头上浮控制方法、盘装置及其制造方法制造方法及图纸

技术编号:13771612 阅读:33 留言:0更新日期:2016-09-29 16:46
本发明专利技术提供头上浮控制方法、盘装置及其制造方法,头上浮控制方法包括以下步骤:在使头从盘上浮了的状态下,一边使头在盘的径向上移动一边检测头和盘的接触;在检测到头和盘的接触后增加头的上浮量;和在没有检测到头和盘的接触的状态持续后减小头的上浮量。

【技术实现步骤摘要】
本申请要求以美国临时专利申请62/131,785号(申请日:2015年3月11日)为在先申请的优先权。本申请通过参照该在先申请而包括在先申请的全部内容。
本专利技术公开的实施方式总体涉及头上浮控制方法、盘装置及其制造方法
技术介绍
硬盘装置在头相对于以高速旋转的磁盘上浮的状态下写入、读取数据。在盘的制造工序中,在磁盘的表面有时形成被称为介质突起(bump)(以下有时也简称为突起)的凸状缺陷。突起的尺寸是例如几百nm~几μm的宽度、几十nm的高度。在突起的高度比头的上浮量(flying height)大时,头碰到突起、头劣化而被损坏。此外,突起的部位不能记录数据。为了避免此类问题,在产品出厂前,检测磁盘上存在的突起、记录突起的位置、控制上浮量以在使用时头不会碰到突起。然而,出厂前的突起检测时的头的上浮量是一定的,在磁盘存在较大突起的情况下,头向突起的碰撞多发,头的劣化、损坏不能避免。为了避免该情况,可以考虑使突起检测时的上浮量比实际的读、写时的上浮量大(使头较高)。但是,在该情况下,磁盘和头的间隔变大,因此不能检测微小尺寸或者高度低的突起,检测的精度下降。
技术实现思路
本专利技术的实施方式提供连微小尺寸或高度低的突起也能检测的头上浮
控制方法、盘装置及其制造方法。实施方式的头上浮控制方法包括以下步骤:在使头从盘上浮了的状态下一边使头在盘的径向上移动一边检测头和盘的接触;在检测到头和盘的接触后增加头的上浮量;在没有检测到头和盘的接触的状态持续后,减小头的上浮量。附图说明图1是表示实施例涉及的磁盘装置的构成的一例的框图。图2是表示实施例的突起扫描的一例的流程图。图3是表示突起扫描时的上浮量的变化的一例的图。图4是表示突起扫描的其他例子的流程图。图5是其他例子的突起扫描时的上浮量的增加量的图。图6是表示其他例子的突起扫描时的上浮量的变化的一例的图。具体实施方式图1是表示实施方式涉及的磁盘装置的典型构成的框图。图1所示的磁盘装置具备:盘(磁盘)11;头(磁头)12;主轴马达(SPM)13;致动器14;驱动IC15;头IC16;和控制部20。盘11是磁记录介质,例如,在其一个面具备磁记录数据的记录面。盘11由SPM13来高速旋转。SPM13由从驱动IC15供给的电流(或电压)来驱动。盘11的记录面具备例如同心圆状的多个轨道(磁道)110。再有,盘11也可具备螺旋状的轨道。盘11还具备多个伺服区域111。多个伺服区域111在盘11的半径方向上放射状地、且在该盘11的圆周方向上以等间隔离散地配置。各轨道110内的相邻的伺服区域111之间作为数据区域112使用。各轨道110内的伺服区域111也被称为伺服帧。此外,由各轨道110内的伺服区域111和与该伺服区域111相邻的数据区域112所构成的区域也被称为伺服扇区。数据区域112具备多个数据扇区。在伺服区域111记录有伺服图形。伺服图形包括伺服标记、地址数据及成组数据(burst data,突发数据)。伺服标记包括用于识别对应的伺服扇区的特定的代码(图形信号)而构成。地址数据包括对应的轨道110的地址(即柱面地址)及对应的伺服扇区的地址(即伺服扇区地址)而构成。成组数据包括用于检测头12从对应的轨道110的例如中心线偏移的位置偏移(位置误差)的数据(所谓的相对位置数据)而构成。头12与盘11的记录面对应地配置。头12具有在从致动器14的臂140伸出的悬架141安装的滑块125。致动器14具有成为该致动器14的驱动源的音圈马达(VCM)142。VCM142由从驱动IC15供给的电流(或电压)驱动。头12通过致动器14由VCM142驱动而在盘11上(over)以在该盘11的半径方向上描绘圆弧的方式移动。在图1的构成中,图示了具备单张盘11的磁盘装置。但是,也可层叠配置多张盘11。此外,在图1的构成中,盘11在其一个面具备记录面。然而,盘11也可在其两面具备记录面且与该两记录面分别对应地配置头12。头12具备在滑块125埋入的写入元件121、读取元件122及头盘干涉(HDI:HeadDiskInterface)传感器123、加热器元件124。写入元件121用于向盘11写数据,读取元件122用于从盘11读数据。HDI传感器123及加热器元件124也可不配置于图1所示的位置。HDI传感器123电检测在该HDI传感器123(具备HDI传感器123的头12)和盘11之间作用的干涉(即相互作用)例如热干涉。HDI传感器123是例如具备未图示的磁阻效应型(MR)元件的接触检测传感器。HDI反映头12和盘11上的突起的接触或碰撞等现象。MR元件公知为阻抗值相对于温度的变化大的元件。HDI传感器123的温度与该HDI传感器123和盘11之间的热干涉(即热相互作用)的大小对应地变化。例如,在头12与突起接触时,在该头12的HDI传感器123和盘11之间产生热。于是,HDI传感器123的温度变化。HDI传感器123的MR元件的阻抗相应于该HDI传感器123的温度变化而变化。即、HDI传感器123的阻抗表
示在HDI传感器123和盘11之间产生的热干涉的大小。该热干涉的大小相应于与HDI传感器123相对的盘11的表面的状态而变化。即、HDI传感器123的阻抗相应于与该HDI传感器123相对的盘11的表面的状态而变化。于是,HDI传感器123用于检测盘11上的突起。HDI传感器123的MR元件在盘11的半径方向(以下称为盘半径方向)上具有比读取元件122大的宽度(以下称为HDI传感器宽度)。即、如果将读取元件122的盘半径方向的宽度(以下称为读取元件宽度)设为WRE、将HDI传感器宽度设为WHDIS,则WHDIS>WRE。在本实施方式中,WHDIS是WRE的十几倍。但是,在图1中,由于作图的情况,没有反映该读取元件宽度WRE及HDI传感器宽度WHDIS的不同。加热器元件124是滑块125的加热用线圈,用于控制头12的上浮量(flying height)。上浮量是盘11的表面和滑块125的前端部之间的距离。即、上浮量是头12上浮的状态下的头12离盘11的表面的高度。加热器元件124相应于从设置于头IC16内的头加热驱动器17供给的电流(或电压)来加热滑块125的前端部。滑块125的前端部相应于该加热而膨胀,使头12下降(使上浮量减小)。反之,在使加热器元件124的加热量减小时,滑块125的前端部收缩,使头12上升(使上浮量增加)。在初始时,头加热驱动器17向加热器元件124供给一定的电流(或电压),以将头12的上浮量设定为初始值。然后,在头加热驱动器17增减向加热器元件124供给的电流(或电压)时,滑块125的前端部的膨胀、收缩情况变化,使头12的上浮量增减。驱动IC15按照控制部20内的伺服控制器23的控制,来驱动SPM13和VCM142。头IC16也被称为头放大器,使头12的读取元件122读取的信号(即读取信号)放大。此外,头IC16将从控制部20(更具体地,是控制部20内的后述R/W信道21)输出的写入数据转换为写入电流,将该写入电流输出到头12的写入元件121。头IC16除了头加热驱动器17之外还具备HDI模块18。HDI模块18
通过向头12的HDI传感本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种头上浮控制方法,其特征在于,包括以下步骤:在使头从盘上浮了的状态下,一边使所述头在所述盘的径向上移动一边检测所述头和所述盘的接触;在检测到所述头和所述盘的接触后,增加所述头的上浮量;和在没有检测到所述头和所述盘的接触的状态持续后,减小所述头的上浮量。

