一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置，通过控制多台相机成像，且相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏；以待测液晶屏平面为基准面，标定各相机图像坐标系之间的映射关系T；根据映射关系T，将各相机对应的缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系；根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断缺陷点是否在基准面，辨识内外层缺陷。另外，通过相机图像坐标与物空间坐标的映射关系G，精确计算缺陷点深度坐标，确定缺陷层。通过多台相机构成视觉系统，将平面成像缺陷检测提升为立体成像，不仅能够判断缺陷点的有无和平面位置，而且获取其深度信息，进而完成缺陷点的内外分层定位、分级，帮助剔除干扰，指导工艺改善保证液晶屏质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶屏缺陷检测
，特别是涉及一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置。
技术介绍
液晶屏是以液晶材料为基本组件，通过改变电压来改变液晶材料内部分子排列从而产生遮光和透光效果，进行图像显示的设备。随着人们对液晶屏需求的提高，液晶屏已形成规模巨大的产业。如图1所示，为一种目前常用的液晶屏结构示意图，所述液晶屏从外至内依次包括TP玻璃01、上偏光片02、彩色滤光片03、液晶层04、TFT基板05、下偏光片06以及背光源07。其中，所述背光源07作为发光源提供光线；所述背光源07发出的光线经下偏光片06偏光产生偏振光；所述TFT基板05控制信号电压，并将所述信号电压施加到液晶层04进而控制液晶分子的偏转角度；所述彩色滤光片03将经液晶分子偏转的光线滤光、混合调节成各种颜色和亮度的光线；所述上偏光片02与所述下偏光片06配合让光线单方向通过，并最终通过所述TP玻璃01显示输出。由于所述液晶屏结构的复杂性和特殊性，缺陷可能位于液晶屏内部不同的片层或外表面，这种缺陷片层位置信息对于区分真实缺陷和干扰、区分缺陷类型有重要价值，对液晶屏生产和品质管控有重要意义。目前，对液晶屏缺陷检测一般采用光学检测方法，如图2所示为一种目前常用的液晶屏缺陷检测原理示意图。在所述TP玻璃01上方设置相机08，所述相机08摄取液晶屏的图像，通过对图像的分析，判断所述液晶屏是否存在缺陷。具体地，在实际使用过程中，如果所述TP玻璃01的上表面存在缺陷U，所述相机08可以拍摄到所述缺陷U的相机图像PL，技术人员可以较方便的通过相机图像判断出所述液晶屏是否存在缺陷，保证液晶屏的生产质量。然而，上述液晶屏缺陷检测方法，仅能粗略判断是否存在缺陷，在实际生产过程中，缺陷往往存在相隔几十到几百微米的透明物体的两个表面上，例如在图2中，液晶屏可能存在缺陷U和缺陷B，所述缺陷U在TP玻璃01的上表面，所述缺陷B在TP玻璃01的下表面，所述缺陷U和所述缺陷B均成像于相机图像PL处，技术人员很难通过相机图像进行区分。
技术实现思路
本专利技术实施例中提供了一种液晶屏缺陷分层定位方法及装置，以解决现有技术中的液晶屏缺陷检测无法快速区分液晶屏内部缺陷和外表面干扰，无法定位缺陷层级问题。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例公开了如下技术方案：本专利技术实施例公开了一种液晶屏缺陷分层定位方法，该方法包括以下步骤：控制多台相机成像，且所述相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏；以待测液晶屏平面为基准面，对所述相机的成像关系进行标定，确定在所述基准面上多台所述相机对应的图像坐标系之间的映射关系T；所述相机分别获取待测液晶屏的缺陷点图像，并根据所述映射关系T，将缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系中；根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，完成缺陷内外分层辨识。优选地，控制2台相机成像，且所述2台相机的视场重叠区域覆盖待测液晶屏。优选地，所述根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，包括：判断对应缺陷点的图像坐标偏差是否大于预设的误差阈值；如果所述图像坐标偏差大于所述误差阈值，则判断所述缺陷点不在基准面上；或者，如果所述图像坐标偏差小于所述误差阈值，则判断所述缺陷点在基准面上。优选地，该方法还包括以下步骤：对多台相机进行标定，确定物空间坐标系与图像坐标系的映射关系G；根据所有相机对应的缺陷点图像坐标以及所述映射关系G，计算确定缺陷点的物空间坐标，并通过所述物空间坐标中的深度方向坐标，定位缺陷层。优选地，根据所述缺陷点的物空间坐标，将所述缺陷点定位至多个层级，所述层级用于提示缺陷类型以及相对应的工艺缺陷。本专利技术实施例还公开了一种液晶屏缺陷分层定位装置，该装置包括：相机成像控制模块，用于控制多台相机成像，使所述相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏；图像映射关系标定模块，用于以待测液晶屏平面为基准面，对所述相机的成像关系进行标定，确定在所述基准面上多台所述相机对应的图像坐标系之间的映射关系T；缺陷点图像坐标映射变换模块，用于所述相机分别获取待测液晶屏的缺陷点图像，并根据所述映射关系T，将缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系中；内外缺陷辨识模块，用于根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，完成缺陷内外分层辨识。