【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体生长设备的
,尤其是一种氮化铝单晶生长装置。
技术介绍
氮化铝晶体属于Ⅲ-Ⅴ半导体材料,是第三代宽禁带半导体材料,其直接禁带宽度为6.2eV,并具有高的热导率和化学稳定性,在高温、高频、高功率器件及紫外光电子器件等领域具有很好的应用前景;其和Ga、In可形成连续固溶体,该可制备具有带隙宽度可调节的晶体材料;又氮化铝单晶是氮化镓外延生长的理想衬底,所以氮化铝单晶具有很好的市场应用价值。在氮化铝体单晶生长实验中,主要用到的设备有感应炉和耐高温材料电阻炉,在使用感应炉加热时,有上提拉旋转和下提拉旋转两种,而氮化铝单晶生长是采用非石墨坩埚,不易做成上提拉旋转装置,一般是采用下提拉旋转实现对氮化铝单晶生长的温场控装置;而下提拉旋转一般不易实现对坩埚的控制,而是通过提拉旋转保温结构,从而间接实现对坩埚位置变换的控制,但该过程不可避免地造成保温结构的变化,不利于温场的维护。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题,本技术的目的在于提供一种单晶生长中使用的新型生长装置,尤其适用氮化铝体单晶生长。为实现上述目的本技术一种新型的单晶生长装置,该生长装置包括:发热筒,所述发热筒外包覆有保温筒,装有氮化铝粉料的坩埚设置在从底部深入发热筒内的旋转升降机构上。进一步,旋转升降机构包括:托盘、支撑杆和连接件,所述托盘位于发热筒内,所述坩埚置于托盘上,托盘下方可拆卸地连接有所述支撑杆,所述支撑杆沿发热筒底部的开孔伸出,所述连接件将支撑杆与外部的旋转升降装置连接。进一步,所述旋转升降装置为所述生长装置所处的加热炉的中轴。进一步,所述托盘上设置有容置所述坩埚的凹槽,所述凹槽的直径 ...
【技术保护点】
一种新型的单晶生长装置,其特征在于,该生长装置包括:发热筒,所述发热筒外包覆有保温筒,装有氮化铝粉料的坩埚设置在从底部深入发热筒内的旋转升降机构上。
【技术特征摘要】
1.一种新型的单晶生长装置,其特征在于,该生长装置包括:发热筒,所述发热筒外包覆有保温筒,装有氮化铝粉料的坩埚设置在从底部深入发热筒内的旋转升降机构上。2.如权力要求1所述的单晶生长装置,其特征在于,旋转升降机构包括:托盘、支撑杆和连接件,所述托盘位于发热筒内,所述坩埚置于托盘上,托盘下方可拆卸地连接有所述支撑杆,所述支撑杆沿发热筒底部的开孔伸出,所述连接件将支撑杆与外部的旋转升降装置连接。3.如权力要求2所述的单晶生长装置,其特征在于,所述旋转升降装置为所述生长装置所处的加热炉的中轴。4.如权力要求2所述的单晶生长装置,其特征在于,所述托盘上设置有容置所述坩埚的凹槽,所述凹槽的直径与坩埚外径相匹配,凹槽的深度在20mm以内,凹槽内带有倒角。5.如权力要求2所述的单晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:程章勇,陈颖超,
申请(专利权)人:北京华进创威电子有限公司,
类型:新型
国别省市:北京;11
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