一种经纱张力采集装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种经纱张力采集装置，其特征在于，包括顺次缠绕有经纱的固定后梁和可活动后梁，所述可活动后梁设置有后梁摆杆，后梁摆杆的一端顺次连接有杠杆、第一连杆和应变式传感器，所述后梁摆杆的另一端通过第二连杆与曲柄相连，所述应变式传感器与MCU相连，所述MCU还与显示器相连。优选，固定后梁和可活动后梁均呈圆形。提高检测的实时性，且可以进行张力补偿量的调节。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种经纱张力采集装置。
技术介绍
传统的经纱张力采集装置采用后梁位置检测方式，实时性不高，而且，无法对经纱张力的变化进行补偿调节，生产过程中带来一定的局限。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供一种经纱张力采集装置，提高检测的实时性，且可以进行张力补偿量的调节。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本专利技术通过以下技术方案实现：一种经纱张力采集装置，其特征在于，包括顺次缠绕有经纱的固定后梁和可活动后梁，所述可活动后梁设置有后梁摆杆，后梁摆杆的一端顺次连接有杠杆、第一连杆和应变式传感器，所述后梁摆杆的另一端通过第二连杆与曲柄相连，所述应变式传感器与MCU相连，所述MCU还与显示器相连。优选，固定后梁和可活动后梁均呈圆形。优选，固定后梁和可活动后梁半径相同。优选，所述应变式传感器是电阻应变片。本专利技术的有益效果是：经纱张力通过可活动后梁、摆杆、杠杆和第一连杆施加到应变式传感器上，采用非电量电测方法，可以快速的反映经纱张力的变化，另一方面，曲柄、第二连杆和摆杆组成了经纱张力补偿组件，对经纱开口过程中经纱张力的变化进行补偿调节，MCU控制显示器进行具体的经纱张力显示，使用更简单、灵活。附图说明图1是本专利技术一种经纱张力采集装置的结构示意图；附图的标记含义如下：1：经纱；2：应变式传感器；3：可活动后梁；4：固定后梁；5：曲柄；6：杠杆；7：第一连杆；8：第二连杆；9：摆杆；10：显示器；11：MCU。具体实施方式下面结合附图和具体的实施例对本专利技术技术方案作进一步的详细描述，以使本领域的技术人员可以更好的理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。一种经纱张力采集装置，如图1所示，包括顺次缠绕有经纱1的固定后梁4和可活动后梁3，所述可活动后梁3设置有后梁摆杆9，后梁摆杆9的一端顺次连接有杠杆6、第一连杆7和应变式传感器2，所述后梁摆杆9的另一端通过第二连杆8与曲柄5相连，所述应变式传感器2与MCU11相连，所述MCU11还与显示器10相连。优选，固定后梁4和可活动后梁3均呈圆形，固定后梁4和可活动后梁3半径相同。优选，所述应变式传感器2是电阻应变片。优选，所述后梁摆杆9的摆点设置在中心且和可活动后梁3的圆心重合。其中，所述曲柄5的半径小于可活动后梁3的半径。经纱张力通过可活动后梁、摆杆、杠杆和第一连杆施加到应变式传感器上，采用非电量电测方法，可以快速的反映经纱张力的变化，另一方面，曲柄、第二连杆和摆杆组成了经纱张力补偿组件，对经纱开口过程中经纱张力的变化进行补偿调节，MCU控制显示器进行具体的经纱张力显示，使用更简单、灵活。改变曲柄长度可以调节张力补偿量的大小，提高检测的实时性，且可以进行张力补偿量的调节。以上仅为本专利技术的优选实施例，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书及附图内容所作的等效结构或者等效流程变换，或者直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种经纱张力采集装置，其特征在于，包括顺次缠绕有经纱（1）的固定后梁（4）和可活动后梁（3），所述可活动后梁（3）设置有后梁摆杆（9），后梁摆杆（9）的一端顺次连接有杠杆（6）、第一连杆（7）和应变式传感器（2），所述后梁摆杆（9）的另一端通过第二连杆（8）与曲柄（5）相连，所述应变式传感器（2）与MCU（11）相连，所述MCU（11）还与显示器（10）相连。

【技术特征摘要】
1.一种经纱张力采集装置，其特征在于，包括顺次缠绕有经纱（1）的固定后梁（4）和可活动后梁（3），所述可活动后梁（3）设置有后梁摆杆（9），后梁摆杆（9）的一端顺次连接有杠杆（6）、第一连杆（7）和应变式传感器（2），所述后梁摆杆（9）的另一端通过第二连杆（8）与曲柄（5）相连，所述应变式传感器（2）与MCU（11）相连，所述MCU（11）还与显示器（10）相连。2.根据权利要求1所述的一种经纱张力采集装置，其特征在于，固定后梁（4）和可活...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋雪明，
申请(专利权)人：吴江金叶织造有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32