本发明专利技术提供一种电子元件测试分类设备，有供料装置、收料装置、测试装置及输送装置，该供料装置容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件，收料装置容纳复数个不同等级的完测电子元件，测试装置设于测试区的上方，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂系自上方将供料装置处电性接点朝上的电子元件移载至位于第一交换区的测试移载臂，该测试移载臂则自下方承载电子元件并移载至测试区，将电子元件以电性接点朝上的方式与测试装置电性连接并执行测试作业，完测后再将电子元件移载至第二交换区，由出料移载臂自上方将电子元件移载至收料装置，并执行分类作业。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种利用电子元件电性接点朝上移载及测试的方式，以有效简化输送路径，并达到有效降低设备成本及提升测试产能的电子元件测试分类设备。
技术介绍
按，现今科技在不断研发与创新下，以往必需由许多大型电子电路结合才能完成的工作已完全由集成电路(integrated circuit，简称IC)所取代，由于IC在生产过程中乃经过多道的加工程序，因此为了确保产品品质，业者于IC制作完成后，均会进行电路测试作业，以检测出IC于制作过程中，是否遭受损坏，进而检测出不良品。请参阅图1，其是本申请人先前申请之中国台湾专利技术第I 468329号电子元件拾料单元及其应用的测试设备专利案，其测试设备系于机台10上配置有供料装置11、收料装置12、测试装置13及输送装置14，该供料装置11容纳复数个电性接点朝下的待测电子元件，收料装置12容纳复数个不同等级的完测电子元件，测试装置13设于测试区的下方，以对电性接点朝下的电子元件执行测试作业，该输送装置14设有一可作X-Y-Z三轴向移动的入料移载臂141及出料移载臂142，以分别于上方移载供料装置11的待测电子元件以及将完测电子元件移载至收料装置12分类放置，另于测试装置13的二恻分别设有Y-Z二轴向移动的第一下压臂143及第二下压臂144，以分别将待测电子元件移入测试装置13，并下压执行测试作业，为了使入料移载臂141上电性接点朝下的待测电子元件可转交给第一下压臂143或第二下压臂144移入至测试装置13，输送装置14另设有第一入料载台145及第二入料载台146，而供入料移载臂141自上方置入待测电子元件后，第一入料载台145及第二入料载台146再分别作X轴向移动至第一下压臂143及第二下压臂144的侧方，第一下压臂143及第二下压臂144接着分别作Y-Z二轴向移动，而可分别自上方将第一入料载台145及第二入料
载台146上的待测电子元件取出并移入至测试装置13下压执行测试作业；另为了使第一下压臂143及第二下压臂144上电性接点朝下的完测电子元件可转交给出料移载臂142移载至收料装置12分类放置，输送装置14另设有第一出料载台147及第二出料载台148，而于第一出料载台147及第二出料载台148分别作X轴向移动至第一下压臂143及第二下压臂144的侧方后，供第一下压臂143及第二下压臂144自上方置入完测电子元件，第一出料载台147及第二出料载台148再分别作X轴向移动，以供出料移载臂142自上方将第一出料载台147及第二出料载台148上的完测电子元件移载至收料装置12分类放置。该设计由于入料移载臂141、第一下压臂143、第二下压臂144及出料移载臂142都是自上方吸取移载电子元件，因此当入料移载臂141上的待测电子元件要转交给第一下压臂143或第二下压臂144移入测试装置13时，或者是第一下压臂143或第二下压臂144上的完测电子元件要转交给出料移载臂142移载至收料装置12时，都必须通过第一入料载台145及第二入料载台146，或者是第一出料载台147及第二出料载台148所提供转乘的作用，才能作电子元件的交换移载；然而，由于该输送装置14必须设有第一入料载台145、第二入料载台146、第一出料载台147及第二出料载台148，因此出现以下的问题：1.机构及输送路径较为复杂：该输入装置14由于必须设有可作X轴向移动的第一入料载台145、第二入料载台146、第一出料载台147及第二出料载台148，因此不仅机构较为复杂，且必须通过第一入料载台145、第二入料载台146、第一出料载台147及第二出料载台148作X轴向移动的移载，而增加输送路径的复杂度，而影响设备的成本。2.交换移载的次数及时间较多：该输入装置14的入料移载臂141由于必须通过第一入料载台145及第二入料载台146的移载，才能将待测电子元件转交给第一下压臂143或第二下压臂144移入测试装置13，以及第一下压臂143及第二下压臂144必须通过第一出料载台147或第二出料载台148的移载，才能将完测电子元件转交给出料移载臂142移载至收料装置12，因此不仅交换移载的次数较多，且造成交换移载的时间过长，而影响测试的产能。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种不仅
可有效降低设备成本，且可有效提升测试产能的测试分类设备，以有效改善
技术介绍
