机构57以及垫片（Spacer）58。抖动校正单元52具有摆动用线圈59A、配线基板62A、连接基板62B、由线状弹簧构件构成的摆动支承机构60、位置检测用霍尔元件61以及基台63。透镜支架53由沿着Z轴方向开口的筒状构件，将透镜保持于内周侧。在透镜支架53的外周侧，对焦用线圈54A沿着透镜支架53的外径形状而卷绕为四方环状。合计四个形成为长方体形状的磁铁55A的磁极面朝向P轴方向以及Q轴方向，在与Z轴平行的轴周围，以90度的间隔配设于对焦用线圈54A的外径侧。磁铁55A与对焦用线圈54A沿着P轴方向以及Q轴方向隔开空隙相互对置。另外，磁铁55A被保持于正方形框状的磁铁支架56的框边部56a。悬架支承机构57由前侧弹簧构件57A和后侧弹簧构件57B构成。前侧弹簧构件57A和后侧弹簧构件57B的内周部分别与透镜支架53的＋Z侧端面以及-Z侧端面相连接。另外，前侧弹簧构件57A的外周部与磁铁支架56的＋Z侧的端面相连接。后侧弹簧构件57B的外周部与外周部垫片58一起连接到磁铁支架56的-Z侧端面。这样一来，前侧弹簧构件57A和后侧弹簧构件57B将透镜支架53悬架支承为使其能够向Z轴方向移动。当向上述那样构成的对焦单元51的对焦用线圈54A通电时，该对焦用线圈54A产生朝向Z轴方向的洛伦兹力，利用该洛伦兹力使透镜支架53在Z轴方向移动。中央部具有朝向Z轴方向开口的板状基台63的＋Z侧（的）面上，安装有与外部的控制电路相连接的连接基板62B。在该连接基板62B的＋Z侧面上，安装有配线基板62A。在配线基板62A上形成有电力供给线路，其上部连接有摆动用线圈59A。摆动用线圈59A包括：绕与Z轴平行的轴卷绕，分别配设于配线基板62A的-P侧以及＋P侧的P侧摆动用线圈59AP、分别配设于-Q侧以及＋Q侧的Q侧摆动用线圈59AQ。摆动用线圈59A与磁铁55A的-Z侧的侧面沿着Z轴方向隔开空隙相互对置。摆动支承机构60由沿着Z轴方向延伸的、形成为线状的四条弹簧构件构成。各弹簧构件的前侧端部60a与前侧弹簧构件57A相连接，各弹簧构件的后侧端部60b与基台63相连结。摆动支承机构60将对焦单元51支承为使其能够分别向P轴方向以及Q轴方向摆动。如图12所示，位置检测用霍尔元件61由P轴侧的霍尔元件61P和Q轴侧的霍尔元件61Q构成。霍尔元件61P配设于摆动用线圈59AP的-Z侧，且固定于基台63上，其隔着摆动用线圈59AP沿着Z轴方向与磁铁55A的-Z侧（的）侧面隔开空隙相互对置。霍尔元件61Q配设于摆动用线圈59AQ的-Z侧，且固定于基台63上，其隔着摆动用线圈59AQ沿着Z轴方向与磁铁55A的-Z侧侧面隔开空隙相互对置。霍尔元件61P、61Q均用于检测由其所对置的磁铁55A产生的磁感应强度的Z轴方向成分。其结果为，霍尔元件61P检测到所对置的磁铁55A随着向P轴方向的摆动而发生的磁感应强度变化。另外，霍尔元件61Q检测到所对置的磁铁55A随着向Q轴方向的摆动而发生的磁感应强度变化。因此，霍尔元件61P可知磁铁支架56沿着P轴方向的摆动位置，而霍尔元件61Q可知磁铁支架56沿着Q轴方向的摆动位置。进而，当向抖动校正单元52的P侧摆动用线圈59AP通电时，P侧摆动用线圈59AP产生朝向P轴方向的洛伦兹力，而磁铁55A产生反作用力，使对焦单元51向P轴方向摆动。另外，当向Q侧摆动用线圈59AQ通电时，Q侧摆动用线圈59AQ产生朝向Q轴方向的洛伦兹力，而磁铁55A产生反作用力，使对焦单元51Q轴方向摆动。其结果为，当拍摄时发生手抖产生时，向P侧摆动用线圈59AP以及Q侧摆动用线圈59AQ通电，由霍尔元件61P和霍尔元件61Q监测摆动大小，实施抖动校正。但是，如图12所示，自Z轴方向观察到的截面形状呈长方形的磁铁55A，配设于形成为四方环状的对焦用线圈54A的四边外侧、即P轴方向及Q轴方向的外侧，为此，导致P轴方向的宽度尺寸以及Q轴方向的宽度尺寸增大，从而使带抖动校正功能的透镜驱动装置50大型化。因此，如图13所示，日本专利申请公开号JP2014-126668A，公开日为2014年7月7日的专利公开了另一带抖动校正功能的透镜驱动装置（以该申请为优先权进入中国的公开号为CN103901701A，公开日为2014年7月2日，进入美国的公开号为US2014177056A1公开日为2014年6月26日）。图13和图14示出了如下的带抖动校正功能的透镜驱动装置主要部分的立体图。