含有具有介晶基的化合物的混合物制造技术

本发明专利技术提供一种混合物，并提供含有该混合物的组合物以及使用组合物的光学各向异性体，所述混合物含有具有介晶基的化合物，且满足(式1)所表示的式，所述混合物在使用该化合物来构成组合物并制作光学各向异性体时难以产生涂膜凹陷，且在制成光学各向异性体时具有优异的取向性。1.0≤YI/Δn≤50.0  (式1)(式中，YI表示混合物的黄色度，Δn表示具有介晶基的化合物的折射率各向异性。)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及YI/Δn的值显示特定范围的混合物、含有其的组合物、通过将聚合性组合物进行聚合而得到的聚合物、通过将该聚合性组合物进行聚合而得到的光学各向异性体以及将该聚合性组合物进行聚合而得到的相位差膜，并且，涉及具有该光学各向异性体的显示装置、光学元件、发光装置、印刷物、光信息记录装置等。
技术介绍
包含具有聚合性官能团的化合物(聚合性化合物)的聚合性液晶组合物，作为光学各向异性体的构成构件有用，光学各向异性体例如作为偏光膜、相位差膜而被应用于各种各样的液晶显示器中。偏光膜、相位差膜可通过将聚合性液晶组合物涂布于基材，在借助取向膜等使聚合性液晶组合物发生了取向的状态下加热，或照射活性能量射线，将聚合性液晶组合物固化而得到，但存在如下问题：当将聚合性液晶组合物涂布于基材、进行加热时，在基材上产生聚合性液晶组合物的“涂膜凹陷”(专利文献1)。若产生涂膜凹陷，则涂膜的均匀性受损，会影响将涂膜聚合而得到的光学各向异性体的品质，并且，成品率的降低成为问题。对于用于光学各向异性体的聚合性液晶组合物，在大多情况下，为了满足所要求的光学特性、聚合速度、溶解性、熔点、玻璃化转变温度、聚合物的透明性、机械强度、表面硬度、耐热性以及耐光性，使用含有两种以上的聚合性化合物的聚合性组合物。此时，对于所使用的聚合性化合物，要求对其他特性不造成不良影响并对聚合性组合物带来良好的物性。该领域中，已知有各种各样的聚合性化合物，但这些聚合性化合物存在如下问题：在长期保存时，会发生生成聚合物成分等变质。若使用长期保存后的聚合性化合物来制作光学各向异性体，则涂膜时容易产生涂膜凹陷，此外，取向性等光学特性会降低。因此，要求即使在长期保存后也能够抑制聚合性液晶组合物的涂膜凹陷，且制成光学各向异性体时具有优异的取向性的液晶组合物的材料。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2006-39164号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题本专利技术所要解决的课题在于，提供在构成组合物而制作光学各向异性体时难以产生涂膜凹陷，且在制成光学各向异性体时具有优异的取向性的混合物，并且提供含有该混合物的组合物、以及使用组合物的光学各向异性体。用于解决课题的方法本专利技术提供一种混合物，其含有具有介晶基的化合物，且满足下述(式1)所表示的式，并提供含有该混合物的组合物、聚合物、光学各向异性体以及相位差膜。1.0≤YI/Δn≤50.0 (式1)(式中，YI表示混合物的黄色度，Δn表示具有介晶基的化合物的折射率各向异性。)专利技术的效果本专利技术的混合物在构成组合物而制作光学各向异性体时难以产生涂膜凹陷。此外，由于使用了含有本专利技术混合物的组合物的光学各向异性体具有优异的取向性，因此对于相位差膜等光学材料的用途是有用的。具体实施方式以下，对本专利技术的最佳方式进行说明。本专利技术中，“混合物”是指含有具有介晶基的化合物和在制造含有介晶基的化合物时不可避免地混入的杂质的物质。杂质是指混合物中的具有介晶基的化合物以外的成分。一般而言，具有介晶基的化合物经由精制工序而制得，但即使经由精制工序，也很难使得杂质完全为零，因此，实际上根据精制程度等的不同而含有不少的杂质。本专利技术中，为了与不含杂质的化合物本身明确区分，将这样含有杂质的化合物称为“混合物”。该混合物含有杂质，该混合物中的化合物的含量为80.0质量％以上，为90.0质量％以上，为95.0质量％以上，为98.0质量％以上。此外，本专利技术中，“组合物”是指含有一种或两种以上的上述混合物，进而根据需要含有不含介晶基的化合物、稳定剂、有机溶剂、阻聚剂、抗氧化剂、光聚合引发剂、热聚合引发剂以及表面活性剂等的物质。本专利技术的混合物包含单一的具有介晶基的化合物、以及杂质，与此相对，本专利技术的组合物在如下方面与之相区别：本专利技术的组合物含有一种混合物以及一种或两种以上的添加物，或者含有两种以上的混合物以及根据需要的添加剂。