无线通信装置及故障判定方法制造方法及图纸

技术编号:13834767 阅读:62 留言:0更新日期:2016-10-15 13:48
本发明专利技术的信号处理,作为用于校正在正交调制时产生的正交误差的校正值,在故障判定处理中,输出异常校正值,在校准处理中,输出标准校正值,基于正交调制信号的载波泄漏及镜像泄漏的电平,判定有无信号处理的故障。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及校正在将信号进行正交调制时产生的正交误差的信号处理装置及故障判定方法。
技术介绍
近年来,伴随CMOS工艺的微细化,在采用了60GHz频段的毫米波通信以及采用了从77GHz至81GHz频段的毫米波雷达等的技术中,正在迅速地开展采用了正交调制的无线通信装置的开发。在这样的无线通信装置中,在将信号进行正交调制的情况下,因差动及正交误差而产生载波泄漏及镜像泄漏(image leak)。与以往的微波频段的信号相比,毫米波信号因对制造工艺产生的偏差的敏感度较高,并且具有较大的差动及正交误差,所以在以往的无线通信装置中,难以抑制载波泄漏及镜像泄漏。专利文献1公开了将微波频段的发送波的功率包络信号通过ADC(Analog Digital Converter;模数变换)进行量化,并将其频率分量通过FFT(Fast Fourier Transform;快速傅立叶变换)进行检测的通信装置。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2010-283589号公报
技术实现思路
作为抑制载波泄漏及镜像泄漏的手段,可考虑适用专利文献1中公开的结构。但是,在专利文献1中,由于难以检测ADC的探测极限以下电平的信号,所以难以区分正交误差的电平因正交误差的适当校正而为探测极限以下的电平的情况和因校正正交误差的功率检波器及其外围电路发生故障而不能探测正交误差的情况。本专利技术的非限定性的实施例,通过能够区别正交误差的输出电平因正交误差的适当校正而较低的情况和正交误差因校正正交误差的功能性故障而不进行检测的情况的信号处理装置及故障判定方法。本专利技术的一方式是信号处理装置,包括:输出校正值的校正单元;生成用所述校正值进行了校正的正交调制信号的生成单元;检测所述正交调制信号的正交误差的检测单元;以及基于所述正交误差的电平,判定所述检测单元有无故障的故障判定单元,所述校正值是抑制所述正交误差的第一校正值以及使所述正交误差产生的第二校正值之一。本专利技术的一方式是故障判定方法,包括以下步骤:输出校正值;生成用所述校正值进行了校正的正交调制信号;检测所述正交调制信号的正交误差;以及基于所述正交误差的电平,判定所述检测中有无故障,所述校正值是抑制所述正交误差的第一校正值以及使所述正交误差产生的第二校正值之一。再有,这些概括性的或具体的方式,可以由系统、方法、集成电路、计算机程序、或记录介质来实现,也可以通过系统、装置、方法、集成电路、计算机程序和记录介质的任意的组合来实现。根据本专利技术,能够区别正交误差的输出电平因正交误差的适当校正而较低的情况和因校正正交误差的功能性故障而不检测正交误差的情况。从说明书和附图中将更清楚本专利技术的一方案中的其他优点和效果。这些优点和/或效果可以由各种实施例和说明书及附图所记载的特征来分别提供,不需要为了获得一个或一个以上的同一特征而提供全部特征。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的无线通信装置的结构。图2是表示本专利技术的实施方式1的无线通信装置的动作。图3是表示载波泄漏及镜像泄漏的ADC的输入电平为“0”的状态。图4是表示载波泄漏及镜像泄漏的ADC的输入电平为最大的状态。图5是表示载波泄漏及镜像泄漏的ADC的输入电平为P0以下的状态。图6是表示载波泄漏及镜像泄漏的ADC的输入电平小于阈值B的状态。图7是表示载波泄漏及镜像泄漏的ADC的输入电平为阈值B以上的状态。图8是表示本专利技术的实施方式2的无线通信装置的结构。图9是表示本专利技术的实施方式2的无线通信装置的动作。具体实施方式以下,适当参照附图,详细地说明本专利技术的实施方式。(实施方式1)<无线通信装置的结构>参照图1,以下详细地说明本专利技术的实施方式1的、作为信号处理装置的无线通信装置100的结构。本实施方式的无线通信装置100在起动时执行对校正载波泄漏及镜像泄漏的校正功能的故障进行判定的故障判定处理。在故障判定处理中得到没有发生故障的判定结果的情况下,无线通信装置100接着执行校准处理,即进行抑制载波泄漏及镜像泄漏的校正。无线通信装置100为典型地发送接收毫米波信号的装置。这里,载波泄漏及镜像泄漏是分别由差动误差及正交误差产生的不期望的信号分量。无线通信装置100包括:数字调制信号发生器101;DAC(Digital Analog Converter;数模变换器)102、103;放大器104、105;振荡器106;移相器107;正交调制器108;放大器109;耦合器110;天线111;检波器112;放大器113;ADC(Analog Digital Converter;模数变换器)114;FFT(Fast Fourier Transform;快速傅立叶变换)单元115;切换控制单元116;开关117;故障判定单元118;校正量计算单元119;异常校正值存储单元120;标准校正值存储单元121;开关122;以及校正电路123。FFT单元115、故障判定单元118和校正量计算单元119构成校正计算处理单元150。校正计算处理单元150检测载波泄漏及镜像泄漏并判定故障,计算用于校正载波泄漏及镜像泄漏的校正量。这里,数字调制信号发生器101、DAC(Digital Analog Converter)102、103和正交调制器108主要构成生成单元,检波器112、ADC(Analog Digital Converter)114和FFT单元115主要构成检测单元。数字调制信号发生器101用频率fm的连续波CW对载波进行数字调制来生成调制信号(基音信号)。此外,数字调制信号发生器101用校正电路123的校正值校正对ADC114的载波泄漏及镜像泄漏的输入电平。再有,在执行故障判定处理时,校正后的调制信号造成的载波泄漏及镜
像泄漏超过正常动作时所期待的ADC114的输出电平。此外,在执行校准处理时,校正后的调制信号为载波泄漏及镜像泄漏受到抑制的调制信号。数字调制信号发生器101将生成的调制信号的I分量输出到DAC102,将生成的调制信号的Q分量输出到DAC103。DAC102将从数字调制信号发生器101输入的调制信号的I分量进行数字/模拟变换(以下,记载为“DA变换”),生成I分量的模拟信号。DAC102将生成的I分量的模拟信号输出到放大器104。DAC103将从数字调制信号发生器101输入的调制信号的Q分量进行DA变换,生成Q分量的模拟信号。DAC103将生成的Q分量的模拟信号输出到放大器105。放大器104将从DAC102输入的I分量的模拟信号放大并输出到正交调制器108。放大器105将从DAC103输入的Q分量的模拟信号放大并输出到正交调制器108。振荡器106生成规定的频率的振荡信号并输出到移相器107。移相器107使从振荡器106输入的振荡信号的相位各移动90度并输出到正交调制器108。正交调制器108将从放大器104输入的调制信号的I分量及从放大器105输入的调制信号的Q分量,用从移相器107输入的相位相差90度的振荡信号进行正交调制,生成正交调制信号。正交调制器108将生成的正交调制信号输出到放大器109。放大器109将从正交调制器108输入的正交调制信号放大后输出到耦合器110。耦合器110使从放大器109输入的正交调制信号分支,将分支后的一方本文档来自技高网
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【技术保护点】
信号处理装置,包括:校正单元,输出校正值;生成单元,生成用所述校正值进行了校正的正交调制信号;检测单元,检测所述正交调制信号的正交误差;以及故障判定单元,基于所述正交误差的电平判定所述检测单元有无故障,所述校正值是抑制所述正交误差的第一校正值以及使所述正交误差产生的第二校正值之一。

