一种基于微波的水分测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了一种基于微波的水分测量装置，该装置包括：发射天线，用于发射微波信号至所要测量的样品；接收天线，用于接收穿透样品的微波信号；C型框架，连接发射天线和接收天线，其中，发射天线位于C型框架的下端，接收天线位于C型框架的上端，且发射天线和接收天线中心同轴对称设置。本实用新型专利技术通过C型框架结构的保证了发射天线与接收天线严格对称，使其不会受到震动的干扰，进而保证了测量结果的准确性，同时该一体化设计也易于安装。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量
，具体来说，涉及一种基于微波的水分测量装置。
技术介绍
在很多生产过程中，对样品(物料)水分控制有着精确的要求，如：钢铁行业烧结厂，球团车间及粮食行业的饲料厂等。但是，实现水分精确控制是建立在水分准确测量的基础上。现有技术中，物料水分的检测方法中，常用的检测方法包括远红外线检测法和微波检测法，其中，在红外线检测法中，红外测量的发射端与接收端位于同一侧，该方法测量的水分为表层水，不能准确地检测出物质中心部水分含量，并且远红外线检测法受物质表面状况(如表面温度、光线)影响较大，使之测量的精确度不高；在微波检测法中，微波测量装置中的发射天线与接收天线分别单独安装，该安装方式复杂且容易受到震动发生位置偏移，从而造成测量的水分含量不精确。针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中的问题，本技术提出一种基于微波的水分测量装置。本技术的技术方案是这样实现的：该基于微波的水分测量装置包括：发射天线，用于发射微波信号至所要测量的样品；接收天线，用于接收穿透样品的微波信号；C型框架，连接发射天线和接收天线，其中，发射天线位于C型框架的下端，接收天线位于C型框架的上端，且发射天线和接收天线中心同轴对称设
置。优选地，C型框架包括：用于固定料位计的料位计安装臂，料位计安装臂连接接收天线。优选地，C型框架进一步包括：连接至平行设置的上端和下端的立臂。优选地，立臂与上端和下端垂直设置。优选地，立臂包括：用于固定数据控制柜的四个连接杆。优选地，数据控制柜包括以下至少之一：微波信号源、微波信号解调器、数据处理单元、数据显示单元。优选地，用于提供微波信号的微波信号源，微波信号源连接发射天线。优选地，用于解调接收天线的发送的微波信号的微波信号解调器，微波信号解调器连接接收天线。优选地，用于处理微波信号解调器发送的微波信号和料位计发送的信号的数据处理模块，数据处理模块连接微波信号解调器和料位计。优选地，用于显示样品的含水量的数据显示模块，数据显示模块连接数据处理模块。本技术通过C型框架结构的保证了发射天线与接收天线严格对称，使其不会受到震动的干扰，进而保证了测量结果的准确性，同时该一体化设计也易于安装。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是根据本技术实施例的基于微波的水分测量装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实
施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。根据本技术的实施例，提供了一种基于微波的水分测量装置。如图1所示，根据本技术实施例的基于微波的水分测量装置包括：发射天线1，用于发射微波信号至所要测量的样品；接收天线2，用于接收穿透样品的微波信号；C型框架3，连接发射天线1和接收天线2，其中，发射天线1位于C型框架3的下端，接收天线2位于C型框架3的上端，且发射天线1和接收天线2中心同轴对称设置，即该发射天线1和接收天线2关于同一中心轴对称设置，该中心轴的方向与C型框架3的方向平行，从而保证了发射天线1和接收天线2的严格对称。在一个优选的是实例中，C型框架3包括：料位计安装臂(未示出)、立臂(未示出)、四个连接杆(未示出)，其中，该料位计安装臂与接收天线1连接，用于固定料位计4，该料位计用于测量样品的厚度信息；该立臂连接C型框架3的上端和下端，如图1所示，该C型框架的上端和下端平行设置，且该立臂垂直于该上端(或下端)，同时，立臂和上端(或下端)的连接方式可以选择焊接或螺栓连接，此外，该立臂上存在四个连接杆，四个连接杆均存在空隙，该空隙用于实现数据控制柜的固定，从而使得该数据控制柜不会受到外界震动等不稳定因素的影响，此外，该立臂上也存在一个开孔，该开孔用于通过数据控制柜、接收天线等的线路。同时，样品传送带(未示出)位于接收天线的下方，且该传送带位于发射天线的上方，同时，该接收天线的垂直投影位于样品传送带的中心区域。在一个优选的是实例中，数据控制柜(未示出)可调节立臂的高度，从而可以根据样品的厚度对应地调节立臂的高度，进而可以满足样品不同厚度的需求，该数据控制柜至少包括：微波信号源(未示出)、微波信号解调器(未示出)、数据处理单元(未示出)、数据显示单元(未示出)，其中，该微波信号源用于提供微波信号，即该微波信号源与发射天线1连接，为发射天线1提供微波信号；该微波信号解调器用于解调接收天线2的微波信号，即该微波信号解调器与接收天线2连接；该数据处理模块用于处理微波信号解调器解调后的
信号和料位计4发送的数据信号，从而根据上述2种信号精确的测得样品的含水量，即该数据处理模块与微波信号解调器连接，同时，该数据处理模块与料位计4连接；该显示模块用于将数据处理模块测得的水分含量进行显示，该显示方式可通过百分比的方向显示，即该显示模块与数据处理模块连接。综上所述，借助于本技术的上述技术方案，通过C型框架结构的保证了发射天线与接收天线严格对称，使其不会受到震动的干扰，进而保证了测量结果的准确性，同时该一体化设计也易于安装。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于微波的水分测量装置，其特征在于，包括：发射天线，用于发射微波信号至所要测量的样品；接收天线，用于接收穿透所述样品的微波信号；C型框架，连接所述发射天线和所述接收天线，其中，所述发射天线位于所述C型框架的下端，所述接收天线位于所述C型框架的上端，且所述发射天线和所述接收天线中心同轴对称设置。

【技术特征摘要】
1.一种基于微波的水分测量装置，其特征在于，包括：发射天线，用于发射微波信号至所要测量的样品；接收天线，用于接收穿透所述样品的微波信号；C型框架，连接所述发射天线和所述接收天线，其中，所述发射天线位于所述C型框架的下端，所述接收天线位于所述C型框架的上端，且所述发射天线和所述接收天线中心同轴对称设置。2.根据权利要求1所述的水分测量装置，其特征在于，所述C型框架包括：用于固定料位计的料位计安装臂，所述料位计安装臂连接所述接收天线。3.根据权利要求2所述的水分测量装置，其特征在于，所述C型框架进一步包括：连接至平行设置的所述上端和所述下端的立臂。4.根据权利要求3所述的水分测量装置，其特征在于，所述立臂与所述上端和所述下端垂直设置。5.根据权利要求3所述的水分测量装置，其特征在于，所述立臂包括：用于固定数据控制柜的四个连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：章社砥，
申请(专利权)人：章社砥，
类型：新型
国别省市：北京;11