测量电子元件通断的方法及应用于该方法的设备技术

本发明专利技术公开了一种测量电子元件通断的方法及应用于该方法的设备，涉及电子元件检测技术领域，方法为施加在所述电子元件两端的测量电压为0.05V～0.1V。设备包括测量电路，所述测量电路包括比较电路，及与所述比较电路电连接的单片机；所述比较电路包括输出端与所述单片机电连接的比较器，所述比较器的正输入端电连接在电阻R1与R2之间，所述电阻R2的两端并联有电位器；所述比较器的负输入端电连接在电阻R3与R4之间，所述电子元件并联在所述电阻R3的两端；所述电阻R1和R4均电连接所述电源且阻值相等，所述电阻R2和R3均接地且阻值相等。本发明专利技术在准确测量电子元件通断的同时不会对其它器件造成损坏，同时工作效率高，测量成本低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子元件检测
，特别涉及一种测量电子元件通断的方法及应用于该方法的设备。
技术介绍
USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口是一种串口总线标准，被广泛应用于手机、智能手表、游戏手柄及虚拟头戴等便携式电子产品中，用于这些便携式电子产品充电或者与电脑等设备通信，故USB接口的USB弹片导通是否良好成为了这些便携式电子产品能否正常充电或通信的重要因素，因此，用于测量USB弹片通断的方法也应运而生。目前用于测量USB弹片通断的方法主要有两种：一种是用万用表的欧姆(Ω)档直接测量；另一种是运用5V电压加指示灯显示测量，如图1所示。此两种测量方法均存在成本高、操作复杂、效率低，测量灵敏度低，对于虚焊、接触不良的情况不能测量的缺陷，同时第二种方法中的5V电压还会对于一些低压芯片造成损坏，导致电子产品的可靠性和使用寿命下降，甚至直接损毁。
技术实现思路
本专利技术所要解决的第一个技术问题是提供一种测量电子元件通断的方法，此测量电子元件通断的方法在准确测量电子元件通断的同时不会对其它器件造成损坏。基于一个总的专利技术构思，本专利技术所要解决的第二个技术问题是提供一种应用上述测量电子元件通断的方法进行通断测量的设备，此设备能够准确的测量电子元件的通断，同时不会损坏其它器件，且成本低、操作简单。为解决上述第一个技术问题，本专利技术的技术方案是：一种测量电子元件通断的方法，在所述电子元件的两端施加电压值为0.05V～0.1V的测量电压。其中，将所述电子元件串接在比较器的负输入端与地之间，在所述比较器
的正输入端与所述地之间串接有电位器，并在所述电位器两端施加与所述测量电压相等的电压；将电位器的阻值调节为测量阈值；如所述比较器有输出则所述电子元件为通；所述比较器无输出则所述电子元件为断。其中，将所述比较器的正输入端电连接在两分压电阻之间，并将所述电位器并联在串接于所述比较器的正输入端与所述地之间的所述分压电阻两端；将所述比较器的负输入端电连接在另两分压电阻之间，并将所述电子元件并联在串接于所述比较器的负输入端与所述地之间的所述分压电阻两端。其中，所述比较器的输出端电连接有单片机，所述单片机根据所述比较器的输出信号控制指示灯或蜂鸣器动作。其中，所述单片机连接有测试电脑，并将测量结果传输给所述测试电脑。其中，所述电子元件具有多个需要测量通断的部件，每个所述部件的两端分别通过继电器电连接到所述比较器与所述地之间，各所述继电器依次通断。为解决上述第二个技术问题，本专利技术的技术方案是：一种应用上述测量电子元件通断的方法进行通断测量的设备，包括测量电路，所述测量电路包括与电源电连接的比较电路，所述比较电路电连接有单片机，所述单片机电连接有指示电路；所述比较电路包括输出端与所述单片机电连接的比较器，所述比较器的正输入端电连接在电阻R1与电阻R2之间，所述电阻R2的两端并联有电位器；所述比较器的负输入端电连接在电阻R3与电阻R4之间，所述电子元件并联在所述电阻R3的两端；所述电阻R1和所述电阻R4均电连接所述电源且阻值相等，所述电阻R2和所述电阻R3均接地且阻值相等。其中，所述单片机通过串行接口连接有测试电脑。其中，所述电子元件通过分接电路并联在所述电阻R3的两端，所述分接电路包括多个继电器，各所述继电器的两个常开触点分别串接在所述电子元件需要测量通断的部件的两端与所述电阻R3的两端，各所述继电器的线圈均电连接所述单片机。其中，所述指示电路包括与所述继电器数量相等的指示灯及一个蜂鸣器。采用了上述技术方案后，本专利技术的有益效果是：由于本专利技术测量电子元件通断的方法施加在待测电子元件两端的测量电压为0.05V～0.1V，0.05V～0.1V的测量电压能够有效的抗击外界的干扰，能够准确的测得电子元件通断，同时此测量电压远远低于一些低压电子器件和芯片的额定电压，不会对这些低压电子器件和芯片造成损坏。故本专利技术的测量方法在准确测量电子元件通断的同时不会对其它器件造成损坏，保证和待测电子产品的可靠性及使用寿命。由于将电子元件串接在比较器的负输入端与地之间，在比较器的正输入端与地之间串接有电位器，并在电位器两端施加与测量电压相等的电压；将电位器的阻值调节为测量阈值。加入了比较器和电位器后，通过调节电位器可以将电子元件通断的测量量化为具体的电阻值，例如：将电位器的阻值调节为10Ω，当待测电子元件的阻值大于等于10Ω时，比较器无输出，则电子元件为断；当电子元件的阻值小于10Ω时，则电子元件为通，能够更加准确的检测出虚焊及接触不良的情况，测量得更加准确，测量精度高。由于单片机连接有测试电脑，并将测量结果传输给测试电脑，将测量结果传输给测试电脑进行存储记录，实现了测量过程的实时监控及对待测电子元件的追踪，提高了测量工序的规范性，大大的提高了工作效率，降低了测量成本。由于本专利技术测量电子元件通断的设备包括与电源电连接的比较电路，比较电路电连接有单片机，单片机电连接有指示电路；比较电路包括输出端与单片机电连接的比较器，比较器的正输入端电连接在电阻R1与电阻R2之间，电阻R2的两端并联有电位器；比较器的负输入端电连接在电阻R3与电阻R4之间，电子元件并联在电阻R3的两端；电阻R1和电阻R4均电连接电源且阻值相等，电阻R2和电阻R3均接地且阻值相等。本专利技术测量设备通过电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4的分压，使得施加到电位器和电子元件两端的电压相等且限制在0.05V～0.1V的范围内，在准确测量电子元件通断的同时不会对其它低压电子器件和芯片造成损伤，提高了待测电子产品的可靠性及使用寿命；同时，测量范围可通过调节电位器的阻值灵活选择，解决了现有的万用表欧姆档测量及5V电压加指示灯测量不能检测虚焊及接触不良的技术缺陷，大大的提高了测
量的准确性。由于单片机通过串行接口连接有测试电脑，测试电脑能够对测量过程进行实时监控，并存储记录测量信息，实现对电子元件的追踪，提高了测量工序的规范性，同时大大的提高了工作效率，降低了测量成本。综上所述，本专利技术测量电子元件通断的方法及设备解决了现有技术中电子元件的通断测量不准确，测量成本高，及易损坏其它器件等技术问题。本专利技术测量电子元件通断的方法及设备在准确测量电子元件通断的同时不会对其它器件造成损坏，同时工作效率高，测量成本低。附图说明图1是现有技术中测量电子元件通断的电路原理图；图2是本专利技术测量电子元件通断的设备的结构框图；图3是本专利技术测量电子元件通断的设备的电路原理图；图4是待测电子元件与本专利技术测量电子元件通断的设备的电连接示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，进一步阐述本专利技术。如图2和图3共同所示，一种测量电子元件通断的设备，包括测量电路及与测量电路通过串行接口通信连接的测试电脑。测量电路包括与电源电连接的比较电路，及与比较电路的输出端电连接的单片机U1，电片机U1电连接有指示电路，本实施方式优选单片机为Atmega16。如图3所示，比较电路包括输出端与单片机U1电连接的比较器J1，比较器J1的正输入端电连接有第一分压电路，第一分压电路包括串联在一起的电阻R1和电阻R2，比较器J1的正输入端电连接在电阻R1与电阻R2之间；比较器J1的负输入端电连接有第二分压电路，第二分压电路包括串本文档来自技高网...

