一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，控制模块电路包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路解决了含有极大数量引脚的集成电路芯片的测量能力不足的问题，大大提高了测量效率；通过滚动轴的设计使测量的成本大大降低，测试的效率进一步提高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试电路，尤其是指一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路。
技术介绍
O/S测试（open short test），即开短路测试。集成电路芯片在封装过程中由于芯片和封装引脚之间是用很细的金线相连的，而在拉金线的过程中可能导致引脚的短路或者开路，故引入O/S测试模块测试芯片的开短路状况。这个模块通常都会被放测试程序的最前面或单独测试，通过OS测试检验IC的封装质量。目前开发和生产的开短路测试仪所能测试的引脚数一般最多在几十个左右，单个引脚的测试时间也要5ms左右，随着目前IC的集成度越来越高及封装技术的提升，需要测试的引脚数以及测试效率都已经不能被目前已有的开短路测试设备所满足。当测试pin数较多时（上千个），对测试仪的模块设计、线路设计以及编程控制都是一个不小的考验。中国专利公开号CN103543368A，公开日2014年1月29日，名称为“集成电路开/短路测试方法及测试机”的专利技术专利中公开了一种集成电路OS测试机，包括控制单元、电源模块、测试插座、扫描测试模块、指示模块及控制按钮；测试插座用于插放IC；扫描测试模块包括电流发生电路、开关控制电路以及电压测试电路，电流发生电路用于通过测试插座对IC的管脚提供定值电流，开关控制电路用于控制IC的管脚接地，电压测试电路用于测试管脚的电压；控制按钮用于控制测试机在扫描识别模式和测试模式间切换；控制单元用于在扫描识别模式下得到良品IC的管脚分布表，及在测试模式下对待测IC进行开/短路测试并将失效信息输出给指示模块进行失效信息指示。不足之处在于，该技术仍然仍然同一时间测试单个引脚，不能满足实际的测试需求。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术中多引脚芯片开短路测试时间较长，不能满足现有的引脚较多的集成电路芯片的实际测试需求的缺陷，提供一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路。本技术的目的是通过下述技术方案予以实现：一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，控制模块电路包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。开始测试时，电源给下位机、矩阵开关模块和测试电路供电，由下位机输出的地址以及控制信号数据控制选择具体所需要断开或闭合的矩阵开关芯片，输出的地址以及控制信号由矩阵开关芯片的控制信号输入端接收，然后对应的矩阵开关芯片的测试通道与测试电路连通进行测试。作为一种优选方案，矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。稳压电容的设计增加了整个电路的稳定性。作为一种优选方案，矩阵开关芯片的复位输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的的片选输入端设有一个稳压电容。稳压电容的设计增加了整个电路的稳定性。作为一种优选方案，控制模块电路还包括滚动轴，滚动轴外表面设有若干个用于固定矩阵开关芯片的插槽，矩阵开关芯片通过与插槽卡接与滚动轴固定连接，插槽沿着滚动轴轴向布置，插槽上设有用于使下位机与矩阵开关芯片的控制信号输入端相连接的连通装置；滚动轴内表面设有内花键，内花键滚动轴内还设有顶针，顶针上方设有一个电磁铁，顶针与电磁铁吸附时顶针末端远离内花键，顶针未与电磁铁吸附时顶针末端与内花键相接触，电磁铁还与控制装置电连接。控制模块电路不工作时，电磁铁不通电，顶针与内花键接触，花键轴被顶针卡住不会发生转动；当控制电路工作时，电磁铁通电，顶针被电磁铁吸附，顶针与内花键脱离，花键轴可以发生转动。此设计可以通过滚动轴的滚动使下位机与不同的矩阵开关芯片的控制信号输入端相连接，且下位机只需要与连通装置相连接而不需要与每个矩阵开关芯片的控制信号输入端相连接，通过滚动轴转动下位机就能自动与连通装置相连接，大大节约了成本，测试的效率进一步提高。本技术的有益效果是，用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路解决了含有极大数量引脚的集成电路芯片的测量能力不足的问题，大大提高了测量效率；通过滚动轴的设计使测量的成本大大降低，测试的效率进一步提高。本技术易于实现、实用性强。附图说明图1是本技术的一种电路原理连接图；图2是本技术滚动轴部分的结构是以图。其中：1、下位机，2、矩阵开关模块，3、子模块，4、矩阵开关芯片，5、控制信号输入端，6、测试通道，7、测试电路，8、滚动轴，9、内花键，10、顶针。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进一步描述。实施例：一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，其电路原理连接图如图1所示，包括下位机1、矩阵开关模块2和测试电路7，矩阵开关模块包括2个子模块3，每个子模块包括8个矩阵开关芯片4，每个矩阵开关芯片包括16个测试通道6，矩阵开关芯片的控制信号输入端5与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。矩阵开关芯片的复位输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的的片选输入端设有一个稳压电容。开始测试时，电源给下位机、矩阵开关模块和测试电路供电，由下位机输出的地址以及控制信号数据控制选择具体所需要断开或闭合的矩阵开关芯片，输出的地址以及控制信号由矩阵开关芯片的控制信号输入端接收，然后对应的矩阵开关芯片的测试通道与测试电路连通进行测试。在本实施例中，单个矩阵开关芯片包括16个测试通道，故单个矩阵开关芯片可以控制16个测试电路的通断。且一个矩阵开关模块包括2个子模块，每个子模块包括8个矩阵开关芯片，整个控制模块电路可以控制256个测试电路的通断。更多的，下位机可以控制多个矩阵开关模块，若下位机控制10个矩阵开关模块，则整个控制模块可以控制2560个测试电路的通断。用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路还包括滚动轴，滚动轴的结构示意图如图2所示，滚动轴外表面设有若干个用于固定矩阵开关芯片的插槽，插槽矩阵开关芯片通过与插槽卡接与滚动轴固定连接，插槽沿着滚动轴轴向布置，插槽上设有用于使下位机与矩阵开关芯片的控制信号输入端相连接的连通装置；滚动轴内表面设有内花键，内花键滚动轴内还设有顶针，顶针上方设有一个电磁铁，顶针与电磁铁吸附时顶针末端远离内花键，顶针未与电磁铁吸附时顶针末端与内花键相接触，电磁铁还与控制装置电连接。控制模块电路不工作时，电磁铁不通电，顶针与内花键接触，花键轴被顶针卡住不会发生转动；当控制电路工作时，电磁铁通电，顶针被电磁铁吸附，顶针与内花键脱离，花键轴可以发生转动。此设计可以通过滚动轴的滚动使下位机与不同的矩阵开关芯片的控制信号输入端相连接，且下位机只需要与连通装置相连接而不需要与每个矩阵开关芯片的控制信号输入端相连接，通过滚动轴转动下位机就能自动与连通装置相连接，大大节约了成本，测试的效率进一步提高。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，其特征是，包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，由电源供电，其特征是，包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，矩阵开关模块包括若干个子模块，每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接。2.根据权利要求1所述的一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，其特征是，矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。3.根据权利要求1所述的一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路，其特征是，矩阵开关芯片的复位输...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟锋浩，徐俊杰，吴志豪，梁晋，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33