【技术特征摘要】
2015.03.24 JP 2015-0612141.信号处理装置,包括:校正单元,输出校正值;生成单元,生成用所述校正值进行了校正的正交调制信号;检测单元,检测所述正交调制信号的正交误差;以及故障判定单元,基于所述正交误差的电平判定所述检测单元有无故障,所述校正值是抑制所述正交误差的第一校正值以及使所述正交误差产生的第二校正值之一。2.如权利要求1所述的信号处理装置,所述生成单元将使用所述校正值校正后的调制信号进行数字/模拟变换,生成模拟信号,并将所述模拟信号进行正交调制,生成所述正交调制信号。3.如权利要求1所述的信号处理装置,所述检测单元获取所述正交调制信号的振幅变动分量,并基于所述振幅变动分量检测所述正交误差。4.如权利要求1所述的信号处理装置,所述检测单元获取所述正交调制信号的振幅变动分量,将所述振幅变动分量进行模拟/数字变换,生成数字信号,并基于所述数字信号检测所述正交误差。5.如权利要求1所述的信号处理装置,所述生成单元包括:信号生成单元,生成使用所述校正值校正后的调制信号;数模变换单元,将所述校正后的调制信号进行数字/模拟变换,生成模拟信号;以及正交调制单元,将所述模拟信号进行正交调制来生成所述正交调制信号,所述检测单元包括:检波单元,对所述正交调制信号进行检波,获取振幅变动分量;模数变换单元,将所述振幅变动分量进行模拟/数字变换,生成数字信号;以及FFT单元,基于所述数字信号检测所述正交误差,所述故障判定单元判定所...

【专利技术属性】
技术研发人员:齐藤典昭宫长健二中村重纪
申请(专利权)人:松下知识产权经营株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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