【技术特征摘要】
2015.03.11 US 62/1317851.一种头上浮控制方法,其特征在于,包括以下步骤:在使头从盘上浮了的状态下,一边使所述头在所述盘的径向上移动一边检测所述头和所述盘的接触;在检测到所述头和所述盘的接触后,增加所述头的上浮量;和在没有检测到所述头和所述盘的接触的状态持续后,减小所述头的上浮量。2.根据权利要求1所述的头上浮控制方法,其特征在于,增加所述上浮量的步骤包括:将所述上浮量按一定值增加的步骤,减小所述上浮量的步骤包括:将所述上浮量按所述一定值减小的步骤。3.根据权利要求1所述的头上浮控制方法,其特征在于,增加所述上浮量的步骤包括:使所述上浮量按与所述头和所述盘的接触检测的频率对应的可变值增加的步骤,所述可变值在所述接触检测的频率高时较大,在所述接触检测的频率低时较小。4.根据权利要求1所述的头上浮控制方法,其特征在于,增加所述上浮量的步骤包括:使所述上浮量,按与检测到所述头和所述盘的接触的盘上的半径方向的距离的间隔对应的可变值增加的步骤,所述可变值在所述间隔短时较大,在所述间隔长时较小。5.根据权利要求1所述的头上浮控制方法,其特征在于,减小所述上浮量的步骤包括:在没有检测到所述头和所述盘的接触的状态在头移动预定距离期间持续后,将所述上浮量减小预定量的步骤。6.根据权利要求5所述的头上浮控制方法,其特征在于,所述预定距离在每次所述上浮量减小时变短。7.根据权利要求5所述的头上浮控制方法,其特征在于,所述预定量在每次所述上浮量减小时变大。8.根据权利要求1所述的头上浮控制方法,其特征在于,还包括:向所述盘写入伺服图形的步骤,将检测所述接触的步骤、增加所述上浮量的步骤、减小所述上浮量的步骤,与写入所述伺服图形的步骤并行地进行。9.根据权利要求1所述的头上浮控制方法,其特征在于,还包括:在检测到所述接触后打开标志的步骤;在所述头的上浮量回到初始值时关闭所述标志的步骤;和在所述标志的关闭后保存所述头和所述盘的接触检测的结果的步骤,在所述标志打开期间,仅进行一次增加所述头的上浮量的步骤。10.一种盘装置的制造方法,该盘装置具备头及盘,该制造方法的特征在于,包括以下步骤:在使所述头从所述盘上浮了的状态下使所述头在所述盘的径...

【专利技术属性】
技术研发人员:秋谷慎介
申请(专利权)人:株式会社东芝
类型:发明
国别省市:日本;JP

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