【技术保护点】
测量电子元件通断的方法，其特征在于，在所述电子元件的两端施加电压值为0.05V～0.1V的测量电压。

【技术特征摘要】
1.测量电子元件通断的方法，其特征在于，在所述电子元件的两端施加电压值为0.05V～0.1V的测量电压。2.根据权利要求1所述的测量电子元件通断的方法，其特征在于，将所述电子元件串接在比较器的负输入端与地之间，在所述比较器的正输入端与所述地之间串接有电位器，并在所述电位器两端施加与所述测量电压相等的电压；将电位器的阻值调节为测量阈值；如所述比较器有输出则所述电子元件为通，所述比较器无输出则所述电子元件为断。3.根据权利要求2所述的测量电子元件通断的方法，其特征在于，将所述比较器的正输入端电连接在两分压电阻之间，并将所述电位器并联在串接于所述比较器的正输入端与所述地之间的所述分压电阻两端；将所述比较器的负输入端电连接在另两分压电阻之间，并将所述电子元件并联在串接于所述比较器的负输入端与所述地之间的所述分压电阻两端。4.根据权利要求3所述的测量电子元件通断的方法，其特征在于，所述比较器的输出端电连接有单片机，所述单片机根据所述比较器的输出信号控制指示灯或蜂鸣器动作。5.根据权利要求4所述的测量电子元件通断的方法，其特征在于，所述单片机连接有测试电脑，并将测量结果传输给所述测试电脑。6.根据权利要求2至5任一权利要求所述的测量电子元件通断的方法，其特征在于，所述电子元...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘群，韩国栋，陈林，刘文礼，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37