该带抖动校正功能的透镜驱动装置将自Z轴方向观察到的截面形状呈等腰梯形的磁铁55B保持于未图示的磁铁支架的拐角、即距离长的对角位置（X轴方向和Y轴方向）上，以避免P轴方向的宽度尺寸及Q轴方向的宽度尺寸的增大。此外，在图13和图14中，X轴方向为从P轴方向绕Z轴朝向+Q轴方向旋转45度的方向，Y轴方向为从Q轴方向绕Z轴朝向-P轴方向旋转45度的方向。对焦用线圈54B顺着未图示的透镜支架外径形状绕着与Z轴平行的轴卷绕为八角环状。磁铁55B磁极面朝向X轴方向以及Y轴方向，沿着与Z轴平行的轴周围以90度的间隔呈对角地将合计四个磁铁55B配设于对焦用线圈54B的外径侧。进而，磁铁55B与对焦用线圈54B沿着X轴方向以及Y轴方向隔开空隙相互对置，且被保持于未图示的正方形框状的磁铁支架的四角。当向对焦用线圈54B通电时，对焦用线圈54B产生朝向Z轴方向的洛伦兹力，使未图示的透镜支本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带抖动校正功能的透镜驱动装置，其以透镜的光轴方向作为Z轴方向，并以分别与该Z轴方向正交且相互正交的两轴作为X轴方向和Y轴方向，所述透镜驱动装置包括：对焦单元，其包括：用于保持所述透镜的透镜支架；绕着所述Z轴方向卷绕，安装于所述透镜支架外侧的对焦用线圈；沿着透镜径向与所述对焦用线圈隔开空隙相互对置的多个磁铁；用于保持所述多个磁铁的磁铁支架；以及连接所述透镜支架和磁铁支架，沿着所述X轴方向和Y轴方向延伸，将所述透镜支架支承为能够向Z轴方向移动的悬架支承机构；以及抖动校正单元，其包括：基台；安装于所述基台的磁力检测机构；绕着与所述Z轴平行的轴卷绕，且沿着Z轴方向与所述多个磁铁隔开空隙相互对置的多个摆动用线圈；以及连接在所述基台和对焦单元之间、将所述对焦单元支承为能够向与Z轴正交的方向摆动的摆动支承机构；其特征在于，所述磁铁支架为自所述Z轴方向观察时呈正方形状的框体，框体的对角分别位于X轴方向和Y轴方向，每个磁铁为呈等腰梯形的柱体，所述磁铁以长底边侧朝向所述磁铁支架中心的状态安装于所述磁铁支架的对角位置上，所述磁力检测机构包括X方向磁力检测机构和Y方向磁力检测机构，所述X方向磁力检测机构对磁铁的磁感应强度的X轴方向成分具有检测灵敏度，其安装在装配于Y轴方向的磁铁支架的对角位置上的两个磁铁中的至少一个磁铁的短底边外侧，所述Y方向磁力检测机构对磁感应强度的Y轴方向成分具有检测灵敏度，其安装在装配于X轴方向的磁铁支架的对角位置上的两个磁铁中的至少一个磁铁的短底边外侧。...

【技术特征摘要】
2015.10.27 JP 2015-2105711.一种带抖动校正功能的透镜驱动装置，其以透镜的光轴方向作为Z轴方向，并以分别与该Z轴方向正交且相互正交的两轴作为X轴方向和Y轴方向，所述透镜驱动装置包括：对焦单元，其包括：用于保持所述透镜的透镜支架；绕着所述Z轴方向卷绕，安装于所述透镜支架外侧的对焦用线圈；沿着透镜径向与所述对焦用线圈隔开空隙相互对置的多个磁铁；用于保持所述多个磁铁的磁铁支架；以及连接所述透镜支架和磁铁支架，沿着所述X轴方向和Y轴方向延伸，将所述透镜支架支承为能够向Z轴方向移动的悬架支承机构；以及抖动校正单元，其包括：基台；安装于所述基台的磁力检测机构；绕着与所述Z轴平行的轴卷绕，且沿着Z轴方向与所述多个磁铁隔开空隙相互对置的多个摆动用线圈；以及连接在所述基台和对焦单元之间、将所述对焦单元支承为能够向与Z轴正交的方向摆动的摆动支承机构；其特征在于，所述磁铁支架为自所述Z轴方向观察时呈正方形状的框体，框体的对角分别位于X轴方向和Y轴方向，每个磁铁为呈等腰梯形的柱体，所述磁铁以长底边侧朝向所述磁铁支架中心的状态安装于所述磁铁支架的对角位置上，所述磁力检测机构包括X方向磁力检测机构和Y方向磁力检测机构，所述X方向磁力检测机构对磁铁的磁感应强度的X轴方向成分具有检测灵敏度，其安装在装配于Y轴方向的磁铁支架的对角位置上的两个磁铁中的至少一个磁铁的短底边外侧，所述Y方向磁力检测机构对磁感应强度的Y轴方向成分具有检测灵敏度，其安装在装配于X轴方向的磁铁支架的对角位置上的两个磁铁中的至少一个磁铁的短底边外侧。2.根据权利要求1所述的带抖动校正功能的透镜驱动装置，其特征在于，所述磁铁支架上还安装有：在所述X方...

【专利技术属性】
技术研发人员：寺嶋厚吉，
申请(专利权)人：惠州市大亚湾永昶电子工业有限公司，景美达光学技术有限公司，惠州大亚湾三美达光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44