优选地，所述相机成像控制模块相机调整模块用于调整控制所述2台所述相机成像，使所述2台相机的视场重叠区域覆盖待测液晶屏。优选地，述内外缺陷辨识模块还包括判断模块，所述判断模块用于判断对应缺陷点的图像坐标偏差是否大于预设的误差阈值；如果所述图像坐标偏差大于所述误差阈值，则判断所述缺陷点不在基准面上；或者，如果所述图像坐标偏差小于所述误差阈值，则判断所述缺陷点在基准面上。优选地，所述液晶屏缺陷分层定位装置还包括物空间映射关系标定模块和缺陷层定位模块，其中：所述物空间映射关系标定模块，用于对多台相机进行标定，确定物空间坐标系与图像坐标系的映射关系G；所述缺陷层定位模块，用于根据所有相机对应的缺陷点图像坐标以及所述映射关系G，计算确定缺陷点的物空间坐标，并通过所述物空间坐标中的深度方向坐标，定位缺陷层。优选地，所述液晶屏缺陷分层定位装置还包括缺陷点分级模块，用于根据所述缺陷点的物空间坐标，将所述缺陷点定位至多个层级，所述层级用于提示缺陷类型以及相对应的工艺缺陷。由以上技术方案可见，本专利技术实施例提供的液晶屏缺陷分层定位方法及装置，通过控制多台相机成像，且所述相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏；以待测液晶屏平面为基准面，对所述相机的成像关系进行标定，确定在所述基准面上多台所述相机对应的图像坐标系之间的映射关系T；然后，所述相机分别获取待测液晶屏的缺陷点图像，并根据所述映射关系T，将缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系中；根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，完成待测液晶屏内外层缺陷辨识。另外，对上述双相机或多相机系统图像坐标与物空间三维坐标的关系进行标定，确定相机图像坐标与物空间的映射关系G。根据缺陷点的图像坐标和G计算缺陷点的深度坐标，确定缺陷发生的层。在上述过程中，本专利技术通过多台相机构成双目或多目视觉系统，将原有的平面成像进行缺陷检测提升为立体成像，不仅能够判断缺陷点有无和平面位置，而且能够有效获取其深度信息，进而完成缺陷点的分层定位，能够快速区分液晶内部缺陷和外表面干扰，同时根据缺陷点深度位置对所述缺陷点分级，进一步帮助技术
人员对液晶屏缺陷进行处理、分析缺陷原因以及改进生产工艺，有利于提高液晶屏质量。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为一种目前常用的液晶屏结构示意图；图2为一种目前常用的液晶屏缺陷检测原理示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种液晶屏缺陷分层定位方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种液晶屏缺陷分层定位方法的原理图；图5为本专利技术实施例提供的一种缺陷点图像映射关系示意图；图6为本专利技术实施例提供的另一种液晶屏缺陷分层定位方法的流程示意图；图7为本专利技术实施例提供的一种液晶屏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶屏缺陷分层定位方法，其特征在于，包括以下步骤：控制多台相机成像，且所述相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏；以待测液晶屏平面为基准面，对所述相机的成像关系进行标定，确定在所述基准面上多台所述相机对应的图像坐标系之间的映射关系T；所述相机分别获取待测液晶屏的缺陷点图像，并根据所述映射关系T，将缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系中；根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，完成缺陷内外分层辨识。

【技术特征摘要】
1.一种液晶屏缺陷分层定位方法，其特征在于，包括以下步骤：控制多台相机成像，且所述相机视场的重叠区域覆盖待测液晶屏；以待测液晶屏平面为基准面，对所述相机的成像关系进行标定，确定在所述基准面上多台所述相机对应的图像坐标系之间的映射关系T；所述相机分别获取待测液晶屏的缺陷点图像，并根据所述映射关系T，将缺陷点图像坐标均映射到同一图像坐标系中；根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，完成缺陷内外分层辨识。2.根据权利要求1所述的液晶屏缺陷分层定位方法，其特征在于，包括控制2台相机成像，且所述2台相机的视场重叠区域覆盖待测液晶屏。3.根据权利要求1所述的液晶屏缺陷分层定位方法，其特征在于，所述根据映射后的对应缺陷点图像坐标偏差，判断所述缺陷点是否在基准面上，包括：判断对应缺陷点的图像坐标偏差是否大于预设的误差阈值；如果所述图像坐标偏差大于所述误差阈值，则判断所述缺陷点不在基准面上；或者，如果所述图像坐标偏差小于所述误差阈值，则判断所述缺陷点在基准面上。4.根据权利要求1所述的液晶屏缺陷分层定位方法，其特征在于，还包括以下步骤：对多台相机进行标定，确定物空间坐标系与图像坐标系的映射关系G；根据所有相机对应的缺陷点图像坐标以及所述映射关系G，计算确定缺陷点的物空间坐标，并通过所述物空间坐标中的深度方向坐标，定位缺陷层。5.根据权利要求4所述的液晶屏缺陷分层定位方法，其特征在于，根据所述缺陷点的物空间坐标，将所述缺陷点定位至多个层级，所述层级用于提示缺陷类型以及相对应的工艺缺陷。6.一种液晶屏缺陷分层定位装置，其特征在于，包括：相机成像控制模块，用于控制多台相机成像，使所述相机视场的重叠区域覆盖待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：金刚，姚毅，周钟海，马增婷，尹淑娟，
申请(专利权)人：凌云光技术集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11