需要说明的是，以下，有时将聚合性组合物称为聚合性液晶组合物，但该“液晶”的意思是将聚合性组合物涂布、印刷、滴加于基材、或将其注入单元等时显示液晶性的情况，作为组合物，并非一定要显示液晶性。对于混合物，通过精制工序来去除杂质，但存在由于经由精制工序而导致收率变差这样的问题。作为其原因，可认为其原因之一是，由于经由精制工序而导致化合物会与混合物中的杂质一起被去除，或化合物被精制剂吸附。此外，还可以认为是如下这样的原因：在精制工序中诸多化合物被纳入杂质中，或当混合物含有具有聚合性基团的化合物时，混合物中所含有的微量杂质的聚合物成分彼此集聚，使过滤变得繁杂。若测定本专利技术的混合物的黄色度(YI)，则存在越是经过精制的混合物，其黄色度的值越小的倾向。本专利技术人等着眼于含有具有介晶基的化合物的混合物，进行了深入研究，结果发现，混合物的黄色度(YI)和化合物的折射率各向异性(Δn)的值，与收率具有关联性。此外，本专利技术人等对混合物的黄色度(YI)和化合物的折射率各向异性(Δn)的值进一步进行了研究，发现该值对于将含有该混合物的组合物涂布于基材时的涂膜凹陷的产生、使用该组合物来制成光学各向异性体时的取向性造成影响。即，本专利技术的混合物为满足(式1)所表示的式的混合物。1.0≤YI/Δn≤50.0 (式1)(式中，YI表示混合物的黄色度，Δn表示具有介晶基的化合物的折射率各向异性。)只要是满足上述(式1)的混合物，则由于精制的程度处于适当的范围，因而能够得到高收率。此外，只要是满足上述(式1)的混合物，则能够得到在制作光学各向异性体时在涂膜凹陷以及取向性方面良好的光学各向异性体。作为涂膜凹陷的原因，可以举出组合物中的聚合物成分量、化合物的分子结构等会造成影响的可能性，但认为上述范围内的混合物具有适度的聚合物成分以及化合物的刚度。此外，作为对取向性产生影响的原因，可以举出由化合物的一部分聚合而成的、具有与化合物同样的介晶骨架的聚合物的作用，但认为上述范围内的混合物中，聚合物成分均匀地分散，此外，作为介晶骨架的结构，其刚度不会过高，且聚合物成分中的介晶部位与化合物的介晶部位产生分子间相互作用，因而能够有效地得到因聚合物成分而产生的取向效果。此外，从获得高收率的观点出发，混合物的YI/Δn值优选为1.1以上，优选为1.5以上，优选为5.0以上，优选为10.0以上，优选为20.0以上，此外，优选为49.0以下，优选为48.0以下。从获得在涂膜凹陷以及取向性方面良好的产物的观点出发，混合物的YI/Δn值优选为48.0以下，优选为40.0以下。对于混合物的黄色度(YI)，将按20质量％的比例含有本专利技术混合物的四氢呋喃溶液作为测定对象物，使用分光光度计进行测定。需要说明的是，关于溶液，只要能够得到混合物的充分的溶解性，也可以使用四氢呋喃以外的溶液。可以举出例如环戊酮、氯仿等。将所得到的测定值换算成在作为测定对象物的材料溶液浓度为20％、使用光路长度为1cm的单元进行测定的情况，从而能够算出混合物的黄色度(YI)。此外，在本专利技术混合物呈难溶解性而难以溶解于溶液时，将按4质量％的比例含有该材料的溶液作为测定对象物，将该测定对象物放入光路长度5cm的透明单元中，使用分光光度计来进行测定。将所得到的测定值换算成在作为测定对象物的材料溶液浓度为4％、使用光路长度为5cm的单本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种混合物，其含有具有介晶基的化合物，且满足(式1)所表示的式，1.0≤YI/Δn≤50.0   (式1)式中，YI表示混合物的黄色度，Δn表示具有介晶基的化合物的折射率各向异性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.03.04 JP 2014-0418351.一种混合物，其含有具有介晶基的化合物，且满足(式1)所表示的式，1.0≤YI/Δn≤50.0 (式1)式中，YI表示混合物的黄色度，Δn表示具有介晶基的化合物的折射率各向异性。2.根据权利要求1所述的混合物，其中，具有介晶基的化合物具备聚合性基团。3.一种组合物，其含有权利要求1或权利要求2所述的混合物。4.一种组合物，其中，权利要求1或权利要求2所述的混合物的总含量为5.0质量％～90.0质量％。5.一种液晶组合物，其含有权利要求1或权利要求2所述的混合物。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：堀口雅弘，山本美花，桑名康弘，
申请(专利权)人：DIC株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP