维氏硬度计及硬度测量修正方法技术

技术编号:13740101 阅读:127 留言:0更新日期:2016-09-22 17:03
本发明专利技术提供了一种维氏硬度计,所述维氏硬度计包括机架,所述机架包括上下间隔设置的上架体和下架体、连接上架体和下架体的连接体及储物间室,所述储物间室内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块,所述下架体上设置有向上突伸的升降台,所述升降台的顶端设置有用以搁置待测物品的搁物台,所述上架体上设置有朝向所述搁物台突伸的压头、用以驱动所述压头的驱动装置,本发明专利技术还提供一种硬度测量修正方法,使用上述维氏硬度计测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度值进行修正,获得实际硬度值。本发明专利技术的维氏硬度计使用方便,本发明专利技术的硬度检测修正方法,修正过程简单,修正结果精确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种维氏硬度计及硬度测量修正方法
技术介绍
维氏硬度计主要用于对微小、薄型试件和表面渗、镀处理后的零件及玛瑙、玻璃等脆性材料进行硬度测定。由于试验力很小,压痕也很小,试件的外观和使用性能都可以不受影响,因此得到了广泛的应用。然而,现有维氏硬度计在使用一段时间以后,因显微镜物镜的焦距偏移、放大倍数偏差或者加载力变化等问题,就会造成测量误差。有鉴于此,有必要对现有的维氏硬度计及硬度测量修正方法予以改进,以解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种维氏硬度计及硬度测量修正方法,以解决现有维氏硬度计使用一段时间以后产生误差的问题。为实现上述目的,本专利技术提供了一种维氏硬度计,所述维氏硬度计包括机架,所述机架包括上下间隔设置的上架体和下架体、连接上架体和下架体的连接体及储物间室,所述储物间室内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块,所述下架体上设置有向上突伸的升降台,所述升降台的顶端设置有用以搁置待测物品的搁物台,所述上架体上设置有朝向所述搁物台突伸的压头、用以驱动所述压头的驱动装置,所述维氏硬度计在测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度值进行修正,获得实际硬度值。作为本专利技术的进一步改进,所述标准硬度块包括硬度为hv2500的第一标准硬度块和硬度为hv600的第二标准硬度块。作为本专利技术的进一步改进,所述上架体还设置有内置CCD图像采集系统的显微镜物镜。作为本专利技术的进一步改进,所述机架内部设置有存储模块和处理模块。本专利技术还提供一种硬度测量修正方法,所述硬度测量修正方法包括如下步骤:使用上述的维氏硬度计,将第一标准硬度块放置在搁物台上,控制升降台升高到预设位置;控制驱动装置驱动所述压头以预定的加载力压在所述第一标准硬度块上,持续30秒以在第一标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头远离第一标准硬度块;使显微镜物镜对准第一标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,并储存到存储模块,处理模块测量图像的对角线长度,记为Lt1;控制升降台下降到原位置,并取走第一标准硬度块;将第二标准硬度块放置在搁物台上,控制升降台升高到预设位置;控制驱动装置驱动所述压头以预定的加载力压在所述第二标准硬度块上,持续30秒以在第二标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头远离第二标准硬度块;使显微镜物镜对准第二标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,并储存到存储模块,处理模块测量图像的对角线长度,记为Lt2;控制升降台下降到原位置,并取走第二标准硬度块;通过处理模块处理获取的Lt1和Lt2获得修正放大系数A和修正偏移量B。作为本专利技术的进一步改进,利用公式A=(Lt1/Ld1-Lt2/Ld2)/(Lt1-Lt2)和B=Lt1/Ld1-(Lt1/Ld1-Lt2/Ld2)*Ld1/(Ld1-Ld2)求出修正放大系数A和修正偏移量B,其中,Ld1为硬度hv2500对应维氏硬度值表中对角线长度,Ld2为硬度hv600对应维氏硬度值表中对角线长度。作为本专利技术的进一步改进,利用公式K=ALn+B求出修正系数K,其中Ln为利用所述维氏硬度计测量所述待测物品上压出的图像的对角线长度;利用维氏硬度值表查出对应对角线长度为Ln的硬度值HV,利用公式HVn=K*HV,求出实际硬度值HVn。本专利技术的有益效果是:本专利技术的维氏硬度计,通过设置储物间室,并在储物间室内设置硬度不同的标准硬度块,从而可以在测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度进行修正,获得实际硬度值,检测精确,本专利技术的硬度检测修正方法,修正过程简单,修正结果精确。附图说明图1是本专利技术维氏硬度计的正面结构示意图;图2是本专利技术维氏硬度计的侧面结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述。如图1至图2所示,本专利技术的维氏硬度计100包括机架10。所述机架10包括上下间隔设置的上架体1和下架体2、连接上架体1和下架体2的连接体3及储物间室4。所述机架10内部设置有存储模块(未图示)和处理模块(未图示)。所述存储模块用以储存数据,所述处理模块用以对数据进行处理。所述下架体2上设置有向上突伸的升降台21,所述升降台21的顶端设置有用以搁置待测物品200的搁物台22。所述上架体1上设置有朝向所述搁物台22突伸的压头11、用以驱动所述压头11的驱动装置(未图示)、内置CCD图像采集系统(未图示)的显微镜物镜12。所述上架体1上还设有操作面板13和显示面板14,所述显示面板14用以显示检测结果,所述操作面板13上设有按键,用以控制检测过程。所述压头11用以挤压待测物品200以在待测物品200上压出图像,所述显微镜物镜12用以采集图像。所述储物间室4可以设置在所述上架体1、下架体2或者连接体3上任意位置,所述储物间室4内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块。所述标准硬度块包括硬度为hv2500的第一标准硬度块(未图示)和硬度为hv600的第二标准硬度块(未图示)。大部分待测物品200的硬度在hv600~hv2500指间,故选择这样的第一标准硬度块和第二标准硬度块,可以保证修正的结果准确。所述维氏硬度计100在测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品200获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度进行修正,输出实际硬度。具体硬度测量修正方法包括如下步骤:使用上述维氏硬度计100,将第一标准硬度块放置在搁物台22上,控制升降台21升高到预设位置;控制驱动装置驱动所述压头11以预定的加载力压在所述第一标准硬度块上,持续30秒以在第一标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头11远离第一标准硬度块;使显微镜物镜12对准第一标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,并储存到存储模块,处理模块测量图像的对角线长度,记为Lt1;控制升降台21下降到原位置,并取走第一标准硬度块;将第二标准硬度块放置在搁物台22上,控制升降台21升高到预设位置;控制驱动装置驱动所述压头11以预定的加载力压在所述第二标准硬度块上,持续30秒以在第二标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头11远离第二标准硬度块;使显微镜物镜12对准第二标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,并储存到存储模块,处理模块测量图像的对角线长度,记为Lt2;控制升降台21下降到原位置,并取走第二标准硬度块;通过处理模块处理获取的Lt1和Lt2获得修正放大系数A和修正偏移量B。利用公式求修正放大系数A和修正偏移量B,A=(Lt1/Ld1-Lt2/Ld2)/(Lt1-Lt2)和B=Lt1/Ld1-(Lt1/Ld1-Lt2/Ld2)*Ld1/(Ld1-Ld2),其中,Ld1为硬度hv2500对应维氏硬度值表中对角线长度,Ld2为硬度hv600对应维氏硬度值表中对角线长度。利用公式K=ALn+B求出修正系数K,其中Ln为利用所述维氏硬度计100测量所述待测物品200上压出的图像的对角线长度;利用维氏硬度值表查出对应对角线长度为Ln的硬度值HV,利用公式HVn=K*HV,求出实际硬度值本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种维氏硬度计,其特征在于:所述维氏硬度计包括机架,所述机架包括上下间隔设置的上架体和下架体、连接上架体和下架体的连接体及储物间室,所述储物间室内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块,所述下架体上设置有向上突伸的升降台,所述升降台的顶端设置有用以搁置待测物品的搁物台,所述上架体上设置有朝向所述搁物台突伸的压头、用以驱动所述压头的驱动装置,所述维氏硬度计在测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度值进行修正,获得实际硬度值。

【技术特征摘要】
1.一种维氏硬度计,其特征在于:所述维氏硬度计包括机架,所述机架包括上下间隔设置的上架体和下架体、连接上架体和下架体的连接体及储物间室,所述储物间室内放置有至少两块硬度不同的标准硬度块,所述下架体上设置有向上突伸的升降台,所述升降台的顶端设置有用以搁置待测物品的搁物台,所述上架体上设置有朝向所述搁物台突伸的压头、用以驱动所述压头的驱动装置,所述维氏硬度计在测量时,先通过检测标准硬度块获得修正系数,再检测待测物品获得检测硬度,通过修正系数对检测硬度值进行修正,获得实际硬度值。2.根据权利要求1所述的维氏硬度计,其特征在于:所述标准硬度块包括硬度为hv2500的第一标准硬度块和硬度为hv600的第二标准硬度块。3.根据权利要求2所述的维氏硬度计,其特征在于:所述上架体还设置有内置CCD图像采集系统的显微镜物镜。4.根据权利要求3所述的维氏硬度计,其特征在于:所述机架内部设置有存储模块和处理模块。5.一种硬度测量修正方法,其特征在于:所述硬度测量修正方法包括如下步骤:使用如权利要求4所述的维氏硬度计,将第一标准硬度块放置在搁物台上,控制升降台升高到预设位置;控制驱动装置驱动所述压头以预定的加载力压在所述第一标准硬度块上,持续30秒以在第一标准硬度块上压出图像,控制驱动装置驱动所述压头远离第一标准硬度块;使显微镜物镜对准第一标准硬度块上压出的图像,通过CCD图像采集系统采集图像,...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵洪涛
申请(专利权)人:启东雷泰精密仪器有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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