薄片类介质检测机构及薄片类介质处理装置制造方法及图纸

技术编号:13845471 阅读:49 留言:0更新日期:2016-10-17 02:22
本实用新型专利技术提供一种薄片类介质检测机构以及使用该薄片类介质检测机构的薄片类介质处理装置,该薄片类介质检测机构包括光电传感器组件和摆动件,其中,摆动件包括枢接部、位于枢接部两侧且均与枢接部固定连接的第一杆和第二杆,第二杆包括长杆和短杆,长杆的第一端与枢接部固定连接,短杆与长杆的第二端固定连接,短杆的长度延伸方向与长杆的长度延伸方向呈夹角设置。本实用新型专利技术提供的薄片类介质检测机构增大了第二杆的第二端的体积,在检测带孔介质时,可避免第二杆插入介质的孔内。与现有技术相比,本实用新型专利技术提供的薄片类介质检测机构能够检测带孔的介质,介质适应性好。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及薄片类介质处理装置,具体涉及薄片类介质检测机构。
技术介绍
薄片类介质(为描述方便,以下简称介质)处理装置,如打印机、扫描仪、读卡机、识币器等,通常在介质输送通道中设置薄片类介质检测机构,用于检测是否有介质位于检测机构所在位置,当有介质位于检测机构所在位置时,薄片类介质检测机构输出相应的检测信号,介质处理装置根据该信号适时启动打印、扫描等介质处理操作。薄片类介质检测机构包括光电传感器组件1'、摆动件2',以及弹性元件3',其中,光电传感器组件1'包括相对间隔设置的光发射器11'和光接收器12',当光发射器11'和光接收器12'两者之间的光线传播路径上有遮挡物时,光发射器11'发射的光线不能被光接收器12'接收,光接收器12'输出第一检测信号,当光发射器11'和光接收器12'两者之间的光线传播路径上没有遮挡物时,光发射器11'发出的光线可被光接收器12'接收,光接收器12'输出第二检测信号。摆动件2'包括枢接部20'、第一杆21'和第二杆22',其中,摆动件2'通过枢接部20'与机架(图中未示出)枢接,摆动件2'可绕枢接轴线摆动,具有初始位置和工作位置;第一杆21'的一端与枢接部20'固定连接,其另一端悬空,第一杆21'的悬空端能够进入或退出光发射器11'和光接收器12'两者之间的光线传播路径。第二杆22'的一端与枢接部20'固定连接,其另一端悬空,第二杆22'的悬空端伸入介质输送通道中。当摆动件2'位于初始位置时,第一杆21'的悬空端进入光发射器11'和光接收器12'两者之间的光线传播路径,当摆动件2'位于工作位置时,第一杆21'的悬空端退出光发射器11'和光接收器12'两者之间的光线传播路径。弹性元件3'的一端与摆动件2'连接,另一端与机架连接,在弹性元件3'的弹性力的作用下,摆动件2'始终具有向初始位置摆动的运动趋势。当介质输送通道内没有介质时,摆动件2'位于初始位置,第一杆21'的悬空端位于光电传感器组件1'的光发射器11'与光接收器12'之间的光线传播路径上,阻断了光线传播,光接收器12'输出第一检测信号;当介质输送通道内有介质通过时,介质的前沿与第二杆22'接触,随着介质继续移动,介质推动第二杆22'转动从而使摆动件2'摆动,当摆动件2'摆动至位于工作位置时,第一杆21'的悬空端退出光发射器11'与光接收器12'之间的光线传播路径,光接收器12'输出第二检测信号。根据光接收器12'输出的检测信号不同,可以判断介质输送通道内是否有介质存在。为了减小摆动件2'的转动惯量,使较薄、较软的介质也能推动摆动件2'摆动,摆动件2'的第一杆21'和第二杆22'设置为细长的杆状,这种薄片类介质检测机构在检测带孔的介质时,如打孔的税票时,由于第二杆22'较细,其悬空端容易插在介质的孔内,导致介质塞在介质输送通道内无法移动,因此这种薄片类介质检测机构无法检测带孔的介质,对介质适应性差。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种介质适应性好的薄片类介质检测机构。本技术提供了一种薄片类介质检测机构,包括光电传感器组件和摆动件,其中,所述摆动件包括枢接部、位于所述枢接部两侧且均与所述枢接部固定连接的第一杆和第二杆,其特征在于,所述第二杆包括长杆和短杆,所述长杆的第一端与所述枢接部固定连接,所述短杆与所述长杆的第二端固定连接,所述短杆的长度延伸方向与所述长杆的长度延伸方向呈夹角设置。优选地,所述短杆的中部与所述长杆的第二端固定连接。优选地,所述第二杆还包括第一引导部和第二引导部,其中,所述第一引导部连接在所述短杆的第一端和所述长杆之间,所述第二引导部连接在所述短杆的第二端和所述长杆之间。优选地,所述短杆的长度延伸方向垂直于所述长杆的长度延伸方向。优选地,所述光电传感器组件包括相对设置的光发射器与光接收器,所述摆动件可绕所述枢接部的轴线摆动,具有初始位置和工作位置,其中,当所述摆动件位于所述初始位置时,所述光电接收器输出第一检测信号,当所述摆动件位于所述工作位置时,所述光电接收器输出第二检测信号。优选地,当所述摆动件位于所述初始位置时,所述第一杆的悬空端位于所述光发射器与所述光接收器之间的光线传播路径上,当所述摆动件位于所述工作位置时,所述第一杆的悬空端离开所述光发射器与所述光接收器之间的光线传播路径。优选地,所述摆动件在自身重力的作用下,始终具有向所述初始位置摆动的运动趋势。优选地,还包括弹性元件,所述摆动件在所述弹性元件的作用下始终具有向所述初始位置摆动的运动趋势。本技术的目的还在于提供一种使用该检测机构的薄片类介质处理装置。本技术提供一种薄片类介质处理装置,包括介质输送通道和设置在所述介质输送通道上的介质处理机构,还包括所述介质检测机构。优选地,所述介质检测机构的第二杆伸进所述介质输送通道,所述第二杆的长杆的长度沿介质输送方向延伸。本技术提供的一种薄片类介质检测机构的第二杆包括长杆和短杆,长杆的第一端与枢接部固定连接,短杆与长杆的第二端固定连接,短杆的长度延伸方向与长杆的长度延伸方向呈夹角设置。通过上述设置,在检测带孔介质时,可避免第二杆插入介质的孔内,因此避免了现有技术中由于第二杆插入孔内导致的介质卡塞问题。与现有技术相比,本技术提供的薄片类介质检测机构能够检测带孔的介质,介质适应性好。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解,本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术,并不构成对本技术的不当限定。图1是相关技术中的薄片类介质检测机构的结构示意图;图2是根据本技术一实施例的薄片类介质检测机构的结构示意图;图3是根据本技术另一实施例的薄片类介质检测机构的结构示意图;图4是使用本技术提供的薄片类介质检测机构的薄片类介质处理装置的结构剖面图。标号说明:1.光电传感器组件; 11.光发射器; 12.光接收器;2.摆动件; 20.枢接部; 21.第一杆;22.第二杆; 221.长杆; 222.短杆;223.第一引导部; 224.第二引导部 3.弹性元件;4.第一扫描机构; 41.第一图像传感器; 42.第一压辊;5.第二扫描机构; 51.第二图像传感器; 52.第二压辊;6.输送辊组; 7.介质检测机构;81.第一通道板; 82.第二通道板具体实施方式需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。图2是根据本技术一实施例的薄片类介质检测机构的结构示意图。如图2所示,薄片类介质检测机构包括光电传感器组件1和摆动件2。光电传感器组件1包括光发射器11和光接收器12,光发射器11与光接收器12平行间隔设定距离,当光发射器11和光接收器12两者之间的光线传播路径上有遮挡物时,光发射器11发射的光线不能被光接收器12接收,光接收器12输出第一检测信号,如低电平;当光发射器11和光接收器12两者之间的光线传播路径上没有遮挡物时,光发射器11发出的光线可被光接收器12接收,光接收器12输出第二检测信号,如高电平本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种薄片类介质检测机构,包括光电传感器组件和摆动件,其中,所述摆动件包括枢接部、位于所述枢接部两侧且均与所述枢接部固定连接的第一杆和第二杆,其特征在于,所述第二杆包括长杆和短杆,所述长杆的第一端与所述枢接部固定连接,所述短杆与所述长杆的第二端固定连接,所述短杆的长度延伸方向与所述长杆的长度延伸方向呈夹角设置。