的缺点，此即为本专利技术的设计宗旨。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种电子元件测试分类设备，其特征在于，包括有：机台：设有测试区、第一交换区，以及第二交换区；供料装置：设于该机台上，容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件；收料装置：设于该机台上，容纳复数个不同等级的完测电子元件；测试装置：架设于该机台的测试区的上方，并设有测试板及探针，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业；输送装置：设于该机台上，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂自该供料装置处的上方将电性接点朝上的待测电子元件移载至该第一交换区，该测试移载臂移动于该机台的第一交换区、测试区及第二交换区之间，该测试移载臂自下方承载待测电子元件，并将该待测电子元件以电性接点朝上的方式执行测试作业，该出料移载臂将该完测电子元件移载至该收料装置并执行分类作业。所述的电子元件测试分类设备，该输送装置的入料移载臂设有至少一第一取放吸嘴，该入料移载臂并作X-Y-Z三轴向移动，将该待测电子元件移载至该第一交换区。所述的电子元件测试分类设备，该输送装置的出料移载臂设有至少一第二取放吸嘴，该出料移载臂并作X-Y-Z三轴向移动，自该第二交换区的上方将该完测电子元件移载至该收料装置。所述的电子元件测试分类设备，该输送装置设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，该第一测试移载臂及该第二测试移载臂分别设有至少一取放吸嘴或承座，并分别移动于该第一交换区、该测试区及该第二交换区之间。所述的电子元件测试分类设备，该机台的第一交换区及第二交换区分别设于该测试区的第一侧下方及第二侧下方，在该测试区的第一侧上方及第二侧上方分别设有第三交换区及第四交换区。所述的电子元件测试分类设备，该输送装置设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，该第一测试移载臂移动于该第一交换区、该测试区及该第二交换区之间，该第二测试移载臂则移动于该第三交换区、该测试区及该第四交换区之间。所述的电子元件测试分类设备，该入料移载臂将该待测电子元件分别移载至该第一交换区及该第三交换区。所述的电子元件测试分类设备，该出料移载臂分别自该第二交换区及该第四交换区的上方移载该完测电子元件。所述的电子元件测试分类设备，该机台上设有空盘装置，该空盘装置并以移盘器移载空料盘。所述的电子元件测试分类设备，该机台上设有对位装置，该对位装置设有复数个容置孔，在各容置孔的一侧设有推移件，以供该入料移载臂上的待测电子元件对位。与现有技术相比较，本专利技术具有的有益效果是：本专利技术提供一种电子元件测试分类设备，其系利用入料移载臂自上方将供料装置处电性接点朝上的电子元件交换移载至位于第一交换区的测试移载臂，该测试移载臂自下方承载电子元件并移载至测试区，将电子元件以电性本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子元件测试分类设备，其特征在于，包括有：机台：设有测试区、第一交换区，以及第二交换区；供料装置：设于该机台上，容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件；收料装置：设于该机台上，容纳复数个不同等级的完测电子元件；测试装置：架设于该机台的测试区的上方，并设有测试板及探针，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业；输送装置：设于该机台上，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂自该供料装置处的上方将电性接点朝上的待测电子元件移载至该第一交换区，该测试移载臂移动于该机台的第一交换区、测试区及第二交换区之间，该测试移载臂自下方承载待测电子元件，并将该待测电子元件以电性接点朝上的方式执行测试作业，该出料移载臂将该完测电子元件移载至该收料装置并执行分类作业。
【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试分类设备，其特征在于，包括有：机台：设有测试区、第一交换区，以及第二交换区；供料装置：设于该机台上，容纳复数个电性接点朝上的待测电子元件；收料装置：设于该机台上，容纳复数个不同等级的完测电子元件；测试装置：架设于该机台的测试区的上方，并设有测试板及探针，以对电性接点朝上的电子元件执行测试作业；输送装置：设于该机台上，该输送装置设有至少一入料移载臂、至少一出料移载臂及至少一测试移载臂，该入料移载臂自该供料装置处的上方将电性接点朝上的待测电子元件移载至该第一交换区，该测试移载臂移动于该机台的第一交换区、测试区及第二交换区之间，该测试移载臂自下方承载待测电子元件，并将该待测电子元件以电性接点朝上的方式执行测试作业，该出料移载臂将该完测电子元件移载至该收料装置并执行分类作业。2.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该输送装置的入料移载臂设有至少一第一取放吸嘴，该入料移载臂并作X-Y-Z三轴向移动，将该待测电子元件移载至该第一交换区。3.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该输送装置的出料移载臂设有至少一第二取放吸嘴，该出料移载臂并作X-Y-Z三轴向移动，自该第二交换区的上方将该完测电子元件移载至该收料装置。4.根据权利要求1所述的电子元件测试分类设备，其特征在于，该...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢旼达，张原龙，
申请(专利权)人：鸿劲科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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