【技术特征摘要】
1.一种薄片类介质检测机构,包括光电传感器组件和摆动件,其中,所述摆动件包括枢接部、位于所述枢接部两侧且均与所述枢接部固定连接的第一杆和第二杆,其特征在于,所述第二杆包括长杆和短杆,所述长杆的第一端与所述枢接部固定连接,所述短杆与所述长杆的第二端固定连接,所述短杆的长度延伸方向与所述长杆的长度延伸方向呈夹角设置。2.根据权利要求1所述的薄片类介质检测机构,其特征在于,所述短杆的中部与所述长杆的第二端固定连接。3.根据权利要求2所述的薄片类介质检测机构,其特征在于,所述第二杆还包括第一引导部和第二引导部,其中,所述第一引导部连接在所述短杆的第一端和所述长杆之间,所述第二引导部连接在所述短杆的第二端和所述长杆之间。4.根据权利要求1所述的薄片类介质检测机构,其特征在于,所述短杆的长度延伸方向垂直于所述长杆的长度延伸方向。5.根据权利要求1所述的薄片类介质检测机构,其特征在于,所述光电传感器组件包括相对设置的光发射器与光接收器,所述摆动件可绕所述枢接部的轴线摆动,具有初始位置和工作位置,其中,当所述摆动件位于所述初始位置时,所述光接...

【专利技术属性】
技术研发人员:马荣慧王志军华娟王永耀
申请(专利权)人:威海新北洋技术服务有限公司
类型:新型
国别省市:山东;37

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